【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及终端设备性能测试领域，特别是涉及一种设备可靠性测试方法与测试装置。
技术介绍
1、常规的待测设备在进行高温高湿老化测试时，需要使用老化apk(androidpackage kit，安卓应用程序包)对待测设备的各种性能进行测试，具体包括：高负载cpu(中央处理单元)、高帧率渲染、flash io(输入输出)高负载压测、bt(蓝牙)/wifi(无线通信技术)/gps(全球定位系统)短距外设以及各种传感器件进行可靠性实验。通常，这种测试会在55摄氏度和90％湿度的恒温恒湿试验箱中进行，以模拟待测设备在恶劣环境下的使用情况。
2、然而，上述测试方法并没有考虑到待测设备在高温高湿的恶劣环境下时电气性能和物理性能可以承受的极端范围，这将导致待测设备电池在老化测试时的损坏，从而对待测设备老化性能测试的可靠性产生影响，且上述测试方法的测试范围较局限，测试周期较长，耗时耗力。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种设备可靠性测试方法与测试装置，当待测设备处于高温高湿的测试环境下时，对待测设备的电池状态进行监测，根据电池的状态进行不同的性能测试，实现对于电池的保护，并降低测试周期。
2、本专利技术提供一种设备可靠性测试方法，其特征在于，测试方法包括：
3、外部终端设备中的监测单元对待测设备的电池状态与系统状态进行监测，并根据所述电池状态以及所述系统状态控制所述待测设备进行不同的性能测试。
4、进一步的，所述监测单元对所述待测设备的电
5、进一步的，当电池温度处于设定阈值范围内，且电池电量处于设定阈值范围内时，所述监测单元控制所述待测设备进行老化apk测试；
6、当系统温度处于设定阈值范围内时，所述监测单元控制所述待测设备进行系统压力测试。
7、进一步的，当所述电池温度不在所述阈值范围内时，减少中央处理器运行的进程。
8、进一步的，对所述待测设备进行系统压力测试包括：对所述待测设备的中央处理器进行压力测试以及对存储单元进行读写压力测试。
9、进一步的，对所述中央处理器进行压力测试包括：
10、控制所述待测设备主动触发性能模式；
11、使能所述待测设备的中央处理器的所有核，控制所述中央处理器以最高频率运行；
12、对所述中央处理器多次定时执行数据复制的操作。
13、进一步的，对所述存储单元进行压力测试包括：
14、控制所述存储单元以最大数据传输速率进行数据传输；
15、多次向所述存储单元写入数据直至存储单元满载，再清空所述存储单元中的数据。
16、进一步的，当所述电池温度处于设定阈值范围内，且所述电池电量低于设定阈值范围内时，控制所述待测设备充电。
17、进一步的，取消所述待测设备自身的充电保护机制，外部终端设备根据所述待测设备的电池状态控制电池进行充放电。
18、进一步的，取消所述待测设备自身的充电保护机制包括：
19、去除充电软件的jeita机制、提高充电硬件的jeita高温配置、关闭高级疲劳预防并提高寄存器高温门限、修改框架层面的设置，提高电池关机温度以及去除壳温关机机制。
20、进一步的，在所述待测设备的内核层中为实现电池管理的硬件设备设置设备节点读写操作，并在所述内核层内设置监控和管理电池状态的设备节点，所述待测设备的应用程序通过jni接口与所述设备节点进行交互。
21、进一步的，基于跨进程通讯机制，电池服务模块通过所述待测设备的交互接口控制管理电池健康的守护进程模块，基于通信机制，所述电池服务模块能够获取电池状态。
22、进一步的，在所述外部终端设备内设置并运行自动化脚本，控制所述待测设备进行不同的性能测试。
23、本专利技术还提供一种设备可靠性测试设备，包括：
24、访问模块：访问待测设备内核层内设置的访问和控制节点；
25、监测模块：根据电池状态对所述待测设备的电池状态进行监测；
26、测试模块：根据所述电池状态控制所述待测设备进行不同的性能测试。
27、相比于现有技术，本专利技术至少具有以下技术效果：
