一种用于多传感器的老化测试装置制造方法及图纸

技术编号:41246387 阅读:4 留言:0更新日期:2024-05-09 23:56
本技术公开了一种用于多传感器的老化测试装置,包括:测试电路板、以及间隔布置于测试电路板上的多个用于插接被测传感器的测试座,被测传感器能够插接于对应测试座上并与对应测试电路电连接,所述测试电路板上包含有与测试座对应的多个测试电路,所述测试电路包括用于检测各被测传感器数据的检测电路、用于对各检测电路进行通断调节的调节电路、以及用于对调节电路和各被测传感器进行供电的电源电路,所述检测电路包括用于对各传感器进行数据采集的多组采集电路、以及用于调节对应采集电路通断的多个开关电路,可对被测传感器进行批量的老化测试,在保障测试结果的同时也可提高测试效率,产品可靠性高。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及半导体传感器的老化测试,尤其涉及一种用于多传感器的老化测试装置


技术介绍

1、半导体传感器具有响应速度快、分辨率高、低成本、稳定性好等优点,被广泛应用于燃气检测类设备中,但在半导体传感器检测气体浓度时,其敏感材料表面会受到氧原子吸附程度的影响,会使该半导体传感器降低响应值,从而使半导体传感器在检测过程中造成示值上的误差,所以半导体传感器需要在老化测试后才能够被使用。在现有的半导体传感器的老化测试中,通常是将半导体传感器直接搭载在设备上,通过设备的使用来对半导体传感器进行自然老化,但在初期使用阶段,半导体传感器会由于长时间使用、环境因素、磨损等原因而导致性能降低,从而降低设备使用时的可靠性。且通过设备来对装载半导体传感器进行老化的过程,使半导体传感器无法进行批量的、集中性的老化测试,导致工作效率低。


技术实现思路

1、本技术针对现有技术中的不足,提供了一种用于多传感器的老化测试装置,包括:测试电路板、间隔布置于测试电路板上的多个用于插接被测传感器的测试座、被测传感器能够插接于对应测试座上并与对应测试电路电连接,所述测试电路板上包含有与测试座对应的多个测试电路,所述测试座包括能够与被测传感器信号管脚连接的信号输入端和与一测试电路的采集信号输入端连接的信号输出端,所述测试电路包括用于检测各被测传感器数据的检测电路、用于对各检测电路进行通断调节的调节电路、以及用于对调节电路和各被测传感器进行供电的电源电路,所述检测电路包括用于对各传感器进行数据采集的多组采集电路、以及用于调节对应采集电路通断的多个开关电路,所述开关电路的第一信号端与调节电路对应的信号端连接、第二信号端与对应采集电路的第一信号端连接,采集电路的第二信号端与对应传感器的敏感部件连接,调节电路的电源端与电源电路的第一输出端连接,各传感器的电源端均与电源电路的第二输出端连接。

2、优选的,所述电源电路包括用于输出稳定电压的稳压电路、用于对各传感器进行供电的多个第一分压电路、以及用于对调节电路进行供电的第二分压电路,所述稳压电路的输入端与外部电源连接,各第一分压电路的电源端、以及第二分压电路的电源端均与稳压电路的输出端连接,所述第一分压电路的输出端与对应被测传感器的电源端连接,第二分压电路的输出端与调节电路的电源端连接。

3、优选的,所述采集电路包括用于采集对应被测传感器数据的采样电路、用于前后级隔离和降低抗阻的跟随电路、以及用于对采样数据进行滤波处理的滤波电路,所述采样电路的输入端与传感器的敏感部件连接、输出端与跟随电路的输入端连接,跟随电路的输出端与滤波电路的输入端连接,滤波电路的输出端与对应开关电路的第二信号端连接。

4、优选的,所述稳压电路包括稳压芯片、电阻r1、电阻r2、电阻r3、电阻r4、电阻r5、电阻r6、电容c1、电容c2、电容c3、电容c4、电容c5、电感l1和二极管d1,所述稳压芯片的引脚1与电容c1的一端连接,电容c1的另一端分别与二极管d1的引脚3、稳压芯片的引脚8和电感l1的一端连接,电感l1的另一端分别与电容c4的一端、电容c5的一端、电阻r5的一端、以及第一分压电路和第二分压电路的电源端连接,电容c4的另一端和电容c5的另一端均接地并与稳压芯片的引脚7连接,所述电阻r5的另一端通过电阻r6接地并与稳压芯片的引脚5连接,所述稳压芯片的脚2与外部电源连接并与电阻r1的一端连接,电阻r1的另一端通过电阻r2接地并与稳压芯片的脚3连接,稳压芯片的脚4通过电阻r3接地,稳压芯片的脚6通过电容c3接地并与电阻r4的一端连接,电阻r4的另一端通过电容c2接地,所述稳压芯片的脚9接地。

