测试电路、集成电路、电子设备、测试电路的生成方法技术

本申请公开了一种测试电路、集成电路、电子设备、测试电路的生成方法，涉及集成电路测试领域，用于实现测试总线上数据传输的时序一致，提高测试总线的传输速率。测试电路包括：第一输入总线、第二输入总线、第一输出总线、第二输出总线、第一动态路由单元DRU和第一寄存器；在一个时钟周期：第一DRU向被测电路输出来自第一输入总线的测试激励，并向第一输出总线输出来自被测电路的测试响应；或者，第一DRU向第一输出总线输出来自第一输入总线的数据；第一寄存器向第二输出总线输出来自第二输入总线的数据。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

技术介绍

技术实现思路

【技术保护点】

PCT国内申请，权利要求书已公开。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

pct国内申请，权...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔昌明，付海涛，张雨，邓斌，黄俊林，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：