【技术实现步骤摘要】
本技术涉及发光二极管上电检测的，尤其涉及一种发光二极管的上电检测装置。
技术介绍
1、当今，随着科技的进步，电子制造技术也日益发达，集成化程度越来越高，工序越来越多，结构也越来越精细，制造工艺越来越复杂，错综复杂的因素必然会导致在制造过程中隐藏着缺陷，作为电子产品竞争厂家，不断地保证其性能的高精准性，也要保证其质量的稳定性。因此对电子产品进行相关的检验也是必要的，通常这类缺陷需要在元件工作的额定功率和正常工作温度下工作1000小时左右，才能完全暴露出来。
2、在测试过程中，对每个电子元件都要测试一千个小时显然是不现实的，因此需要对电子元件施加热应力和偏压，比如进行高温动力应力试验，以加速这种缺陷的早期暴露。即对电子元件施以热、电、机等综合外力，模拟严酷的工作环境，消除加工应力及残留溶剂等物质，使潜伏性故障提前发生，尽快使电子元件通过失效浴盆特性初期阶段，尽快使失效浴盆特性通过浴盆特性初期阶段高可靠。
3、发光二极管普遍应用于挂机内机参数显示，以及主板信号提示方面，作为消费者空调参数设置显示的窗口，发光二极管的电耐久寿命性能与用户对于空调的体验息息相关。发光二极管的加电高温耐久性能试验条件一般要求在70℃±2℃下通脉冲电流，施加的电流大小为技术图纸中发光二极管0.8倍的最大正向脉冲电流值0.8ifpm，脉冲条件为：频率为1khz，占空比为1/7，连续工作1000h，实验样品为5pcs。该设备的实验电参数由对口专业设备发光二极管共阴共阳老化设备提供，在测试过程中需把抽测实验样件的器件与设备连接，现有的连接方式
4、手工烙铁焊接方式因人工作业，容易导致焊接作业过程中出现烙铁未接地出现静电损伤。以及焊接温度过高、焊接时间过长、距离灯珠胶体过近引起的晶片烧坏，此类异常操作过程难以有效察觉，造成的器件受损在加电高温耐久性过程中被放大，造成加电高温耐久实验不符合要求，造成来料筛选合格与否误判。同时在大量批次来货过程，每批次抽检实验样品需反复进行焊接作业，十分费时。
技术实现思路
1、为克服相关技术中存在的问题，本技术的目是提供一种发光二极管的上电检测装置，采用导电探针和导电板分别将发光二极管引出至测试工装的正极和负极，避免了现有技术中手工焊接对发光二极管造成的损伤，提高发光二极管的检测效率。
2、一种发光二极管的上电检测装置，包括：导电板，
3、位于导电板侧边的导电探针，发光二极管的两端分别与导电板和导电探针抵接，所述导电板和导电探针分别连接至测试工装的正极和负极。
4、本申请中发光二极管可以通过导电板和导电探针及其对应连接的导线连接至测试工装的正极和负极，在测试之前，导电板和导电探针的相对位置确定，且已经电连接至测试工装的正极和负极处，在测试过程中，只需要将发光二极管按照设定的方向放置在导电板和导电探针之间，且确保发光二极管和导电探针以及导电板电连接即可；本申请结构简单，避免了现有技术中手工焊接对发光二极管造成的损伤，提高了发光二极管的上电检测效率。
5、在本技术较佳的技术方案中，所述导电探针包括弹簧组件，所述导电探针远离导电板的一端固定，导电探针靠近导电板的一端能够在弹簧组件的作用下朝着靠近或远离导电板的方向移动。
6、本申请设置弹簧组件的作用在于调整导电探针与导电板之间的距离，确保不同尺寸的发光二极管均可以放置在导电探针和导电板之间。当发光二极管没有放置在导电板上时，导电探针与导电板之间的间隙小于发光二极管的高度，当发光二极管放置在导电板上时，导电探针在弹簧组件的作用下朝着远离导电板方向移动，直至导电探针与导电板分别与发光二极管的顶端和低端抵接，以形成测试通路。
7、在本技术较佳的技术方案中，所述导电探针还包括探针套壳和活动探针，所述活动探针的一端位于所述探针套壳的内部，并连接至测试工装的正极或负极；所述活动探针的另一端与导电板相对设置；所述弹簧组件的两端分别固定在探针套壳的内侧壁和活动探针的外侧壁。
8、本申请中探针套壳的位置是固定不动的，活动探针在弹簧组件的作用下可以相对于探针套壳进行移动，移动的方向为朝向或者远离导电板的方向。在实际操作中，本申请可以将导电探针设置在导电板的上方，这样可以直接将发光二极管放置在导电板上即可。当不同高度的发光二极管放置在导电板上时，活动探针在弹簧组件的弹力作用下缩回至不同的高度处，使得不同尺寸的发光二极管均能采用本申请装置进行固定和上电检测；有利于提高本申请上电检测装置的适用范围。
9、在本技术较佳的技术方案中，还包括测试框架，所述导电板固定在测试框架中，所述探针套壳固定在测试框架中。
10、测试框架中设置有u型结构的缺口，在缺口相对的两侧分别固定导电板和导电探针，其中，导电板为平面结构，导电探针中的探针套壳固定在测试框架内，活动探针相对于探针逃壳进行移动，以实现对不同尺寸发光二极管的固定。测试框架作为上电检测装置的框架，为导电板和导电探针提供了固定基准，配合可伸缩的活动探针实现对发光二极管的固定和电连接。
11、在本技术较佳的技术方案中，所述导电板设置有m个测试工位；每个测试工位对应一个导电探针；相邻的测试工位之间的距离大于5mm；m为大于0的整数。
12、本申请导电板为平面结构，其表面积较大，可以同时设置多个测试工位，以便于同步对多个发光二极管进行同步测试。同时相邻的测试工位之间的间隙不能太近，避免两个测试工位之间发生短路，影响测试效果。
