【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试，具体为一种防止芯片掉落丢失的自动检测装置。
技术介绍
1、在存储芯片测试领域，主要的芯片自动下料和高低温测试环境控制设备主要有日本adv test公司提供的m6242型和韩国teachwing公司提供的tw350型，在tw350机型上，存在一个明显的设计缺陷，导致在测试过程芯片从缺陷部位掉落到设备内部，由于设备内部存在很多部件和缝隙、且一些芯片的表面还未刻印标识内容，此外一些客户要求从机台内部找到的芯片不能再当作正常产品继续使用，这意味着芯片掉落后很难找到，其次是及时找到了，也有很多无法继续使用，导致芯片丢失的数量很多；
2、在芯片测试过程中，一部分芯片由于设备的真空异常导致从取放芯片的真空吸嘴上掉落，这类异常设备吸嘴会报警，可以发现，并停机寻找掉落的芯片；
3、但大部分丢失发生在从集中转运芯片的大托盘内，在上下料时会出现批量掉落，芯片掉落的过程中无法主动发现，只能在整个批次测试结束后开始点数时才能发现数量有缺失，芯片丢失问题造成开展芯片测试业务的公司生产品质和业务能力口碑受损，在与相同业...
【技术保护点】
1.一种防止芯片掉落丢失的自动检测装置，包括漏斗装置主体，其特征在于：所述漏斗装置主体由两种尺寸的防静电亚克力板组成，分别为第一大板(1)和第二大板(2)以及第一小板(3)和第二小板(4)，所述第一大板(1)、第二大板(2)、第一小板(3)、第二小板(4)的侧边都开设有特殊倾角且适配的切面(19)，所述第一大板(1)、第二大板(2)、第一小板(3)、第二小板(4)的切面(19)开设有嵌装槽(14)，所述嵌装槽(14)内固定有磁铁块，所述第一大板(1)、第二大板(2)、第一小板(3)、第二小板(4)的侧边通过磁铁块吸附连接形成漏斗，所述第一大板(1)和第二大板(2)的外...
【技术特征摘要】
1.一种防止芯片掉落丢失的自动检测装置，包括漏斗装置主体，其特征在于：所述漏斗装置主体由两种尺寸的防静电亚克力板组成，分别为第一大板(1)和第二大板(2)以及第一小板(3)和第二小板(4)，所述第一大板(1)、第二大板(2)、第一小板(3)、第二小板(4)的侧边都开设有特殊倾角且适配的切面(19)，所述第一大板(1)、第二大板(2)、第一小板(3)、第二小板(4)的切面(19)开设有嵌装槽(14)，所述嵌装槽(14)内固定有磁铁块，所述第一大板(1)、第二大板(2)、第一小板(3)、第二小板(4)的侧边通过磁铁块吸附连接形成漏斗，所述第一大板(1)和第二大板(2)的外壁尾端均固定连接有固定块(7)，两个所述固定块(7)的尾端固定连接有传感器安装座(9)，所述传感器安装座(9)的尾端螺纹连接有芯片检测传感器(10)。
2.根据权利要求1所述的一种防止芯片掉落丢失的自动检测装置，其特征在于：所述漏斗装置主体贯穿式安装于载板(5)，所述载板...
【专利技术属性】
技术研发人员：韩晓光，张海波，冯德猛，申关成，吴文堂，
申请(专利权)人：沛顿科技深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：
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