5、优选的,所述第一分压电路包括第一稳压器、电容c6和电容c7,所述第一稳压器的脚2通过电容c6接地并与电阻r5的一端连接,第一稳压器的脚3通过电容c7接地,所述第一稳压器的脚1接地、脚3与对应传感器的电源端连接,所述第二分压电路包括第二稳压器、电容c8、电容c9、电容c10、电容c11、电容c12、电阻r7和电阻r8,所述第二稳压器的脚1分别与电阻r7的一端、电容c8的一端、电容c9的一端和电阻r5的一端连接,电容c8的另一端和电容c9的另一端均接地,所述第二稳压器的脚3通过电阻r8接地并与电阻r7的另一端连接,第二稳压器的脚5分别通过电容c10和电容c11接地,第二稳压器的脚4通过电容c12接地、脚2接地,所述调节电路的电源端与第二稳压器的脚5连接。

6、优选的,所述采样电路包括电容c13和电阻r9,所述电容c13的一端和电阻r9的一端均与传感器的敏感元件连接,并与跟随电路的输入端连接,电容c13的另一端和电阻r9的另一端均接地,所述跟随电路包括电压跟随器、电压比较器、电阻r10、电容c14和电容c15,所述电压跟随器的第一输入端分别与电容c13的一端和电阻r9的一端连接,电压跟随器的输出端分别与电压跟随器的第二输入端和电阻r10的一端连接,电阻r10的另一端通过电容c14接地并与电压比较器的第一输入端连接,所述电压比较器的输出端分别与电压比较器的第二输入端和滤波电路的输入端连接,电压比较器的电源端与第一分压电路输出电源连接并通过电容c15接地,所述滤波电路包括电阻r11和电容c16,电阻r11的一端与电压比较器的输出端连接、另一端通过电容c16接地,电阻r11的另一端还与开关电路的第二信号端连接。

7、优选的,所述开关电路采用tmux1108芯片,开关电路通过八个通道调节端与各滤波电路的电阻r11另一端连接,所述调节电路采用stm32f103rct6芯片,所述调节电路通过四组信号调节端与各开关电路的信号端连接。

8、优选的,所述稳压芯片采用tps54540dda芯片,第一稳压器采用md7350芯片,第二稳压器采用tps73633dbvr芯片,所述电压跟随器和电压比较器均采用gs8552-mr芯片。

9、优选的,所述测试座包括第一安装件、与第一安装件顶部连接的第二安装件、以及凸出与第一安装件底部的通气管道,所述通气管道远离第一安装件的一端与测试电路板顶部连接,第二安装件顶部设有多个插孔,被测传感器的各引脚对应的插接于各插孔内,插接于安装座上的被测传感器各引脚分别与采样电路和第一分压电路电连接。

10、优选的,所述第二安装件内设有容纳腔,第二安装件的顶部设有容纳腔与部外部连通的开口、周侧设有容纳腔与外部连通的多个凹槽,所述第一安装座内设有两端分别与容纳腔和通气管道连通的连接通道,各插孔均布置于连接通道外侧,插孔的一端与容纳腔连通、另一端贯通于第一安装件底部外。

11、本技术公开的用于多传感器的老化测试装置,该老化测试装置包括测试电路板、以及间隔布置于测试电路板上的多个用于插接被测传感器的测试座,被测传感器能够插接于对应测试座上并与对应测试电路电连接,当被测传感器通电运行后,被测传感器会在测试环境下进行老化测试,此时,采集电路可通过对被测传感器的数据采集得知老化数据,可便于测试员了解被测传感器的老化程度,有利于保障被测传感器的本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于多传感器的老化测试装置,其特征在于,包括:测试电路板、以及间隔布置于测试电路板上的多个用于插接被测传感器的测试座,被测传感器能够插接于对应测试座上并与对应测试电路电连接,所述测试电路板上包含有与测试座对应的多个测试电路,所述测试座包括能够与被测传感器信号管脚连接的信号输入端和与一测试电路的采集信号输入端连接的信号输出端;

2.根据权利要求1所述的用于多传感器的老化测试装置,其特征在于:所述电源电路包括用于输出稳定电压的稳压电路、用于对各传感器进行供电的多个第一分压电路、以及用于对调节电路进行供电的第二分压电路,所述稳压电路的输入端与外部电源连接,各第一分压电路的电源端、以及第二分压电路的电源端均与稳压电路的输出端连接,所述第一分压电路的输出端与对应被测传感器的电源端连接,第二分压电路的输出端与调节电路的电源端连接。

3.根据权利要求1所述的用于多传感器的老化测试装置,其特征在于:所述采集电路包括用于采集对应被测传感器数据的采样电路、用于前后级隔离和降低抗阻的跟随电路、以及用于对采样数据进行滤波处理的滤波电路,所述采样电路的输入端与传感器的敏感部件连接、输出端与跟随电路的输入端连接,跟随电路的输出端与滤波电路的输入端连接,滤波电路的输出端与对应开关电路的第二信号端连接。

