一种约束变量的分类方法、电子设备及存储介质技术

本发明专利技术涉及芯片验证技术领域，特别是涉及一种约束变量的分类方法、电子设备及存储介质，其通过获取构成约束问题的N个约束表达式，遍历每个约束表达式，对每个约束表达式中的每个约束变量进行预处理，得到e的候选基础变量集Bc和候选结果变量集Rc；根据候选基础变量集合Bc和候选结果变量集合Rc获取中间变量集合M；根据Bc和M获取基础变量集合B；根据Rc和M获取结果变量集合R；将B、M和R按顺序输入约束求解器，使约束求解器按照分类顺序求解，能够缩减问题规模，避免不必要的计算消耗，提升求解效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片验证，特别是涉及一种约束变量的分类方法、电子设备及存储介质。

技术介绍

1、芯片验证领域中，激励发生器是验证环境的重要部件，也称为驱动器（driver）、总线功能模型（bus function model,bfm）、行为模型（behavioral）或发生器（generator）。激励发生器的主要职责是模拟与dut相邻设计的接口协议。与真正的设计相比，激励发生器只关注如何模拟接口信号，使其能够以真实的接口协议来发送激励给dut。

2、在eda中验证芯片的过程中，有很多问题可以转化为约束问题，从而采用通用约束求解器对约束问题进行求解。其中，约束问题，也称为约束可满足性问题（constraintsatisfaction problem,csp），约束问题的求解技术在硬件验证、软件自动化测试和一系列常见编程语言中有着广泛的应用。

3、随着科技的发展，约束问题也越来越复杂，对于约束求解器来说，约束问题的求解复杂度较高，约束求解器在对所有变量求解的过程中额外的计算消耗较大，求解效率低。因此亟需一种能够降低约束问题求解复杂度，提本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种约束变量的分类方法，其特征在于，所述方法应用于芯片验证领域，包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，S2还包括当遍历至ei时，对ei中的每个约束变量进行预处理的步骤：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，S22还包括：

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，S221和S222之间还包括：

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，S22还包括：

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，S2244包括：

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，S2244还包括：

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【技术特征摘要】

1.一种约束变量的分类方法，其特征在于，所述方法应用于芯片验证领域，包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，s2还包括当遍历至ei时，对ei中的每个约束变量进行预处理的步骤：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，s22还包括：

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，s221和s222之间还包括：

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，s22还包括：

6.根据权利要求5所述的方法，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：石光辉，倪恩志，陈颖，
申请(专利权)人：成都融见软件科技有限公司，
类型：发明
国别省市：