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厚度侦测机构制造技术
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文档序号:4123351
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本发明涉及一种厚度侦测机构,用以测量一待测物的厚度,包括侦测臂以及光学位移感测模块。侦测臂于侦测物通过时会被抵顶而移动,且侦测臂具有一表面。该厚度侦测机构分别感测位于第一位置的侦测臂的表面以及位于第二位置的侦测臂的表面,并计算侦测臂由第一位...
该专利属于致伸科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过致伸科技股份有限公司授权不得商用。
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