一种芯片用检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及检测装置技术领域，具体地说，涉及一种芯片用检测装置。其包括检测工作台，检测工作台的下表面对称固定连接有支撑架，检测工作台的上表面固定连接有用于固定芯片的固定组件，固定组件的内部设有导电金属块，导电金属块的上表面固定连接有导电橡胶片，其中一个支撑架的侧壁与检测工作台的下表面通过多个塑料卡箍固定连接有接地线，接地线的另一端与支撑块的下表面相连接，本实用新型专利技术通过导电橡胶片、导电金属块和接地线对芯片进行出静电处理，接着通过设置的清理刷对芯片进行清尘，并将灰尘通过输送软管输送至储尘箱内收集，从而避免了检测时带静电的灰尘对芯片检测时造成影响，影响芯片的检测效果。影响芯片的检测效果。影响芯片的检测效果。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片用检测装置


[0001]本技术涉及检测装置
，具体地说，涉及一种芯片用检测装置。

技术介绍

[0002]芯片，又称微电路，是指内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其他电子设备的一部分，芯片在电子学中是一种把电路小型化的方式，并通常制造在半导体晶圆表面上，前述将电路制造在半导体芯片表面上的集成电路又称薄膜集成电路。
[0003]芯片通常在出厂质检、回收品检查、使用性能检测等情况下都需对芯片进行检测，但是刚生产出或进行回收品检查的芯片都难以避免沾染上带静电的灰尘，带静电的灰尘在芯片外表面积累较多的静电容易击穿芯片，从而为避免因芯片和电路板外表面存在灰尘影响检测效果，便需要对芯片连通电路板外表面的灰尘进行清理。
[0004]公开号为CN216747975U的中国专利公开了一种芯片检测装置，包括安装箱，安装箱的上端可拆卸连接有盖板，盖板的上端开设有四个滑孔，安装箱上固定连接有支撑杆，支撑杆的上端固定连接有横板，横板的底部安装有检测设备主体，安装箱内设置有夹持机构，夹持机构用以实现将芯片四面同时夹持固定。
[0005]该技术通过伺服电机和第一齿轮带动内齿轮和皇冠齿轮转动，进而通过皇冠齿轮带动多个第二齿轮和螺杆同时转动，多个螺杆的同时转动带动螺套移动，多个螺套的同时移动通过连杆带动夹板将芯片的四面夹持固定，防止了在检测芯片时芯片固定不稳导致的检测失误的问题，但是该装置缺少对芯片的前置除尘处理，容易在检测时被灰尘影响，使对芯片的检测出现误差，鉴于此，我们提出一种芯片用检测装置。
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技术实现思路

