厚度侦测机构制造技术

本发明专利技术涉及一种厚度侦测机构，用以测量一待测物的厚度，包括侦测臂以及光学位移感测模块。侦测臂于侦测物通过时会被抵顶而移动，且侦测臂具有一表面。该厚度侦测机构分别感测位于第一位置的侦测臂的表面以及位于第二位置的侦测臂的表面，并计算侦测臂由第一位置移动至第二位置的位移量而测量待测物的厚度。本发明专利技术厚度侦测机构的结构较简单且组件数量较少，可降低材料上的成本以及组装成本，不但具有经济效应，还可缩小厚度侦测机构的体积，可应用于各种需要进行厚度侦测机构的电子设备中。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及厚度侦测机构，尤其是涉及一种应用于电子设备的厚度侦测机构。
技术介绍
厚度侦测机构用以测量纸张或薄片的厚度，而让使用者可根据测量到的厚度来进 行后续的调整。一般而言，厚度侦测机构皆被应用于电子设备中，透过侦测厚度可强化其电 子设备的功能或者得到其它的功能。比方说，厚度侦测机构被装设于一碎纸机中，碎纸机用于绞碎纸张以防止废弃的 机密文件被他人窃取。现有碎纸机包括一碎纸通道、一碎纸刀具以及一厚度侦测机构，碎纸 刀具设置于碎纸通道的末端，用于在纸张通过碎纸通道后裁切纸张。而厚度侦测机构则设 置于碎纸通道的一侧，在纸张于碎纸通道中通过时，可由厚度侦测装置来侦测其厚度。碎纸机运行过程中，当纸张被送进碎纸机中时，厚度侦测机构可侦测纸张的厚度 从而可进一步地判断纸张厚度是否超出碎纸机的容许厚度，若该纸张未超过其容许厚度， 碎纸机可继续运行；而若该纸张超过其容许厚度，碎纸机则停止运作或可将纸张退出，以避 免碎纸机于纸张超过容许厚度的情况下运行而造成损坏。而关于现有碎纸机中的厚度侦测 机构可参考公开号为US2006/0219827A1的美国专利申请，该申请中已揭露多种厚度侦测 机构的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种厚度侦测机构，用以侦测进入一电子设备的一待测物的厚度，其特征在于，包括：侦测臂，用以于该待测物进入该电子设备时受待测物的抵顶而移动；其中该侦测臂未被该待测物抵顶时，该侦测臂位于一第一位置，而该侦测臂被该待测物抵顶时，该侦测臂位于一第二位置；以及光学位移感测模块，位于该侦测臂的一侧，用以侦测该侦测臂由该第一位置移动至该第二位置的位移量而获得该待测物的厚度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：潘永太，
申请(专利权)人：致伸科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]