System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种基于时空编码的磁共振k空间轨迹测量方法技术_技高网

一种基于时空编码的磁共振k空间轨迹测量方法技术

技术编号:41233768 阅读:4 留言:0更新日期:2024-05-09 23:48
本发明专利技术公开了一种基于时空编码的磁共振k空间轨迹测量方法,本发明专利技术是一种基于时空编码相位特性的磁共振脉冲序列方法。包括基于时空编码的磁共振k空间轨迹测量的脉冲序列,以及基于时空编码相位特性的k空间轨迹计算方法,可以实现任意k空间轨迹的快速测量,而且采样信噪比远高于传统相位测量法,不受k值大小的影响,有助于推动磁共振快速成像方法、磁共振指纹成像方法的发展应用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于磁共振成像(magnetic resonance imaging,mri)方法领域,尤其涉及一种基于时空编码的磁共振k空间轨迹测量方法。该方法基于时空编码原理,设计测量k空间轨迹的新型脉冲序列,可以实现k空间的快速高信噪比测量。本专利技术可以广泛应用于任意磁共振成像方法的k空间轨迹测量,提高磁共振图像重建的质量,有助于进一步推动磁共振快速成像方法、磁共振指纹成像方法的发展应用。


技术介绍

1、磁共振成像是目前临床最常用的影像学方法之一,提供高分辨率、高对比度的组织影像信息。在磁共振成像领域,将信号采集空间称为k空间。信号经梯度编码后进行采样,采样时编码梯度的k值是编码梯度随时间的积分与核自旋的旋磁比的乘积。

2、目前,临床常用的磁共振成像方法通常使用笛卡尔采样方法,采样信号逐行填充至k空间,再通过快速傅里叶变换(fft)进行图像重建。而磁共振快速成像方法、磁共振指纹成像方法等需要填充效率高、欠采样加速易于实现的k空间轨迹,往往采用螺旋(spiral)、放射状(radial)等非笛卡尔采样轨迹,使用非均匀快速傅里叶变换(nufft)进行图像重建。非笛卡尔采样的k空间轨迹会显著受到梯度延迟、涡流效应等的影响,从而导致严重的图像重建伪影。一种典型的解决方法,是对编码梯度的实际k空间轨迹进行测量,根据实际测量得到的k空间轨迹进行图像重建,从而消除梯度延迟、涡流效应的影响。

3、目前,对k空间轨迹进行测量的方法主要有duyn等人[simple correction methodfor k-space trajectory deviations in mri[j].journal of magnetic resonance,1998,132(1):150-153.]提出的选层相位测量法及其衍生的一些改进方法,利用偏离中心选层的信号相位来计算k空间轨迹,该方法中采样信号的相位与k值大小成正比。然而,当k值增大时,信号会快速衰减,而且,当k值等于层厚倒数的倍数时信号被损毁,容易产生相位错误,严重限制了该方法用于较大k值轨迹的测量。vannesjo等人[gradient systemcharacterization by impulse response measurements with a dynamic field camera[j].magnetic resonance in medicine,2013,69(2):583-593.]提出梯度脉冲响应模型来预测k空间轨迹,把梯度系统理解为线性时不变系统,通过施加一系列不同的梯度,计算梯度的脉冲响应函数来预测实际的k空间轨迹。该方法因为采样次数多,无法在每次mri扫描前都进行k空间轨迹测量。因此,应用该方法要求梯度系统具有长时间的稳定性。

4、本专利技术提出一种基于时空编码的磁共振k空间轨迹测量方法,通过线性扫频脉冲实现磁共振信号的时空编码。设计基于时空编码的k空间轨迹测量的脉冲序列方法,并设计该脉冲序列的采样与重建过程。该脉冲序列方法在大k值轨迹测量时能保持高信噪比,从而实现任意磁共振成像方法的k空间轨迹测量。


技术实现思路

1、本专利技术提供了一种基于时空编码的磁共振k空间轨迹测量方法,实现任意磁共振成像方法的k空间轨迹测量。

2、本专利技术的上述目的通过以下技术手段来实现:

3、一种基于时空编码的磁共振k空间轨迹测量方法,包括如下步骤:

4、步骤1,设计基于时空编码的磁共振k空间轨迹测量的脉冲序列,脉冲序列包括线性扫频脉冲、选层梯度、选层重聚梯度、编码梯度及采样模块;

5、步骤2,设置线性扫频脉冲、选层梯度、选层重聚梯度、和编码梯度的参数;

6、步骤3,选层梯度设置在梯度x轴方向,打开梯度x轴方向的编码梯度,扫描脉冲序列,采样得到第一采样信号;然后关闭梯度x轴方向的编码梯度,再次扫描脉冲序列采样得到第二采样信号;

7、步骤4,选层梯度设置在梯度y轴方向,打开梯度y轴方向的编码梯度,扫描脉冲序列,采样得到第三采样信号;然后关闭梯度y轴方向的编码梯度,再次扫描脉冲序列采样得到第四采样信号;

