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本发明涉及芯片验证技术领域，特别是涉及一种约束变量的分类方法、电子设备及存储介质，其通过获取构成约束问题的N个约束表达式，遍历每个约束表达式，对每个约束表达式中的每个约束变量进行预处理，得到e的候选基础变量集Bc和候选结果变量集Rc；根据候...
该专利属于成都融见软件科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都融见软件科技有限公司授权不得商用。

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