28、本专利技术通过在外部终端设备内集成一个监测单元，该单元对所述待测设备的电池状态与系统状态进行监测，根据所述电池状态以及所述系统状态控制所述待测设备进行不同的性能测试，实现在极端测试环境下对于待测设备的电池的保护，提高测试的可持续性和可靠性。
29、进一步的，本专利技术通过在所述待测设备的内核层中设置了一系列jni设备节点操作读写，并kernel内核层内提供包括：电流、电压和电量控制的设备节点，电池温度监测的设备节点，使得应用程序能够直接访问kernel内核层的设备节点，而无需在用户空间中进行中转，简化了应用程序的开发，提高了老化测试方案的兼容性。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种设备可靠性测试方法，其特征在于，测试方法包括：
2.如权利要求1所述的设备可靠性测试方法，其特征在于，所述监测单元对所述待测设备的电池电量、电池温度、电池电流、电池电压和电池异常事件进行监测。
3.如权利要求1所述的设备可靠性测试方法，其特征在于，
4.如权利要求3所述的设备可靠性测试方法，其特征在于，对所述待测设备进行系统压力测试包括：对所述待测设备的中央处理器进行压力测试以及对存储单元进行读写压力测试。
5.如权利要求4所述的设备可靠性测试方法，其特征在于，对所述中央处理器进行压力测试包括：
6.如权利要求4所述的设备可靠性测试方法，其特征在于，
7.如权利要求6所述的设备可靠性测试方法，其特征在于，对所述存储单元进行压力测试包括：
8.如权利要求2所述的设备可靠性测试方法，其特征在于，当所述电池温度处于设定阈值范围内，且所述电池电量低于设定阈值范围内时，控制所述待测设备充电。
9.如权利要求1所述的设备可靠性测试方法，其特征在于，取消所述待测设备自身的充电保护机制，外部终
10.如权利要求9所述的设备可靠性测试方法，其特征在于，取消所述待测设备自身的充电保护机制包括：
11.如权利要求1所述的设备可靠性测试方法，其特征在于，在所述待测设备的内核层中为实现电池管理的硬件设备设置设备节点读写操作，并在所述内核层内设置监控和管理电池状态的设备节点，所述待测设备的应用程序通过JNI接口与所述设备节点进行交互。
12.如权利要求1所述的设备可靠性测试方法，其特征在于，基于跨进程通讯机制，电池服务模块通过所述待测设备的交互接口控制管理电池健康的守护进程模块，基于通信机制，所述电池服务模块能够获取电池状态。
13.如权利要求1所述的设备可靠性测试方法，其特征在于，在所述外部终端设备内设置并运行自动化脚本，控制所述待测设备进行不同的性能测试。
14.一种设备可靠性测试装置，其特征在于，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种设备可靠性测试方法，其特征在于，测试方法包括：
2.如权利要求1所述的设备可靠性测试方法，其特征在于，所述监测单元对所述待测设备的电池电量、电池温度、电池电流、电池电压和电池异常事件进行监测。
3.如权利要求1所述的设备可靠性测试方法，其特征在于，
4.如权利要求3所述的设备可靠性测试方法，其特征在于，对所述待测设备进行系统压力测试包括：对所述待测设备的中央处理器进行压力测试以及对存储单元进行读写压力测试。
5.如权利要求4所述的设备可靠性测试方法，其特征在于，对所述中央处理器进行压力测试包括：
6.如权利要求4所述的设备可靠性测试方法，其特征在于，
7.如权利要求6所述的设备可靠性测试方法，其特征在于，对所述存储单元进行压力测试包括：
8.如权利要求2所述的设备可靠性测试方法，其特征在于，当所述电池温度处于设定阈值范围内，且所述电池电量低于设定阈值范围内时，控制所述待测设备充电。
9.如权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员：宋连超，彭新智，梁宝东，赵刚，刘成，王磊，程黎辉，关亚东，
申请(专利权)人：合肥龙旗智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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