4.根据权利要求3所述的用于多传感器的老化测试装置,其特征在于:所述稳压电路包括稳压芯片、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、电容C1、电容C2、电容C3、电容C4、电容C5、电感L1和二极管D1,所述稳压芯片的引脚1与电容C1的一端连接,电容C1的另一端分别与二极管D1的引脚3、稳压芯片的引脚8和电感L1的一端连接,电感L1的另一端分别与电容C4的一端、电容C5的一端、电阻R5的一端、以及第一分压电路和第二分压电路的电源端连接,电容C4的另一端和电容C5的另一端均接地并与稳压芯片的引脚7连接,所述电阻R5的另一端通过电阻R6接地并与稳压芯片的引脚5连接,所述稳压芯片的脚2与外部电源连接并与电阻R1的一端连接,电阻R1的另一端通过电阻R2接地并与稳压芯片的脚3连接,稳压芯片的脚4通过电阻R3接地,稳压芯片的脚6通过电容C3接地并与电阻R4的一端连接,电阻R4的另一端通过电容C2接地,所述稳压芯片的脚9接地。

5.根据权利要求4所述的用于多传感器的老化测试装置,其特征在于:

6.根据权利要求5所述的用于多传感器的老化测试装置,其特征在于:

7.根据权利要求6所述的用于多传感器的老化测试装置,其特征在于:所述开关电路采用TMUX1108芯片,开关电路通过八个通道调节端与各滤波电路的电阻R11另一端连接,所述调节电路采用STM32F103RCT6芯片,所述调节电路通过四组信号调节端与各开关电路的信号端连接。

8.根据权利要求7所述的用于多传感器的老化测试装置,其特征在于:所述稳压芯片采用TPS54540DDA芯片,第一稳压器采用MD7350芯片,第二稳压器采用TPS73633DBVR芯片,所述电压跟随器和电压比较器均采用GS8552-MR芯片。

9.根据权利要求8所述的用于多传感器的老化测试装置,其特征在于:所述测试座包括第一安装件、与第一安装件顶部连接的第二安装件、以及凸出与第一安装件底部的通气管道,所述通气管道远离第一安装件的一端与测试电路板顶部连接,第二安装件顶部设有多个插孔,被测传感器的各引脚对应的插接于各插孔内,插接于安装座上的被测传感器各引脚分别与采样电路和第一分压电路电连接。

10.根据权利要求9所述的用于多传感器的老化测试装置,其特征在于:所述第二安装件内设有容纳腔,第二安装件的顶部设有容纳腔与部外部连通的开口、周侧设有容纳腔与外部连通的多个凹槽,所述第一安装座内设有两端分别与容纳腔和通气管道连通的连接通道,各插孔均布置于连接通道外侧,插孔的一端与容纳腔连通、另一端贯通于第一安装件底部外。

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【技术特征摘要】

1.一种用于多传感器的老化测试装置,其特征在于,包括:测试电路板、以及间隔布置于测试电路板上的多个用于插接被测传感器的测试座,被测传感器能够插接于对应测试座上并与对应测试电路电连接,所述测试电路板上包含有与测试座对应的多个测试电路,所述测试座包括能够与被测传感器信号管脚连接的信号输入端和与一测试电路的采集信号输入端连接的信号输出端;

2.根据权利要求1所述的用于多传感器的老化测试装置,其特征在于:所述电源电路包括用于输出稳定电压的稳压电路、用于对各传感器进行供电的多个第一分压电路、以及用于对调节电路进行供电的第二分压电路,所述稳压电路的输入端与外部电源连接,各第一分压电路的电源端、以及第二分压电路的电源端均与稳压电路的输出端连接,所述第一分压电路的输出端与对应被测传感器的电源端连接,第二分压电路的输出端与调节电路的电源端连接。

3.根据权利要求1所述的用于多传感器的老化测试装置,其特征在于:所述采集电路包括用于采集对应被测传感器数据的采样电路、用于前后级隔离和降低抗阻的跟随电路、以及用于对采样数据进行滤波处理的滤波电路,所述采样电路的输入端与传感器的敏感部件连接、输出端与跟随电路的输入端连接,跟随电路的输出端与滤波电路的输入端连接,滤波电路的输出端与对应开关电路的第二信号端连接。

4.根据权利要求3所述的用于多传感器的老化测试装置,其特征在于:所述稳压电路包括稳压芯片、电阻r1、电阻r2、电阻r3、电阻r4、电阻r5、电阻r6、电容c1、电容c2、电容c3、电容c4、电容c5、电感l1和二极管d1,所述稳压芯片的引脚1与电容c1的一端连接,电容c1的另一端分别与二极管d1的引脚3、稳压芯片的引脚8和电感l1的一端连接,电感l1的另一端分别与电容c4的一端、电容c5的一端、电阻r5的一端、以及第一分压电路和第二分压电路的电源端连接,电容c4的另一端和电容c5的另一端均接地并与稳压芯片的引脚7连接,所述电阻r5的另一端通过电...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐天意祝顺杰谈天徐寅虎
申请(专利权)人:天津新智感知科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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