13、在本技术较佳的技术方案中，所述导电探针靠近导电板的一端设置有抵接端，所述抵接端通过导电探针和导线连接至所述测试工装的正极或负极。
14、在本技术较佳的技术方案中，所述抵接端包括至少两个与发光二极管接触的抵接部；至少两个所述抵接部以导电探针的轴心线为中心，对称分布。
15、本实施例设置多个抵接部与发光二极管进行抵接，可以实现从不同方向和位置处对发光二极管进行固定，确保活动探针对发光二极管的固定效果，避免发光二极管在测试过程中发生位置偏移。同时，多个抵接部与发光二极管抵接，可以减少每个抵接部与发光二极管之间的作用力，避免抵接部与发光二极管之间的作用力过大，导致发光二极管表面被划伤等。
16、在本技术较佳的技术方案中，所述抵接部倾斜设置，且靠近导电板一端的抵接部朝着远离导电探针轴心线的方向倾斜；
17、至少两个所述抵接部靠近导电板一端的间隙距离大于发光二极管的尺寸。
18、本实施例中抵接部朝外倾斜设置，具体的抵接部个数可以为两个，如图1所示，也可以为任意的偶数个，偶数个抵接部对称设置在活动探针的外周侧。且多个抵接部的开叉间隙大于发光二极管的顶部尺寸，当抵接部对发光二极管进行固定时，抵接部的内侧壁卡接在发光二极管的顶部外周侧，活动探针对发光二极管的作用力分散在多个抵接部位置处，避免了对发光二极管表面的作用力过大，导致表面划伤等缺陷。同时，抵接部从多本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种发光二极管的上电检测装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种发光二极管的上电检测装置，其特征在于，所述导电探针(1)包括弹簧组件(11)，所述导电探针(1)远离导电板(2)的一端固定，导电探针(1)靠近导电板(2)的一端能够在弹簧组件(11)的作用下朝着靠近或远离导电板(2)的方向移动。
3.根据权利要求2所述的一种发光二极管的上电检测装置，其特征在于，所述导电探针(1)还包括探针套壳(14)和活动探针(13)，所述活动探针(13)的一端位于所述探针套壳(14)的内部，并连接至测试工装的正极或负极；所述活动探针(13)的另一端与导电板(2)相对设置；所述弹簧组件(11)的两端分别固定在探针套壳(14)的内侧壁和活动探针(13)的外侧壁。
4.根据权利要求3所述的一种发光二极管的上电检测装置，其特征在于，还包括测试框架(3)，所述导电板(2)固定在测试框架(3)中，所述探针套壳(14)固定在测试框架(3)中。
5.根据权利要求1所述的一种发光二极管的上电检测装置，其特征在于，所述导电板(2)设置有M个测试工位；每
6.根据权利要求1所述的一种发光二极管的上电检测装置，其特征在于，所述导电探针(1)靠近导电板(2)的一端设置有抵接端(12)，所述抵接端(12)通过导电探针(1)和导线连接至所述测试工装的正极或负极。
7.根据权利要求6所述的一种发光二极管的上电检测装置，其特征在于，所述抵接端(12)包括至少两个与发光二极管(4)接触的抵接部(121)；至少两个所述抵接部(121)以导电探针(1)的轴心线为中心，对称分布。
8.根据权利要求7所述的一种发光二极管的上电检测装置，其特征在于，所述抵接部(121)倾斜设置，且靠近导电板(2)一端的抵接部(121)朝着远离导电探针(1)轴心线的方向倾斜；
9.根据权利要求6所述的一种发光二极管的上电检测装置，其特征在于，所述抵接端(12)靠近导电板(2)的一端设置有平行于导电板(2)的抵接面(122)。
10.根据权利要求9所述的一种发光二极管的上电检测装置，其特征在于，在平行于导电板(2)所在平面方向上，所述抵接面(122)的截面面积大于导电探针(1)的截面面积。
...【技术特征摘要】
1.一种发光二极管的上电检测装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种发光二极管的上电检测装置，其特征在于，所述导电探针(1)包括弹簧组件(11)，所述导电探针(1)远离导电板(2)的一端固定，导电探针(1)靠近导电板(2)的一端能够在弹簧组件(11)的作用下朝着靠近或远离导电板(2)的方向移动。
3.根据权利要求2所述的一种发光二极管的上电检测装置，其特征在于，所述导电探针(1)还包括探针套壳(14)和活动探针(13)，所述活动探针(13)的一端位于所述探针套壳(14)的内部，并连接至测试工装的正极或负极；所述活动探针(13)的另一端与导电板(2)相对设置；所述弹簧组件(11)的两端分别固定在探针套壳(14)的内侧壁和活动探针(13)的外侧壁。
4.根据权利要求3所述的一种发光二极管的上电检测装置，其特征在于，还包括测试框架(3)，所述导电板(2)固定在测试框架(3)中，所述探针套壳(14)固定在测试框架(3)中。
5.根据权利要求1所述的一种发光二极管的上电检测装置，其特征在于，所述导电板(2)设置有m个测试工位；每个测试工位对应一个导电探针(1)...
【专利技术属性】
技术研发人员：汤龙，古湘龙，侯华金，张勇，吴卫，
申请(专利权)人：长沙格力暖通制冷设备有限公司，
类型：新型
国别省市：
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