System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种膜类材料的成像方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸_技高网

一种膜类材料的成像方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:41247045 阅读:2 留言:0更新日期:2024-05-09 23:57
本发明专利技术公开了一种膜类材料的成像方法、装置、设备及存储介质。该方法包括:获取生产线的运动信息,并通过编码设备根据所述运动信息,确定图像采集信号;通过光源控制设备获取所述图像采集信号,并根据所述图像采集信号,生成光源控制信号,以根据所述光源控制信号,控制光源在微距成像设备的各曝光时刻的打光方式;通过图像采集设备根据所述图像采集信号,控制微距成像设备在各曝光时刻匹配的打光方式下,对待检测膜类材料进行扫描,生成膜类材料图像。本技术方案解决了有限的检测距离范围内难以实现膜类材料的高动态成像问题,通过微距成像以及频闪光源可以显著缩短检测距离,实现膜类材料的高动态成像,有利于提高膜类材料缺陷检测效果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及机器视觉,尤其涉及一种膜类材料的成像方法、装置、电子设备及存储介质


技术介绍

1、目前,锂离子电池隔膜等膜类材料的检测设备通常是背光检测工位。图1a是现有技术中的一种背光检测工位的结构示意图,如图1a所示,背光检测工位中相机一般采用线扫黑白相机,光源一般采用条形光源或者线光源。光源与膜表面平行且距膜表面距离小于100mm,相机与膜表面法线的夹角范围在0-5°,相机检测距离,即相机法兰面到膜表面的距离,与镜头焦距有关,通常需要保证在400mm-1500mm。

2、但是,现有的隔膜分切机或者卷绕机的空间非常狭小,难以保证400mm以上的检测距离。另外,为了区分不同的膜类材料缺陷,例如亮点、漏涂以及针孔等,通常需要对膜类材料进行高动态检测,如何在有限的检测距离范围内实现膜类材料的高动态成像成为亟待解决的问题。


技术实现思路

1、本专利技术提供了一种膜类材料的成像方法、装置、设备及存储介质,以解决有限的检测距离范围内难以实现膜类材料的高动态成像问题,通过微距成像以及频闪光源可以显著缩短检测距离,实现膜类材料的高动态成像,有利于提高膜类材料缺陷检测效果。

2、根据本专利技术的一方面,提供了一种膜类材料的成像方法,所述方法由高动态成像系统执行,所述高动态成像系统包括微距成像设备、光源、光源控制设备、图像采集设备以及编码设备;所述方法包括:

3、获取生产线的运动信息,并通过编码设备根据所述运动信息,确定图像采集信号;

4、通过光源控制设备获取所述图像采集信号,并根据所述图像采集信号,生成光源控制信号,以根据所述光源控制信号,控制光源在微距成像设备的各曝光时刻的打光方式;

5、通过图像采集设备根据所述图像采集信号,控制微距成像设备在各曝光时刻匹配的打光方式下,对待检测膜类材料进行扫描,生成膜类材料图像。

6、根据本专利技术的另一方面,提供了一种膜类材料的成像装置,所述装置配置于高动态成像系统,所述高动态成像系统包括微距成像设备、光源、光源控制设备、图像采集设备以及编码设备;该装置包括:

7、采集信号确定模块,用于获取生产线的运动信息,并通过编码设备根据所述运动信息,确定图像采集信号;

8、打光方式控制模块,用于通过光源控制设备获取所述图像采集信号,并根据所述图像采集信号,生成光源控制信号,以根据所述光源控制信号,控制光源在微距成像设备的各曝光时刻的打光方式;

9、膜类材料图像生成模块,用于通过图像采集设备根据所述图像采集信号,控制微距成像设备在各曝光时刻匹配的打光方式下,对待检测膜类材料进行扫描,生成膜类材料图像。

10、根据本专利技术的另一方面,提供了一种电子设备,所述电子设备包括:

11、至少一个处理器;以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序,所述计算机程序被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行本专利技术任一实施例所述的膜类材料的成像方法。

12、根据本专利技术的另一方面,提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机指令,所述计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任一实施例所述的膜类材料的成像方法。

13、本专利技术实施例的技术方案,通过获取生产线的运动信息,并通过编码设备根据所述运动信息,确定图像采集信号;然后通过光源控制设备获取所述图像采集信号,并根据所述图像采集信号,生成光源控制信号,以根据所述光源控制信号,控制光源在微距成像设备的各曝光时刻的打光方式;最后通过图像采集设备根据所述图像采集信号,控制微距成像设备在各曝光时刻匹配的打光方式下,对待检测膜类材料进行扫描,生成膜类材料图像。该技术方案解决了有限的检测距离范围内难以实现膜类材料的高动态成像问题,通过微距成像以及频闪光源可以显著缩短检测距离,实现膜类材料的高动态成像,有利于提高膜类材料缺陷检测效果。

14、应当理解,本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征,也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种膜类材料的成像方法,其特征在于,所述方法由高动态成像系统执行,所述高动态成像系统包括微距成像设备、光源、光源控制设备、图像采集设备以及编码设备;所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述光源为线形光源或条形光源;所述微距成像设备包括线形排列的光电转换器件。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述微距成像设备为分时曝光的微距成像设备。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述膜类材料图像为高动态范围图像。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述高动态成像系统还包括图像处理设备;

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据所述膜类材料图像,确定膜类材料的缺陷检测结果,包括:

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述缺陷类型包括撕裂、针孔、亮点以及漏涂。

8.一种膜类材料的成像装置,其特征在于,所述装置配置于高动态成像系统,所述高动态成像系统包括微距成像设备、光源、光源控制设备、图像采集设备以及编码设备;包括:

9.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机指令,所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的膜类材料的成像方法。

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【技术特征摘要】

1.一种膜类材料的成像方法,其特征在于,所述方法由高动态成像系统执行,所述高动态成像系统包括微距成像设备、光源、光源控制设备、图像采集设备以及编码设备;所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述光源为线形光源或条形光源;所述微距成像设备包括线形排列的光电转换器件。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述微距成像设备为分时曝光的微距成像设备。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述膜类材料图像为高动态范围图像。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述高动态成像系统还包括图像处理设备;

6.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员:卢靖李宝同
申请(专利权)人:苏州凌云视界智能设备有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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