System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 基于图像特征的玻璃纤维套管质量检测方法技术_技高网

基于图像特征的玻璃纤维套管质量检测方法技术

技术编号:41226515 阅读:2 留言:0更新日期:2024-05-09 23:44
本发明专利技术涉及图像处理领域,具体涉及基于图像特征的玻璃纤维套管质量检测方法,计算套管表面图像中各像素点的颜色显著值;根据像素点及局部邻域内像素点的LBP值获取像素点的纹理平整度;提取各像素点的纹理平整度共生矩阵,结合各像素点纹理平整度及局部邻域像素点的平整对比度获取各像素点的破损度;根据各像素点及相邻像素点的平整度熵得到各像素点的平整度熵相关性,进而得到各像素点的颗粒值;同时计算各像素点的颗粒离散度;根据各像素点的颗粒值及颗粒离散度得到各像素点的颗粒显著值,获取各像素点的视觉显著值;提取异常区域,根据异常区域像素点数量完成玻璃纤维套管质量检测。从而实现玻璃纤维套管质量检测,具有较高检测精度。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及图像处理领域,具体涉及基于图像特征的玻璃纤维套管质量检测方法


技术介绍

1、玻璃纤维套管是一种用于保护电线、电缆和其他管道的产品。它通常由玻璃纤维和树脂构成,具有优异的绝缘性能、耐腐蚀性和耐热性能。玻璃纤维套管常用于电力、通信、石油化工、航空航天等行业,玻璃纤维套管在保护电线、电缆和管道方面具有重要作用,能够提供安全、可靠的保护,并广泛应用于各种工业领域。

2、图像处理技术可以对玻璃纤维套管进行非接触式的快速检测,能够实现高效的自动化检测,大大提高了检测效率。同时,由于图像处理技术能够精确分析和提取图像特征,能够准确地检测出套管表面的缺陷、破损、污染等问题。图像处理技术也可以捕捉和分析玻璃纤维套管表面的图像细节,从而能够对各种类型的缺陷进行准确的检测。可以检测出表面的裂纹、气泡、结渣、断丝、破损等问题,避免了这些缺陷对套管性能和安全性的影响。

3、综上所述,本专利技术提出基于图像特征的玻璃纤维套管质量检测方法,采集纤维套管表面图像,获取各像素点的颜色显著特征以及邻域纹理平整度,进而对玻璃纤维套管破损度进行计算,同时对玻璃纤维套管图像中各像素点的颗粒显著特征进行提取,准确获取各像素点的显著性,得到视觉显著度,并结合各像素点的视觉显著值提取异常区域,实现玻璃纤维套管质量的精确检测。


技术实现思路

1、为了解决上述技术问题,本专利技术提供基于图像特征的玻璃纤维套管质量检测方法,以解决现有的问题。

2、本专利技术的基于图像特征的玻璃纤维套管质量检测方法采用如下技术方案:

3、本专利技术一个实施例提供了基于图像特征的玻璃纤维套管质量检测方法,该方法包括以下步骤:

4、获取套管表面图像并进行预处理;

5、根据套管表面图像中各像素点与局部邻域内各像素点的灰度差异得到各像素点的颜色显著值;根据像素点及局部邻域内像素点的lbp值获取像素点的纹理平整度;结合各像素点局部邻域内像素点的纹理平整度获取各像素点的纹理平整度共生矩阵,将各像素点的纹理平整度共生矩阵的对比度作为各像素点的平整对比度,结合各像素点纹理平整度及局部邻域像素点的平整对比度获取各像素点的破损度;将各像素点纹理平整度共生矩阵的熵值作为各像素点的平整度熵,根据各像素点及相邻像素点的平整度熵得到各像素点的平整度熵相关性;根据各像素点的破损度及平整度熵相关性得到各像素点的颗粒值;根据各像素点与图像中心像素点的位置关系得到各像素点的颗粒离散度;根据各像素点的颗粒值及颗粒离散度得到各像素点的颗粒显著值;

6、根据各像素点的颜色显著值以及颗粒显著值得到各像素点的视觉显著值;将视觉显著值大于阈值的像素点作为异常区域,根据异常区域像素点数量得到玻璃纤维套管缺陷比,所述缺陷比大于预设阈值时,玻璃纤维套管质量不合格,完成玻璃纤维套管质量检测。

7、优选的,所述根据套管表面图像中各像素点与局部邻域内各像素点的灰度差异得到各像素点的颜色显著值,表达式为:

8、

9、式中,分别表示像素点i、j的坐标位置,表示像素点i坐标位置与局部邻域像素点j坐标位置的欧式距离,和分别表示像素点i、j的灰度值,为控制参数。

10、优选的,所述根据像素点及局部邻域内像素点的lbp值获取像素点的纹理平整度包括:计算像素点及局部邻域内像素点的lbp值的方差,将所述方差作为像素点的纹理平整度。

11、优选的,所述结合各像素点纹理平整度及局部邻域像素点的平整对比度获取各像素点的破损度包括:

12、对于各像素点,所述破损度与像素点的平整对比度成正相关关系,与像素点的纹理平整度成负相关关系,计算像素点纹理平整度与局部邻域内各像素点纹理平整度之和的和值,将像素点平整对比度与所述和值的比值作为像素点的破损度。

