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测试报告的缺陷补充方法、设备及存储介质技术

技术编号:41288677 阅读:7 留言:0更新日期:2024-05-11 09:37
本发明专利技术涉及数据处理领域,公开了一种测试报告的缺陷补充方法、设备及存储介质。该方法包括:检测到测试请求时,根据测试请求携带的测试用例对目标程序执行测试操作,得到测试结果;将测试结果填充至预设报告模板,得到测试报告,并检测测试报告是否存在报错信息;若测试报告存在报错信息,在测试报告中获取报错信息;对报错信息执行潜在缺陷分析操作,得到潜在缺陷信息;根据潜在缺陷信息所属的缺陷类型,执行重要程度的判断,得到潜在缺陷信息对应的重要程度指数;根据重要程度指数,将潜在缺陷信息填充至测试报告,得到缺陷报告。在本发明专利技术实施例中,可提高测试报告的参考价值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及数据处理领域,尤其涉及一种测试报告的缺陷补充方法、设备及存储介质


技术介绍

1、在软件开发过程中,自动化测试已成为确保软件质量的重要手段之一。然而,测试过程中发现的缺陷需要及时记录和提交至缺陷管理系统,以便开发人员进行修复。

2、传统的方法中,测试人员需要手动分析测试结果、识别缺陷并手动提交至缺陷管理系统。该方式局限性较大,某些缺陷可能涉及多个测试用例、模块或者组件之间的关联,手动记录方式无法分析这些关联性,从而导致测试报告的参考价值变低。


技术实现思路

1、本专利技术的主要目的在于解决测试报告的参考价值变低的技术问题。

2、本专利技术第一方面提供了一种测试报告的缺陷补充方法,所述测试报告的缺陷补充方法包括:

3、检测到测试请求时,根据所述测试请求携带的测试用例对目标程序执行测试操作,得到测试结果;

4、将所述测试结果填充至预设报告模板,得到测试报告,并检测所述测试报告是否存在报错信息;

5、若所述测试报告存在所述报错信息,在所述测试报告中获取所述报错信息;

6、对所述报错信息执行潜在缺陷分析操作,得到潜在缺陷信息;

7、根据所述潜在缺陷信息所属的缺陷类型,执行重要程度的判断,得到所述潜在缺陷信息对应的重要程度指数;

8、根据所述重要程度指数,将所述潜在缺陷信息填充至所述测试报告,得到缺陷报告。

9、可选的,在本专利技术第一方面的第一种实现方式中,所述根据所述潜在缺陷信息所属的缺陷类型,执行重要程度的判断,得到所述潜在缺陷信息对应的重要程度指数的步骤包括:

10、在预设缺陷类型中,判断出所述潜在缺陷信息所属的缺陷类型;

11、获取所述缺陷类型关联数字,得到所述潜在缺陷信息对应的重要程度指数。

12、可选的,在本专利技术第一方面的第二种实现方式中,所述根据所述重要程度指数,将所述潜在缺陷信息填充至所述测试报告,得到缺陷报告的步骤包括:

13、在所述测试报告设置第一区域和第二区域;

14、在所述重要程度指数大于等于预设指数时,将所述缺陷信息填充至所述第一区域;

15、在所述重要程度指数小于预设指数时,将所述缺陷信息填充至所述第二区域。

16、可选的,在本专利技术第一方面的第三种实现方式中,所述根据所述重要程度指数,将所述潜在缺陷信息填充至所述测试报告,得到缺陷报告的步骤包括:

17、根据自然语言技术,对所述潜在缺陷信息执行语言重组操作,得到所述潜在缺陷信息对应的描述信息;

18、根据所述重要程度指数,将所述描述信息填充至所述测试报告,得到缺陷报告。

19、可选的,在本专利技术第一方面的第四种实现方式中,所述对所述报错信息执行潜在缺陷分析操作,得到潜在缺陷信息的步骤包括:

20、调用预先训练的异常趋势预测模型,对所述报错信息执行潜在缺陷分析操作,得到潜在缺陷信息。

21、可选的,在本专利技术第一方面的第五种实现方式中,所述调用预先训练的异常趋势预测模型,对所述报错信息执行潜在缺陷分析操作,得到潜在缺陷信息的步骤之前,所述方法还包括:

22、检测到样本数据时,将所述样本数据中的预设报错信息和预设异常发展趋势数据进行一对一的关联,得到训练集;

23、根据所述训练集,对预设的神经网络模型执行模型训练操作,得到异常趋势预测模型。

24、可选的,在本专利技术第一方面的第六种实现方式中,所述在所述测试报告中获取所述报错信息的步骤包括:

25、根据关键字提取算法,在所述测试报告中获取被标记为失败状态的目标执行结果;

26、获取所述目标执行结果关联的所述报错信息。

27、可选的,在本专利技术第一方面的第七种实现方式中,所述根据所述重要程度指数,将所述潜在缺陷信息填充至所述测试报告,得到缺陷报告的步骤之后,所述方法还包括:

28、根据预设的ip地址,将所述缺陷报告上传至预设的缺陷管理系统。

29、本专利技术第二方面提供了一种测试报告的缺陷补充设备,包括:存储器和至少一个处理器,所述存储器中存储有指令,所述存储器和所述至少一个处理器通过线路互连;所述至少一个处理器调用所述存储器中的所述指令,以使得所述测试报告的缺陷补充设备执行上述的测试报告的缺陷补充方法。

30、本专利技术的第三方面提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质中存储有指令,当其在计算机上运行时,使得计算机执行上述的测试报告的缺陷补充方法。

31、在本专利技术实施例中,自动执行测试操作、生成测试报告、检测报错信息、分析潜在缺陷信息并填充至测试报告,提高了测试报告生成的效率和准确性。对于检测到的报错信息,测试报告的缺陷补充设备会执行潜在缺陷分析操作。潜在缺陷分析基于报错信息和程序代码,分析可能存在的缺陷类型和位置。通过潜在缺陷分析,可以发现潜在的缺陷信息,为后续的缺陷修复提供依据。在分析潜在缺陷信息后,测试报告的缺陷补充设备会根据缺陷类型进行重要程度的判断。重要程度判断基于缺陷的严重性、影响范围等因素,为缺陷修复提供优先级排序。通过重要程度判断,可以准确地对缺陷进行分类,为后续的缺陷修复提供便利。将潜在缺陷信息填充至测试报告,得到详细的缺陷报告。缺陷报告中包含了潜在缺陷信息的分析结果、重要程度判断等信息,使得测试报告的信息更加完整和准确。同时,通过将潜在缺陷信息与测试报告相结合,提高了测试报告的可读性和参考价值。

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【技术保护点】

1.一种测试报告的缺陷补充方法,其特征在于,所述测试报告的缺陷补充方法包括:

2.根据权利要求1所述的测试报告的缺陷补充方法,其特征在于,所述根据所述潜在缺陷信息所属的缺陷类型,执行重要程度的判断,得到所述潜在缺陷信息对应的重要程度指数的步骤包括:

3.根据权利要求1所述的测试报告的缺陷补充方法,其特征在于,所述根据所述重要程度指数,将所述潜在缺陷信息填充至所述测试报告,得到缺陷报告的步骤包括:

4.根据权利要求1所述的测试报告的缺陷补充方法,其特征在于,所述根据所述重要程度指数,将所述潜在缺陷信息填充至所述测试报告,得到缺陷报告的步骤包括:

5.根据权利要求1所述的测试报告的缺陷补充方法,其特征在于,所述对所述报错信息执行潜在缺陷分析操作,得到潜在缺陷信息的步骤包括:

6.根据权利要求5所述的测试报告的缺陷补充方法,其特征在于,所述调用预先训练的异常趋势预测模型,对所述报错信息执行潜在缺陷分析操作,得到潜在缺陷信息的步骤之前,所述方法还包括:

7.根据权利要求1所述的测试报告的缺陷补充方法,其特征在于,所述在所述测试报告中获取所述报错信息的步骤包括:

8.根据权利要求1所述的测试报告的缺陷补充方法,其特征在于,所述根据所述重要程度指数,将所述潜在缺陷信息填充至所述测试报告,得到缺陷报告的步骤之后,所述方法还包括:

9.一种测试报告的缺陷补充设备,其特征在于,所述测试报告的缺陷补充设备包括:存储器和至少一个处理器,所述存储器中存储有指令,所述存储器和所述至少一个处理器通过线路互连;

10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-8中任一项所述的测试报告的缺陷补充方法。

...

【技术特征摘要】

1.一种测试报告的缺陷补充方法,其特征在于,所述测试报告的缺陷补充方法包括:

2.根据权利要求1所述的测试报告的缺陷补充方法,其特征在于,所述根据所述潜在缺陷信息所属的缺陷类型,执行重要程度的判断,得到所述潜在缺陷信息对应的重要程度指数的步骤包括:

3.根据权利要求1所述的测试报告的缺陷补充方法,其特征在于,所述根据所述重要程度指数,将所述潜在缺陷信息填充至所述测试报告,得到缺陷报告的步骤包括:

4.根据权利要求1所述的测试报告的缺陷补充方法,其特征在于,所述根据所述重要程度指数,将所述潜在缺陷信息填充至所述测试报告,得到缺陷报告的步骤包括:

5.根据权利要求1所述的测试报告的缺陷补充方法,其特征在于,所述对所述报错信息执行潜在缺陷分析操作,得到潜在缺陷信息的步骤包括:

6.根据权利要求5所述的测试报告的缺陷补充方法,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:高建琼万正勇
申请(专利权)人:九科信息技术深圳有限公司
类型:发明
国别省市:

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