[0006]本技术的目的在于提供一种芯片用检测装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0007]为实现上述目的，本技术提供一种芯片用检测装置，包括检测工作台，所述检测工作台的下表面对称固定连接有支撑架，所述检测工作台的上表面固定连接有用于固定芯片的固定组件，所述固定组件的内部设有导电金属块，所述导电金属块的上表面固定连接有导电橡胶片，其中一个所述支撑架的侧壁与检测工作台的下表面通过多个塑料卡箍固定连接有接地线，所述接地线的另一端与支撑块的下表面相连接，所述检测工作台的上表面固定安装有气泵和储尘箱，所述气泵的出气端通过管道与储尘箱的内部相连通，所述检测工作台的上表面固定连接有用于存放清理刷的放置盒，所述清理刷的内部开设有除尘腔，所述清理刷的外壁固定连接有输送软管，所述输送软管的进气端与除尘腔的内部相连通，所述输送软管的出气端与储尘箱的内部相连通，所述清理刷的下表面开设有多个与除尘腔相连通的进气通孔。
[0008]作为本技术方案的进一步改进，所述固定组件包括有固定台、L形定位块、滑动块和控制螺杆，所述固定台通过螺栓固定安装在检测工作台的上表面，所述固定台的内部开
设有用于安装支撑块的预留槽，所述固定台的上表面固定连接有L形定位块，所述固定台的上表面开设有供滑动块滑动的滑槽，两个所述滑动块的内部均开设有用于安装控制螺杆的螺纹槽，两个所述控制螺杆的端头均与固定台的外壁转动连接。
[0009]作为本技术方案的进一步改进，所述储尘箱的上端设有密封盖体，所述密封盖体的下表面固定连接有多个过滤板，多个所述过滤板的下表面固定连接有承载板，所述密封盖体的上表面固定连接有把手。
[0010]作为本技术方案的进一步改进，所述检测工作台的上表面固定连接有安装架，所述安装架的另一端固定连接有定型软管，所述定型软管的另一端固定安装有照明灯，所述照明灯的上端设有用于调整灯光强度的控制组件。
[0011]作为本技术方案的进一步改进，所述检测工作台的上表面固定安装有用于放置芯片的芯片存放架。
[0012]作为本技术方案的进一步改进，所述L形定位块和两个滑动块的外壁均固定连接有橡胶垫。
[0013]与现有技术相比，本技术的有益效果：
[0014]该一种芯片用检测装置中，在将待检测芯片放置到导电橡胶片上后，使芯片上积累的电荷被导电橡胶片与导电金属块转移至接地线接地消除，使得灰尘不会因为静电吸附在芯片上，接着通过设置的清理刷对芯片进行清理，使得清理刷上的柔性刷毛对芯片进行轻轻扫动，并使得灰尘通过多个进气通孔进入除尘腔内，并使含有灰尘的空气通过输送软管输送至储尘箱内进行收集，从而避免因芯片和电路板外表面存在灰尘影响检测效果。
附图说明
[0015]图1为本技术的整体结构示意图；
[0016]图2为本技术固定台处的拆分结构图；
[0017]图3为本技术清理刷的结构图；
[0018]图4为本技术储尘箱的拆分结构图。
[0019]图中各个标号意义为：
[0020]1、检测工作台；2、支撑架；3、导电金属块；4、导电橡胶片；5、接地线；6、气泵；7、储尘箱；8、清理刷；9、放置盒；10、输送软管；11、固定台；12、L形定位块；13、滑动块；14、控制螺杆；15、密封盖体；16、过滤板；17、承载板；18、安装架；19、定型软管；20、照明灯；21、芯片存放架；22、橡胶垫。
具体实施方式
[0021]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0022]请参阅图1－图4所示，本实施例提供一种芯片用检测装置，包括检测工作台1，检测工作台1的下表面对称固定连接有支撑架2，检测工作台1的上表面固定连接有用于固定芯片的固定组件，固定组件的内部设有导电金属块3，导电金属块3的上表面固定连接有导
电橡胶片4，其中一个支撑架2的侧壁与检测工作台1的下表面通过多个塑料卡箍固定连接有接地线5，接地线5的另一端与支撑块的下表面相连接，检测工作台1的上表面固定安装有气泵6和储尘箱7，气泵6的出气端通过管道与储尘箱7的内部相连通，检测工作台1的上表面固定连接有用于存放清理刷8的放置盒9，清理刷8的内部开设有除尘腔，清理刷8的外壁固定连接有输送软管10，输送软管10的进气端与除尘腔的内部相连通，输送软管10的出气端与储尘箱7的内部相连通，清理刷8的下表面开设有多个与除尘腔相连通的进气通孔。
[0023]上述工作原理：在芯片放置到导电橡胶片4上后，芯片上积累的电荷被导电橡胶片4与导电金属块3转移至接地线5接地消除，从而解除灰尘与芯片的静电吸附，接着从放置盒9内取出清理刷8，并将气泵6启动，通过清理刷8上的柔性刷毛对芯片进行轻轻扫动，扬起灰尘，并使得灰尘通过多个进气通孔进入除尘腔内，并使含有灰尘的空气通过输送软管10输送至储尘箱7内进行收集，从而避免了芯片上粘附带静电的灰尘，影响对芯片的检测效果。
[0024]为了保证检测时芯片不会出现移动，所以固定组件包括有固定台11、L形定位块12、滑动块13和控制螺杆14，固定台11通过螺栓固定安装在检本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片用检测装置，包括检测工作台（1），其特征在于：所述检测工作台（1）的下表面对称固定连接有支撑架（2），所述检测工作台（1）的上表面固定连接有用于固定芯片的固定组件，所述固定组件的内部设有导电金属块（3），所述导电金属块（3）的上表面固定连接有导电橡胶片（4），其中一个所述支撑架（2）的侧壁与检测工作台（1）的下表面通过多个塑料卡箍固定连接有接地线（5），所述接地线（5）的另一端与支撑块的下表面相连接，所述检测工作台（1）的上表面固定安装有气泵（6）和储尘箱（7），所述气泵（6）的出气端通过管道与储尘箱（7）的内部相连通，所述检测工作台（1）的上表面固定连接有用于存放清理刷（8）的放置盒（9），所述清理刷（8）的内部开设有除尘腔，所述清理刷（8）的外壁固定连接有输送软管（10），所述输送软管（10）的进气端与除尘腔的内部相连通，所述输送软管（10）的出气端与储尘箱（7）的内部相连通，所述清理刷（8）的下表面开设有多个与除尘腔相连通的进气通孔。2.根据权利要求1所述的一种芯片用检测装置，其特征在于：所述固定组件包括有固定台（11）、L形定位块（12）、滑动块（13）和控制螺杆（14），所述固定台（11）通过螺栓固定安装在检测工作台（1）的上表面，所述固定台（11）的...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵宗保，
申请(专利权)人：深圳原子半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：