一种刀具CVD涂层的中温层晶粒尺寸的测试方法技术

技术编号:41291714 阅读:34 留言:0更新日期:2024-05-13 14:42
本发明专利技术公开了一种刀具CVD涂层的中温层晶粒尺寸的测试方法,涉及晶粒尺寸测试技术领域,该方法首先将刀具样品打磨抛光得到较为平整、平滑的表面,然后将样品置于特定的酸性溶液中,一段时间后取出得到T i CN被腐蚀处理后的样品,将处理后的样品放入扫描电镜观察,在背散射镜头下,得到衬度较大,晶界较为明显的图片,然后将照片导入到测试程序中,通过截距法画线得到晶界和截距的交点坐标,计算出截距的长度,最后换算出涂层的晶粒尺寸,整个过程方便简单、直接快速、且检测结果十分准确。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及晶粒尺寸测试,具体涉及一种刀具cvd涂层的中温层晶粒尺寸的测试方法。


技术介绍

1、随着金属材料性能的提升,金属材料的应用范围得到了空前的拓展,其在石油化工、航空航天和医学仪器等领域均被得到广泛的使用。对所选材料在强度、韧性和使用寿命等性能方面的要求也是越来越高。探索晶体结构与性能之间的关系是材料科学中重要的基础性研究课题。

2、cvd涂层刀具具有硬度高、耐磨性能好、化学性能稳定、耐热耐氧化等特点而得到广泛的应用。cvd刀具涂层由氧化铝层和中温层构成。氧化铝的晶粒尺寸的测试方法由华锐精密工具公司申请的专利技术专利做出了详细的说明,而中温层的晶粒尺寸测试方法至今没有系统的介绍。

3、cvd刀具涂层中温层的主要成分为ticn,中温层决定了cvd刀具涂层的耐磨性能,而ticn的碳氮比和晶粒大小决定了最终的使用性能。材料的微观结构决定宏观的力学性能,不同的晶粒尺寸可以带来宏观性能的巨大差异。

4、在现有技术中,cvd涂层中温层为850℃下沉积的ticn涂层,cvd刀具涂层的中温层晶粒尺寸可以通过金相法、断口法、eb本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种刀具CVD涂层的中温层晶粒尺寸的测试方法,其特征在于,依次按照以下步骤进行:

2.根据权利要求1所述的刀具CVD涂层的中温层晶粒尺寸的测试方法,其特征在于,在步骤S1中,所述刀具样品的CVD涂层体系的截面需打磨至1900-2100#。

3.根据权利要求1所述的刀具CVD涂层的中温层晶粒尺寸的测试方法,其特征在于,在步骤S1中,所述刀具样品的CVD涂层体系的截面需抛光至表面粗糙度为Ra(0.01-0.03)。

4.根据权利要求1所述的刀具CVD涂层的中温层晶粒尺寸的测试方法,其特征在于,在步骤S2中,所述酸性溶液为浓盐酸。p>

5.根据权...

【技术特征摘要】

1.一种刀具cvd涂层的中温层晶粒尺寸的测试方法,其特征在于,依次按照以下步骤进行:

2.根据权利要求1所述的刀具cvd涂层的中温层晶粒尺寸的测试方法,其特征在于,在步骤s1中,所述刀具样品的cvd涂层体系的截面需打磨至1900-2100#。

3.根据权利要求1所述的刀具cvd涂层的中温层晶粒尺寸的测试方法,其特征在于,在步骤s1中,所述刀具样品的cvd涂层体系的截面需抛光至表面粗糙度为ra(0.01-0.03)。

4.根据权利要求1所述的刀具cvd涂层的中温层晶粒尺寸的测试方法,其特征在于,在步骤s2中,所述酸性溶液为浓盐酸。

5.根据权利要求1所述的刀具cvd涂层的中温层晶粒尺寸的测试方法,其特征在于,在步骤s4中,所述image.open函数导入晶界的扫描电镜图像的处理程序为:首先在python3.x环境中导入pillow库、opencv-python库以及numpy库;随后使用pil库中的image类包含的open方法对扫描电镜图片进行导入;最后使用pil库中的im...

【专利技术属性】
技术研发人员:王栋周文豪周子尧高江雄肖旭凯
申请(专利权)人:株洲华锐精密工具股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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