锥束CT几何参数校准方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及无损检测技术领域，公开了一种锥束CT几何参数校准方法、装置、设备及存储介质，用于提高锥束CT系统几何校正结果的准确性。锥束CT几何参数校准方法包括：获取第一模型板在探测器对应的平面上的第一投影和第二模型板在探测器对应的平面上的第二投影；基于第一投影和第二投影进行重合校准；基于第二模型板的投影数据计算校准参数；通过校准参数对图像进行校准构建。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及无损检测，尤其涉及一种锥束ct几何参数校准方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

1、锥形束计算机断层成像技术(cone-beam ct,cbct)是一种重要的无损检测检测技术，其系统具有分辨率高、成像视野大、扫描时间短等优点，随着其技术的不断发展，在医学成像和工业无损检测中占据着重要地位。

2、目前，锥束ct几何参数校准方法一般为通过定位模板的投影数据计算出校准参数，并根据校准参数对图像重新进行构建，在现有技术中，通过单一模型板进行投影，由于本身姿态无法确认且无法进行调整，因而存在误差，进而导致几何校正的结果准确性较低。

技术实现思路

1、本专利技术提供了一种锥束ct几何参数校准方法、装置、设备及存储介质，以解决通过单一模板单一投影进行校正参数的计算，导致几何校正的准确性较低的问题。

2、本专利技术第一方面提供了一种锥束ct几何参数校准方法，包括：获取所述第一模型板在所述探测器对应的平面上的第一投影和所述第二模型板在所述探测器对应的平面上的第二投影；基于所述第一投影和所本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种锥束CT几何参数校准方法，应用于锥束CT系统，其特征在于，所述锥束CT系统至少包括：第一模型板、第二模型板和探测器，所述第一模型板、所述第二模型板和所述探测器依次间隔安装，所述锥束CT几何参数校准方法包括：

2.根据权利要求1所述的锥束CT几何参数校准方法，其特征在于，所述基于所述第一投影和所述第二投影进行重合校准，包括：

3.根据权利要求2所述的锥束CT几何参数校准方法，其特征在于，所述对所述第一投影的第一中心点和所述第二投影的第二中心点重合校准，包括：

4.根据权利要求1所述的锥束CT几何参数校准方法，其特征在于，所述基于所述第二模型板的投...

【技术特征摘要】

1.一种锥束ct几何参数校准方法，应用于锥束ct系统，其特征在于，所述锥束ct系统至少包括：第一模型板、第二模型板和探测器，所述第一模型板、所述第二模型板和所述探测器依次间隔安装，所述锥束ct几何参数校准方法包括：

2.根据权利要求1所述的锥束ct几何参数校准方法，其特征在于，所述基于所述第一投影和所述第二投影进行重合校准，包括：

3.根据权利要求2所述的锥束ct几何参数校准方法，其特征在于，所述对所述第一投影的第一中心点和所述第二投影的第二中心点重合校准，包括：

4.根据权利要求1所述的锥束ct几何参数校准方法，其特征在于，所述基于所述第二模型板的投影数据计算校准参数，包括：

5.根据权利要求4所述的锥束ct几何参数校准方法，其特征在于，所述计算所述第二中心点和理论投影点的水平距离和垂直距离，包括：

6.根据权利要求4所述的锥束...

【专利技术属性】
技术研发人员：李和璟，王浩，肖海龙，郑永明，
申请(专利权)人：深圳市海星智造信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：