【技术实现步骤摘要】
：本专利技术涉及电磁特性测量，特别涉及一种大尺寸静区形成系统、基于该系统的大型目标室内rcs高精度测试系统以及测试方法。
技术介绍
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技术介绍
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1、平面波测试是军事和民用电子领域最常用的测试方法。随着军事工业和电子信息技术的发展，军事目标和民用电子生电磁兼容性能和隐身性能越来越好、尺寸也越来越大。常规大型紧缩场测试系统难以获得大尺寸静区和高精度的测试条件，无法为大型的战略目标和电子设备的电磁特性和单站rcs提供高精度的室内测量。因此，如何在相对有限的室内空间中获得大尺寸静区，满足大型战略目标和电子设备的电磁特性和单站rcs室内整机高精度测试需求，是军事和民用电磁特性测试领域亟待解决的基本测试条件之一。此外，由于大尺寸战略隐身目标的rcs非常小，缩比测量的精度远远达不到指标要求。而建设巨型紧缩场测试则因为工程过于庞大，反射面尺寸太大精度难以达到等因素一直难以落地。因此，大尺寸战略目标的电磁特性的整机实测一直是困扰军方的技术难题之一。
2、一种基于大尺寸静区形成系统的大型目标室内rcs高精度测试系统是一种新兴的近...
【技术保护点】
1.一种大尺寸静区形成系统，其特征在于：包括由等间距均匀排布的天线单元组成的平面波天线阵列(1)、平面波形成器(2)、屏蔽壳体(3)以及吸波材料(9)，所述平面波天线阵列(1)和平面波形成器(2)位于屏蔽壳体(3)内部，所述吸波材料(9)位于屏蔽壳体(3)内侧壁上，所述平面波天线阵列(1)和平面波形成器(2)共同形成静区，所述静区位于平面波形成器(2)之间，并在平面波天线阵列(1)的口面一侧，所述静区的尺寸为平面波天线阵列(1)和平面波形成器(2)形成的空间。
2.如权利要求1所述的大尺寸静区形成系统，其特征在于：所述平面波天线阵列(1)由N个等间距均匀排...
【技术特征摘要】
1.一种大尺寸静区形成系统，其特征在于：包括由等间距均匀排布的天线单元组成的平面波天线阵列(1)、平面波形成器(2)、屏蔽壳体(3)以及吸波材料(9)，所述平面波天线阵列(1)和平面波形成器(2)位于屏蔽壳体(3)内部，所述吸波材料(9)位于屏蔽壳体(3)内侧壁上，所述平面波天线阵列(1)和平面波形成器(2)共同形成静区，所述静区位于平面波形成器(2)之间，并在平面波天线阵列(1)的口面一侧，所述静区的尺寸为平面波天线阵列(1)和平面波形成器(2)形成的空间。
2.如权利要求1所述的大尺寸静区形成系统，其特征在于：所述平面波天线阵列(1)由n个等间距均匀排布的天线单元组成，n为≥2的整数，天线单元之间的耦合包括松耦合和紧耦合，中间天线单元(11)连接功分网络，边缘天线哑元(10)连接有50ω匹配负载。
3.如权利要求2所述的大尺寸静区形成系统，其特征在于：所述天线单元的极化方式包括线极化、正交线极化、圆极化。
4.如权利要求3所述的大尺寸静区形成系统，其特征在于：所述天线单元包括vivaldi天线、偶极子天线和喇叭天线。
5.如权利要求2所述的大尺寸静区形成系统，其特征在于：n个天线单元等间距排布成圆形、方形和长方形的天线阵列。
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