【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及质量分析领域，具体涉及一种用于微波组件检测的产品质量分析系统。
技术介绍
1、微波组件为多个元件通过特殊工艺组装起来具备功能的功能件，如电阻器，电感器，天线塑胶振子，vc均热片，等都是微波元件，而滤波器，移向器天线等应该归类为微波组件；
2、在微波组件生产过程中，需要对其产品质量进行检测分析，了解到其产品质量的好坏，在进行微波组件的检测分析过程中，即会使用到产品质量分析系统。
3、现有的产品质量分析系统，在实际分析过程中，分析数据较为单一，不能全面化的进行微波组件的产品检测，导致最终获取到的产品检测结果偏差大可靠性低，给产品质量分析系统的使用带来了一定的影响，因此提出了一种用于微波组件检测的产品质量分析系统。
技术实现思路
1、针对现有技术中的缺陷，本专利技术提供一种用于微波组件检测的产品质量分析系统，包括尺寸检测模块、性能检测模块、适应检测模块、外观检测模块、可靠性检测模块、数据处理模块与信息发送模块；
2、所述尺寸检测模块用于对微波组件产品进行尺寸检测获取到产品尺寸检测信息；
3、所述性能检测模块用于对微波组件产品进行性能检测获取到产品性能检测信息；
4、所述适应检测模块用于对微波组件产品进行适应性检测获取到产品适应检测性信息；
5、所述外观检测模块用于对微波组件产品进行外观检测获取到产品外观检测信息；
6、所述可靠性检测模块用于对微波组件产品进行可靠性检测获取到产品可靠性检测信息
7、所述数据处理模块用于对产品尺寸检测信息、产品性能检测信息、产品适应性检测信息、产品外观检测信息与产品可靠性检测信息进行处理获取到第一分析信息、第二分析信息、第三分析信息、第四分析信息与第五分析信息；
8、所述信息发送模块用于在第一分析信息、第二分析信息、第三分析信息、第四分析信息与第五分析信息生成后，将上述信息发送到预设接收终端。
9、进一步在于，所述进行尺寸检测获取到产品尺寸检测信息的具体过程如下：将微波组件产品输送到预设位置，通过影像采集设备从正上方采集微波组件产品的影像信息，获取到微波组件产品实时影像信息，之后进行特征点采集，将实时影像信息中的几何中心点标记为点a1，将四个最外侧边角点标记为点a2、a3、a4和a5；
10、将点a1分别与a2、a3、a4和a5连线获取到线段l1、l2、l3和l4；
11、线段l1、l2、l3和l4组成产品尺寸检测信息。
12、进一步在于，所述第一分析信息包括一级尺寸分析、二级尺寸分析与三级尺寸分析；
13、所述第一分析信息的具体处理过程如下：提取出采集到的产品尺寸检测信息，对产品尺寸检测信息进行处理获取到产品实时参数信息，将至少选取x个产品实时参数信息，之后计算出x个产品实时参数信息与预设微波组件的标准信息的差值，再对x个产品实时参数信息与预设微波组件的标准信息的差值进行处理获取到实时评估参数，获取到x个实时评估参数，当x个实时评估参数超过预设范围的数量大于x/4时，即生成三级尺寸分析，当x个实时评估参数超过预设范围的数量在x/4到x/5时，即生成二级尺寸分析，当x个实时评估参数超过预设范围的数量小于x/5时，即生成一级尺寸分析。
14、进一步在于，所述实时参数信息的具体处理过程如下：提取出采集到的产品尺寸检测信息，之后从产品尺寸检测信息中提取出线段l1、l2、l3和l4，测量出线段l1的长度m1,线段l2的长度m2、线段l3的长度m3和线段l4的长度m4；
15、m1、m2、m3和m4组成实时参数信息；
16、所述实时评估参数的获取过程如下：提取出预设的微波组件标准信息，预设的微波组件标准信息中包含了标准l1长度mm1，标准l2长度mm2，标准l3长度mm3与标准l4长度mm4；
17、之后提取出实时参数信息，计算出m1与mm1的差值的绝对值m1差，m2与mm2的差值的绝对值m2差，m3与mm3的差值的绝对值m3差，m4与mm4差值的绝对值m4差；
18、最后计算出m1差、m2差、m3差与m4差的总和，即获取到实时评估参数。
