【技术实现步骤摘要】
本技术涉及检验装置，具体地说，涉及一种半导体传感器芯片检验装置。
技术介绍
1、半导体芯片是指在半导体片材上进行浸蚀，布线，制成的能实现某种功能的半导体器件，不只是硅芯片，常见的还包括砷化镓、锗等半导体材料，在对半导体传感器芯片进行检验时，需要使用到一种半导体传感器芯片检验装置。
2、现有技术中的检验装置在对半导体传感器芯片进行检验处理时无法有效地对芯片进行固定夹持，在对半导体传感器芯片进行检验处理时，一般都需要使用到检验装置，在检验过程中，由于芯片的体积较小，就会导致工作人员无法便捷地对芯片进行固定，从而导致芯片在检验过程中可能会出现位移等情况，进而影响检验装置对芯片的检验效果以及效率，同时还会导致检验装置的检验结果出现误差，影响芯片的正常使用。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种半导体传感器芯片检验装置，包括支撑座，还包括：
2、支撑板，固定连接在所述支撑座的上表面，所述支撑板的上表面固定连接有放置板，所述放置板的上表面粘接有保护垫，所述保护垫的上方设有芯片本体；
3、安装板，对称设置在所述支撑座的上方；
4、调节组件，设置在所述支撑座的底部，并用于对两个安装板的位置进行调节；
5、夹紧组件，分别设置在两个所述安装板的上表面，并用于对芯片本体进行固定夹持，从而便于工作人员对其进行检测。
6、作为本技术方案的进一步改进，所述调节组件包括固定连接在支撑座底部的调节板，所述调节板的内部设有双向螺纹杆，所述
7、作为本技术方案的进一步改进，两个所述安装板的底部均对称设有支撑杆，多个所述支撑杆的底端均固定连接有活动轮，所述支撑座的上表面开设有供活动轮活动的导向槽。
8、作为本技术方案的进一步改进，所述夹紧组件包括固定连接在两个安装板上表面的匚形板，两个所述匚形板的上表面均对称开设有供固定杆活动的导向槽，每两个所述固定杆的顶端均固定连接有拉板，每两个所述固定杆的底端均固定连接有夹持板，两个所述夹持板的底部均粘接有弹性垫，多个所述固定杆的外部均套设有复位弹簧，多个所述复位弹簧均抵触在夹持板与匚形板之间。
9、作为本技术方案的进一步改进，所述旋钮的一侧贯穿开设有供安装杆活动的导向槽，所述安装杆的一端延伸至旋钮的外部并固定连接有拉盘，所述安装杆的外部固定连接有抵触盘，所述安装杆的外部套设有连接弹簧，所述连接弹簧抵触在抵触盘与旋钮之间，所述调节板的一侧环形开设有供安装杆活动的导向槽。
10、作为本技术方案的进一步改进，所述支撑座的前端表面和后端表面均对称设有波纹管，每两个所述波纹管的另一端均固定连接有照明灯。
11、作为本技术方案的进一步改进，所述支撑座的下方设有底座，所述底座的上表面四角均固定连接有支杆，多个所述支杆的顶端均与支撑座的底部固定连接，所述底座的上表面设有放置箱，所述底座的底部粘接有防滑垫，所述防滑垫的底部等间距开设有人字形防滑槽。
12、与现有技术相比，本技术的有益效果：
13、该一种半导体传感器芯片检验装置中，通过设置的调节组件、夹紧组件和安装板，当需要对芯片本体进行检验处理时，只需先将需要进行检验的芯片本体放置在放置板上，保护垫能够有效地对芯片本体进行保护，此时再通过调节组件对安装板的位置进行调节，当安装板带动夹紧组件移动至需要的位置时，再通过夹紧组件对芯片本体进行固定夹持，此时即可有效且便捷地对芯片本体进行固定夹持，从而防止芯片本体在检验过程中出现位移等情况，省时省力。
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1.一种半导体传感器芯片检验装置，包括支撑座(1)，其特征在于：还包括：
