太赫兹调频连续波RCS测量系统及方法技术方案

本发明专利技术涉及RCS测量技术，目的在于提供太赫兹调频连续波RCS测量系统及方法，系统包括准光系统、雷达测试系统、采集设备和处理设备，雷达测试系统用于发射和接收太赫兹波束；准光系统包括抛物面反射镜、分束镜、转台和聚焦透镜，抛物面反射镜设置于太赫兹球面波束信号的传输路径上；转台上设有目标空间区域，位于太赫兹平面波束信号的传输路径；聚焦透镜和分束镜均设置于太赫兹平面回波信号的传输路径；采集设备与雷达测试系统连接；处理设备与采集设备连接，处理设备用于通过测试目标的目标数据以及定标体的RCS值和定标数据，确定测试目标的RCS值。该系统在近距离得到测试目标的RCS值，无需近远场变换，提高了RCS的测量精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及rcs测量，具体涉及太赫兹调频连续波rcs测量系统及方法。

技术介绍

1、电磁散射特性是指当雷达辐射出的电磁波照射到物体时，物体表面感应电流发生辐射形成的散射波所包含的各种信息。电磁散射特性测量是指通过实验仪器或专业测试设备试获取目标的雷达散射截面积（radarcrosssection, rcs）及其统计特性、角闪烁及其统计特性、极化散射矩阵、多散射中心分布等信息，是评估装备雷达隐身能力的有效手段。其大小受信号频率、极化方式、入射角度等雷达参数影响，同时也受目标的尺寸、形状、结构和材料等因素影响。随着科技的不断进步，在rcs测量领域，对准确测量目标rcs提出了更高的要求。

2、目前，对目标rcs测量研究的主要方法包括：

3、1、通过理论建模、仿真模拟的理论计算，通过计算电磁学方法对目标rcs特征进行计算，但是当目标的形状和材料变得复杂时，难以获得精确的解；

4、2、实际测量，在装备生产、验收、使用和维修维护等各个环节中均扮演者重要角色，可以获得目标在场景中更为真实的电磁散射数据；然而在研究如舰船等超大尺寸目本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.太赫兹调频连续波RCS测量系统，其特征在于，包括准光系统(10)、雷达测试系统(20)、采集设备(30)和处理设备(40)，

2.根据权利要求1所述的太赫兹调频连续波RCS测量系统，其特征在于，所述雷达测试系统(20)包括调频源(23)、功分器(24)、发射倍频链路(211)、本振倍频链路(221)、混频器(222)、中频放大器(224)、发射天线(212)和接收天线(223)；

3.根据权利要求2所述的太赫兹调频连续波RCS测量系统，其特征在于，所述发射天线(212)设置于抛物面反射镜(11)的焦点上，且发射天线(212)的相位中心位于抛物面反射镜(11)的...

【技术特征摘要】

1.太赫兹调频连续波rcs测量系统，其特征在于，包括准光系统(10)、雷达测试系统(20)、采集设备(30)和处理设备(40)，

2.根据权利要求1所述的太赫兹调频连续波rcs测量系统，其特征在于，所述雷达测试系统(20)包括调频源(23)、功分器(24)、发射倍频链路(211)、本振倍频链路(221)、混频器(222)、中频放大器(224)、发射天线(212)和接收天线(223)；

3.根据权利要求2所述的太赫兹调频连续波rcs测量系统，其特征在于，所述发射天线(212)设置于抛物面反射镜(11)的焦点上，且发射天线(212)的相位中心位于抛物面反射镜(11)的焦平面上。

4.根据权利要求2所述的太赫兹调频连续波rcs测量系统，其特征在于，所述接收天线(223)设置于聚焦透镜(12)的焦点上，且接收天线(223)的相位中心位于聚焦透镜(12)的焦平面上。

5.根据权利要求2所述的太赫兹调频连续波rcs测量系统，其特征在于，所述中频放大器(224)的输出端与采集设备(...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡伟东，檀桢，张凯旗，许志浩，乔石，闫俣西，
申请(专利权)人：北京理工大学，
类型：发明
国别省市：