13、优选的,所述根据各像素点及相邻像素点的平整度熵得到各像素点的平整度熵相关性包括:计算像素点与左、右相邻像素点的平整度熵差值绝对值,取差值绝对值的最大值,将所述最大值作为像素点的平整度熵相关性。

14、优选的,所述根据各像素点的破损度及平整度熵相关性得到各像素点的颗粒值,包括:

15、获取各像素点的破损度与平整度熵相关性的乘积,将所述乘积与所有像素点纹理平整度均值的比值作为各像素点的颗粒值。

16、优选的,所述根据各像素点与图像中心像素点的位置关系得到各像素点的颗粒离散度,表达式为:

17、

18、式中,为像素点i的颗粒离散度,为套管表面图像中心点坐标,为像素点i的坐标,、均为距离控制因子,为以自然常数e为底数的指数函数。

19、优选的,所述各像素点的颗粒显著值为各像素点的颗粒值与颗粒离散度的乘积。

20、优选的,所述各像素点的视觉显著值为各像素点的颜色显著值与颗粒显著值的加权求和。

21、优选的,所述根据异常区域像素点数量得到玻璃纤维套管缺陷比,包括:

22、统计异常区域像素点数量以及套管表面图像像素点总数,将异常区域像素点数量与套管表面图像像素点总数的比值作为玻璃纤维套管缺陷比。

23、本专利技术至少具有如下有益效果:

24、本专利技术通过采用计算机视觉领域的图像处理技术,对玻璃纤维套管质量进行检测,对玻璃纤维套管表面出现颗粒缺陷处的纹理特征进行提取分析,提高了玻璃纤维套管质量检测的准确率;

25、本专利技术通过分析套管表面图像中各像素点的颜色显著性以及颗粒显著性,获取各像素点的视觉显著值,提高了各像素点显著性的检测精度,能够对各像素点的特征进行准确表征,提高了套管表面图像中异常区域的检测精度,进而保证玻璃纤维套管质量检测准确性。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.基于图像特征的玻璃纤维套管质量检测方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:

2.如权利要求1所述的基于图像特征的玻璃纤维套管质量检测方法,其特征在于,所述根据套管表面图像中各像素点与局部邻域内各像素点的灰度差异得到各像素点的颜色显著值,表达式为:

3.如权利要求1所述的基于图像特征的玻璃纤维套管质量检测方法,其特征在于,所述根据像素点及局部邻域内像素点的LBP值获取像素点的纹理平整度包括:计算像素点及局部邻域内像素点的LBP值的方差,将所述方差作为像素点的纹理平整度。

4.如权利要求1所述的基于图像特征的玻璃纤维套管质量检测方法,其特征在于,所述结合各像素点纹理平整度及局部邻域像素点的平整对比度获取各像素点的破损度包括:

5.如权利要求1所述的基于图像特征的玻璃纤维套管质量检测方法,其特征在于,所述根据各像素点及相邻像素点的平整度熵得到各像素点的平整度熵相关性包括:计算像素点与左、右相邻像素点的平整度熵差值绝对值,取差值绝对值的最大值,将所述最大值作为像素点的平整度熵相关性。

6.如权利要求1所述的基于图像特征的玻璃纤维套管质量检测方法,其特征在于,所述根据各像素点的破损度及平整度熵相关性得到各像素点的颗粒值,包括:

7.如权利要求1所述的基于图像特征的玻璃纤维套管质量检测方法,其特征在于,所述根据各像素点与图像中心像素点的位置关系得到各像素点的颗粒离散度,表达式为:

8.如权利要求1所述的基于图像特征的玻璃纤维套管质量检测方法,其特征在于,所述各像素点的颗粒显著值为各像素点的颗粒值与颗粒离散度的乘积。

9.如权利要求1所述的基于图像特征的玻璃纤维套管质量检测方法,其特征在于,所述各像素点的视觉显著值为各像素点的颜色显著值与颗粒显著值的加权求和。

10.如权利要求1所述的基于图像特征的玻璃纤维套管质量检测方法,其特征在于,所述根据异常区域像素点数量得到玻璃纤维套管缺陷比,包括:

...

【技术特征摘要】

1.基于图像特征的玻璃纤维套管质量检测方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:

2.如权利要求1所述的基于图像特征的玻璃纤维套管质量检测方法,其特征在于,所述根据套管表面图像中各像素点与局部邻域内各像素点的灰度差异得到各像素点的颜色显著值,表达式为:

3.如权利要求1所述的基于图像特征的玻璃纤维套管质量检测方法,其特征在于,所述根据像素点及局部邻域内像素点的lbp值获取像素点的纹理平整度包括:计算像素点及局部邻域内像素点的lbp值的方差,将所述方差作为像素点的纹理平整度。

4.如权利要求1所述的基于图像特征的玻璃纤维套管质量检测方法,其特征在于,所述结合各像素点纹理平整度及局部邻域像素点的平整对比度获取各像素点的破损度包括:

5.如权利要求1所述的基于图像特征的玻璃纤维套管质量检测方法,其特征在于,所述根据各像素点及相邻像素点的平整度熵得到各像素点的平整度熵相关性包括:计算像素点与左、右相邻像素点的平...

【专利技术属性】
技术研发人员:张庭军裔俊惠东宇
申请(专利权)人:瑞纳智绝缘材料苏州有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1