8、步骤5,第一采样信号的相位减去第二采样信号的相位,得到的第一采样信号与第二采样信号的相位差值进行相位去卷折,得到编码梯度在梯度x轴方向引起的稳定相位点的相位变化值,利用编码梯度在梯度x轴方向引起的稳定相位点的相位变化值,计算编码梯度的k值在梯度x轴的分量;

9、步骤6,第三采样信号的相位减去第四采样信号的相位,得到的第三采样信号与第四采样信号的相位差值进行相位去卷折,得到编码梯度在梯度y轴方向引起的稳定相位点的相位变化值,利用编码梯度在梯度y轴方向引起的稳定相位点的相位变化值,计算编码梯度的k值在梯度y轴的分量;

10、步骤7,编码梯度的k值测量值的实部为编码梯度的k值在梯度x轴的分量,编码梯度的k值测量值的虚部为编码梯度的k值在梯度y轴的分量,通过编码梯度的k值测量值随时间的变化得到测量的磁共振k空间轨迹。

11、如上所述步骤1中脉冲序列的时序为依次进行:

12、同步施加线性扫频脉冲与选层梯度;施加选层重聚梯度;同步施加编码梯度与采样模块。

13、如上所述线性扫频脉冲的中心时间与选层梯度的中心时间相一致,且线性扫频脉冲的持续时间与选层梯度的持续时间一致。

14、如上所述步骤2具体包括如下步骤:

15、线性扫频脉冲的频率调制为线性调制;根据线性扫频脉冲的扫频范围和选层层厚lw,确定选层梯度的强度和选层重聚梯度的强度;根据选层位置和选层梯度的强度,确定线性扫频脉冲的中心频率;设置选层梯度的k值ks,编码梯度的k值测量的有效范围设置为[-ks/2,ks/2]区间;选层重聚梯度的面积设为选层梯度的面积的一半;设置线性扫频脉冲的选层偏离梯度中心距离loff,且有abs(loff)>lw/2。

16、由如上所述脉冲序列获得的采样信号,对应在编码梯度作用下稳定相位点的相位变化为:

17、

18、表示在编码梯度作用下稳定相位点的相位变化,loff为线性扫频脉冲的选层偏离梯度中心距离,lw为选层层厚,ks为选层梯度的k值,ke(t)为编码梯度的k值。

19、如上所述步骤5中利用编码梯度在梯度x轴方向引起的稳定相位点的相位变化值,计算编码梯度的k值在梯度x轴的分量,具体方法为:

20、编码梯度在梯度x轴方向引起的稳定相位点的相位变化值代入至公式中的左边,并结合步骤2设置的线性扫频脉冲的选层偏离梯度中心距离loff,选层层厚lw,选层梯度的k值ks,计算得到的ke(t)值为编码梯度的k值在梯度x轴的分量;

21、所述步骤6中利用编码梯度在梯度y轴方向引起的稳定相位点的相位变化值,计算编码梯度的k值在梯度y轴的分量,具体方法为:

22、编码梯度在梯度y轴方向引起的稳定相位点的相位变化值代入至公式中的左边,并结合步骤2设本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于时空编码的磁共振k空间轨迹测量方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种基于时空编码的磁共振k空间轨迹测量方法,其特征在于,所述步骤1中脉冲序列的时序为依次进行:

3.根据权利要求2所述的一种基于时空编码的磁共振k空间轨迹测量方法,其特征在于,所述线性扫频脉冲的中心时间与选层梯度的中心时间相一致,且线性扫频脉冲的持续时间与选层梯度的持续时间一致。

4.根据权利要求3所述的一种基于时空编码的磁共振k空间轨迹测量方法,其特征在于,所述步骤2具体包括如下步骤:

5.根据权利要求4所述的一种基于时空编码的磁共振k空间轨迹测量方法,其特征在于,由所述脉冲序列获得的采样信号,对应在编码梯度作用下稳定相位点的相位变化为:

6.根据权利要求5所述的一种基于时空编码的磁共振k空间轨迹测量方法,其特征在于,

7.一种终端,包括处理器及存储介质,所述存储介质用于存储指令,其特征在于,所述处理器用于根据所述指令进行操作,以执行权利要求1至6任意一项的步骤5-7。

8.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6任意一项的步骤5-7。

...

【技术特征摘要】

1.一种基于时空编码的磁共振k空间轨迹测量方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种基于时空编码的磁共振k空间轨迹测量方法,其特征在于,所述步骤1中脉冲序列的时序为依次进行:

3.根据权利要求2所述的一种基于时空编码的磁共振k空间轨迹测量方法,其特征在于,所述线性扫频脉冲的中心时间与选层梯度的中心时间相一致,且线性扫频脉冲的持续时间与选层梯度的持续时间一致。

4.根据权利要求3所述的一种基于时空编码的磁共振k空间轨迹测量方法,其特征在于,所述步骤2具体包括如下步骤:

5.根据权利要求4...

【专利技术属性】
技术研发人员:周欣袁亚平江谋郭茜旎孙献平
申请(专利权)人:中国科学院精密测量科学与技术创新研究院
类型:发明
国别省市:

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