2.根据权利要求1所述的一种半导体传感器芯片检验装置，其特征在于：所述调节组件包括固定连接在支撑座(1)底部的调节板(2)，所述调节板(2)的内部设有双向螺纹杆(16)，所述双向螺纹杆(16)的一端与调节板(2)的内侧壁转动连接，所述双向螺纹杆(16)的另一端延伸至调节板(2)的外部并固定连接有旋钮(3)，所述双向螺纹杆(16)的外部对称设有螺纹块(4)，所述调节板(2)与支撑座(1)的接触面均开设有供螺纹块(4)活动的导向槽，两个所述螺纹块(4)的上表面均与安装板(5)的底部固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种半导体传感器芯片检验装置，其特征在于：两个所述安装板(5)的底部均对称设有支撑杆(17)，多个所述支撑杆(17)的底端均固定连接有活动轮(18)，所述支撑座(1)的上表面开设有供活动轮(18)活动的导向槽。
4.根据权利要求1所述的一种半导体传感器芯片检验装置，其特征在于：所述夹紧组件包括固定连接在两个安装板(5)上表面的匚形板(6)，两个所述匚形板(6)的上
5.根据权利要求2所述的一种半导体传感器芯片检验装置，其特征在于：所述旋钮(3)的一侧贯穿开设有供安装杆(22)活动的导向槽，所述安装杆(22)的一端延伸至旋钮(3)的外部并固定连接有拉盘(19)，所述安装杆(22)的外部固定连接有抵触盘(20)，所述安装杆(22)的外部套设有连接弹簧(21)，所述连接弹簧(21)抵触在抵触盘(20)与旋钮(3)之间，所述调节板(2)的一侧环形开设有供安装杆(22)活动的导向槽。
6.根据权利要求1所述的一种半导体传感器芯片检验装置，其特征在于：所述支撑座(1)的前端表面和后端表面均对称设有波纹管(8)，每两个所述波纹管(8)的另一端均固定连接有照明灯(9)。
7.根据权利要求1所述的一种半导体传感器芯片检验装置，其特征在于：所述支撑座(1)的下方设有底座(10)，所述底座(10)的上表面四角均固定连接有支杆(12)，多个所述支杆(12)的顶端均与支撑座(1)的底部固定连接，所述底座(10)的上表面设有放置箱(11)，所述底座(10)的底部粘接有防滑垫，所述防滑垫的底部等间距开设有人字形防滑槽。
...【技术特征摘要】
1.一种半导体传感器芯片检验装置，包括支撑座(1)，其特征在于：还包括：
2.根据权利要求1所述的一种半导体传感器芯片检验装置，其特征在于：所述调节组件包括固定连接在支撑座(1)底部的调节板(2)，所述调节板(2)的内部设有双向螺纹杆(16)，所述双向螺纹杆(16)的一端与调节板(2)的内侧壁转动连接，所述双向螺纹杆(16)的另一端延伸至调节板(2)的外部并固定连接有旋钮(3)，所述双向螺纹杆(16)的外部对称设有螺纹块(4)，所述调节板(2)与支撑座(1)的接触面均开设有供螺纹块(4)活动的导向槽，两个所述螺纹块(4)的上表面均与安装板(5)的底部固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种半导体传感器芯片检验装置，其特征在于：两个所述安装板(5)的底部均对称设有支撑杆(17)，多个所述支撑杆(17)的底端均固定连接有活动轮(18)，所述支撑座(1)的上表面开设有供活动轮(18)活动的导向槽。
4.根据权利要求1所述的一种半导体传感器芯片检验装置，其特征在于：所述夹紧组件包括固定连接在两个安装板(5)上表面的匚形板(6)，两个所述匚形板(6)的上表面均对称开设有供固定杆(24)活动的导向槽，每两个所述固定杆(24)的顶端均固定连接有拉板(7)，每两个所述固定杆(24)的底端均固定连接有夹持板(23...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵宗保，
申请(专利权)人：深圳原子半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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