键盘帽高度检测方法、装置及电子设备制造方法及图纸

技术编号:41233593 阅读:10 留言:0更新日期:2024-05-09 23:48
本发明专利技术提供一种键盘帽高度检测方法、装置及电子设备,包括:通过二维图像采集设备获取键盘的二维图像;以及通过三维点云采集设备获取待检测键盘的三维点云;键盘与二维成像的相对位置关系为预设的第一位置关系;键盘与三维点云采集设备的相对位置关系为预设的第二位置关系;基于二维图像采集设备对应的第一空间坐标系,提取二维图像中键盘中预设区域的第一三维坐标;第一三维坐标Z轴对应的值设置为第一预设值;以及基于三维点云采集设备对应的第二空间坐标系,提取三维点云中键盘预设区域的第二三维坐标;基于预设投影矩阵,将第一三维坐标映射到第二三维坐标,得到图像融合结果;根据图像融合结果,确定键盘的键盘帽的高度。该方法可以增加键盘帽的高度的检测精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及机器视觉,尤其是涉及一种键盘帽高度检测方法、装置及电子设备


技术介绍

1、键盘作为电脑的主要输入设备之一,在生产过程中,由于键盘本身结构柔软,组装和测试过程中会出现键帽高低不平的情况。因此,为保证键盘出货质量,键盘生产厂家需要对键帽的高度进行检测,确保良品的输出和瑕疵品的返工。

2、目前,对于键盘键帽高度的检测,有采用键帽间隙和视野盲区形成的阴影进行粗略推算的。上述方法虽然原理简单,操作简便,但是由于受键盘本身装配位置和角度变化影响较大,精度和稳定性无法保证。进一步的,还有采用基于精密机械结构的高灵敏探针进行接触式测量的,该方法针对键盘上众多个键帽的一一戳点测量需要消耗较长时间,而且不同版型的探针位置设定工作较为繁琐,因此主要用于产品抽检,无法满足实际在线生产检测。此外,随着机器视觉技术的发展,现有技术也有使用三维点云技术,采集键盘图像进行点云数据处理,计算高度的方法,但是这些方法由于完全依赖于三维点云设备的精度,存在扫描盲区,无法进行有效的特征定位。

3、整体而言,现有的键盘帽高度检测方法在实际应用中存在检测精度较本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种键盘帽高度检测方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的键盘帽高度检测方法,其特征在于,通过二维图像采集设备获取待检测键盘的二维图像的步骤之前,所述方法包括:

3.根据权利要求2所述的键盘帽高度检测方法,其特征在于,所述第二预设值为1。

4.根据权利要求1所述的键盘帽高度检测方法,其特征在于,基于所述二维图像采集设备对应的第一空间坐标系,提取所述二维图像中所述待检测键盘中预设区域的第一三维坐标的步骤,包括:

5.根据权利要求4所述的键盘帽高度检测方法,其特征在于,根据所述更新基准区域以及所述更新目标区域,确定所述待检测键盘的...

【技术特征摘要】

1.一种键盘帽高度检测方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的键盘帽高度检测方法,其特征在于,通过二维图像采集设备获取待检测键盘的二维图像的步骤之前,所述方法包括:

3.根据权利要求2所述的键盘帽高度检测方法,其特征在于,所述第二预设值为1。

4.根据权利要求1所述的键盘帽高度检测方法,其特征在于,基于所述二维图像采集设备对应的第一空间坐标系,提取所述二维图像中所述待检测键盘中预设区域的第一三维坐标的步骤,包括:

5.根据权利要求4所述的键盘帽高度检测方法,其特征在于,根据所述更新基准区域以及所述更新目标区域,确定所述待检测键盘的键盘帽的高度的步骤,包括:

6.根据权利要求5所述的键盘帽高度检测方法,其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员:周奇
申请(专利权)人:江苏创源电子有限公司
类型:发明
国别省市:

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