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【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本公开一般而言涉及质谱法,并且特别地涉及确定质谱法中的背景离子。
技术介绍
1、在各种应用中已广泛使用不同类型的质谱法(ms)的全扫描模式,诸如飞行时间扫描质谱法(tof扫描ms)或使用四极杆的各种类型(诸如q1扫描ms)等。ms的全扫描模式极大地简化了ms方法的开发,不仅使得能够分析目标物质,而且还能够识别样品中存在的其它离子。全扫描模式通常用于非目标剖析、反应优化、化合物qc等。
2、由于信息提取依赖于全扫描质谱,因此区分“信号离子”和“背景离子”至关重要。这种区分对于需要分析非目标质荷比(m/z,下文也称为mz)值的工作流程尤其重要。此类工作流程的示例包括用于模式匹配的全谱剖析(例如,经由masspec pen进行癌症诊断)、针对化合物qc工作流程的纯度评估、以及用于反应优化的副产物识别。
3、通常,可能存在多于一个背景离子或多于一种类型的背景离子,每个具有多个同位素。这些多个离子和同位素可以定义背景mz强度模式。
4、在一些情况下,诸如在回波(echo)ms中,可能存在与两种类型的背景离子对应的两种类型的背景质谱。这两种类型可能导致分析结果出现假阳性或假阴性。在本公开中,这两种类型被称为类型1和类型2,或者等效地第一类型和第二类型,并且在下面进行解释。
5、第一类型的背景离子产生的第一类型的背景质谱可能是与样品无关的;它们的外观可能是恒定的,并且不依赖于将样品引入到质谱仪中进行质量分析。这种类型的背景离子可能源自流动相(载体溶剂)、离子源或系统污染物。因此,第一类型的质谱可
6、另一方面,第二类型的质谱可能是与样品相关的。对应的第二类型的背景离子可能源自样品溶液的基质(例如,样品溶剂峰)。这种类型的背景在样品塞定时周期与非样品定时周期之间将具有不同的强度。对于来自相同资源/测定的样品来说,它可能相对恒定,但批次之间可能不同(例如,样品在不同批次的溶剂中溶解)。
7、一些现有的方法尝试从样品谱中识别并减去背景谱。但是,这些方法有许多缺点。
8、一种现有的方法将非采样周期期间的质谱确定为类型1背景谱的估计。但是,该方法无法确定类型2背景谱。此外,即使在其对类型1背景的确定中,也无法补偿在样品塞定时周期期间潜在的类型1背景的增强或抑制。因此,通过从全谱(即,包含对应于分析中的分析物的质量峰以及背景离子(如果有的话)的谱)减去测量的背景谱,可能得出样品谱的错误值。另外,由于在一些高通量分析系统(例如,回波ms)中,时域中的样品信号彼此接近,因此该谱并不能使用这个方法提供稳定的非样品周期来提取背景ms谱。
9、另一种现有的方法测量单独“空白”样品的质谱来估计类型1和类型2背景。该方法也有几个缺点。首先,它需要额外的努力和时间来准备和测量空白样品的质谱。而且,它还带来了为所有工作流程和测定创建理想空白样品的挑战。此外,与其它方法类似,该方法不能补偿不同样品之间潜在的背景比例变化,例如,这种变化可能是由背景离子与样品的相互作用引起的。
技术实现思路
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种用于执行质谱法MS的方法,所述方法包括:
2.如权利要求1所述的方法,其中所述多次MS运行的所述子集包括所述多次MS运行中的大多数。
3.如权利要求1或2所述的方法,其中所述重现MZ值是对应强度超过阈值强度的MZ值子集的成员。
4.如前述权利要求中的任一项所述的方法,其中找到所述重现MZ值包括执行聚类分析、无监督多变量分析、受监督多变量分析、模式识别分析或最可能强度分析中的至少一种。
5.如前述权利要求中的任一项所述的方法,其中找到所述重现MZ值包括找到所述多次MS运行的子集中的对应强度是能够比较的MZ值。
6.如权利要求5所述的方法,其中找到所述重现MZ值包括:
7.如权利要求6所述的方法,其中找到所述重现MZ值包括:
8.如权利要求7所述的方法,其中所述至少一个MLR特征包括缩放因子。
9.如权利要求7所述的方法,其中所述至少一个MLR特征包括质荷比再现性测量。
10.如权利要求7所述的方法,其中所述至少一个MLR特征包括背景再现性测量。
11.如前
12.如权利要求1至权利要求10中的任一项所述的方法,其中所述背景离子包括不依赖于样品的背景离子。
13.如前述权利要求中的任一项所述的方法,还包括从所述MS数据中减去所述背景离子以导出样品数据。
14.如前述权利要求中的任一项所述的方法,其中所述多次MS运行利用液相色谱法进行样品引入。
15.如权利要求1至权利要求13中的任一项所述的方法,其中所述多次MS运行利用回波MS进行样品引入。
16.如前述权利要求中的任一项所述的方法,其中所述多次MS运行利用飞行时间质谱法。
17.如前述权利要求中的任一项所述的方法,其中所述多次MS运行包括全扫描MS。
18.如前述权利要求中的任一项所述的方法,还包括:
19.如权利要求18所述的方法,还包括利用所述缩放因子从所述MS数据中减去所述背景离子以导出样品数据。
20.如权利要求13所述的方法,还包括将所述样品数据包括在谱参考库中。
21.如前述权利要求中的任一项所述的方法,还包括从随后的MS运行中即时减去背景离子。
22.一种用于分析离子的系统,所述系统包括:
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种用于执行质谱法ms的方法,所述方法包括:
2.如权利要求1所述的方法,其中所述多次ms运行的所述子集包括所述多次ms运行中的大多数。
3.如权利要求1或2所述的方法,其中所述重现mz值是对应强度超过阈值强度的mz值子集的成员。
4.如前述权利要求中的任一项所述的方法,其中找到所述重现mz值包括执行聚类分析、无监督多变量分析、受监督多变量分析、模式识别分析或最可能强度分析中的至少一种。
5.如前述权利要求中的任一项所述的方法,其中找到所述重现mz值包括找到所述多次ms运行的子集中的对应强度是能够比较的mz值。
6.如权利要求5所述的方法,其中找到所述重现mz值包括:
7.如权利要求6所述的方法,其中找到所述重现mz值包括:
8.如权利要求7所述的方法,其中所述至少一个mlr特征包括缩放因子。
9.如权利要求7所述的方法,其中所述至少一个mlr特征包括质荷比再现性测量。
10.如权利要求7所述的方法,其中所述至少一个mlr特征包括背景再现性测量。
11.如前述权利要求中的任一项所述的方法,其中所述背景离子包括依赖于样品的...
【专利技术属性】
技术研发人员:G·伊沃什夫,刘畅,S·泰特,H·张,
申请(专利权)人:DH科技发展私人贸易有限公司,
类型:发明
国别省市:
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