19、进一步在于，所述第二分析信息包括一级性能、二级性能与三级性能；所述第二分析信息的具体处理过程如下：提取出采集到的产品性能检测信息，产品性能检测信息包括增益大小与噪声系数；
20、对增益大小与噪声系数进行评分处理获取到第一评分与第二评分；
21、计算出第一评分与第二评分的总和即获取到综合评估分；
22、当综合评估分大于预设值a1时，即生成一级性能，当综合评估分在预设值a1到a2之间时，即生成二级性能，当综合评估分小于预设值a2时，即生成三级性能。
23、进一步在于，所述对增益大小与噪声系数进行评分处理获取到第一评分与第二评分具体过程如下：
24、提取出增益大小，对其评估获取到第一评分，当增益大小大于预设值b1时，第一评分为预设值q1，当增益大小在预设值b1到b2之间时，第一评分为预设值q2，当增益大小小于预设值b2时，第一评分为预设值q3，q1＞q2＞q3，b1＞b2；
25、提取出噪音系数，对噪音系数进行评估获取到第二评分，当噪音系数大于预设值c1时，第二评分为预设值p1，当噪音系数在预设值c1到c2之间时，第二评分为预设值p2，当噪音系数小于预设值c2时，第二评分为预设值p3，p3＞p2＞p1，c2＞c1。
26、进一步在于，所述第三分析信息包括一级外观评估、二级外观评估与三级外观评估，所述第三分析的具体处理过程如下：提取出采集到产品外观检测信息，产品外观检测信息包括划痕数量、凹陷数量、裂纹数量与锈迹氧化面积；
27、当划痕数量小于预设值，凹陷数量小于预设值，裂纹数量小于预设值，锈迹氧化面积小于预设值面积时生成一级外观评估；
28、当划痕数量大于等于预设值，凹陷数量大于等于预设值，裂纹数量大于等于预设值，锈迹氧化面积大于等于预设值面积中任一个出现时生成二级外观评估；
29、当划痕数量大于等于预设值，凹陷数量大于等于预设值，裂纹数量大于等于预设值，锈迹氧化面积大于等于预设值面积中任意两个及以上出现时生成三级外观评估。
30、进一步在于，第四分析信息包括一级耐久评估、二级耐久评估与三级耐久评估，第四分析信息的具体处理过程如下：提取出采集到的产品可靠性检测信息，产品可靠性检测信息包括失效率、平均无故障工作时间与使用寿命；
31、当失效率小于预设值、平均无故障工作时间大于等于预设时长且使用寿命大于等于预设值时，即生成一级耐久评估；
32、当失效率大于等于预设值，平均无故障工作时间小于预设时长，使用寿命小于预设值中任意一个出现时，即生成二级耐久评估；
33、当失效率大于等于预设值，平均无故障工作时间小于预设时长，使用寿命小于预设值中任意两个及以上出现时，本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种用于微波组件检测的产品质量分析系统，其特征在于，包括尺寸检测模块、性能检测模块、适应检测模块、外观检测模块、可靠性检测模块、数据处理模块与信息发送模块；
2.根据权利要求1所述的一种用于微波组件检测的产品质量分析系统，其特征在于：所述进行尺寸检测获取到产品尺寸检测信息的具体过程如下：将微波组件产品输送到预设位置，通过影像采集设备从正上方采集微波组件产品的影像信息，获取到微波组件产品实时影像信息，之后进行特征点采集，将实时影像信息中的几何中心点标记为点a1，将四个最外侧边角点标记为点a2、a3、a4和a5；
3.根据权利要求1所述的一种用于微波组件检测的产品质量分析系统，其特征在于：所述第一分析信息包括一级尺寸分析、二级尺寸分析与三级尺寸分析；
4.根据权利要求3所述的一种用于微波组件检测的产品质量分析系统，其特征在于：所述实时参数信息的具体处理过程如下：提取出采集到的产品尺寸检测信息，之后从产品尺寸检测信息中提取出线段L1、L2、L3和L4，测量出线段L1的长度M1,线段L2的长度M2、线段L3的长度M3和线段L4的长度M4；
<...【技术特征摘要】
1.一种用于微波组件检测的产品质量分析系统，其特征在于，包括尺寸检测模块、性能检测模块、适应检测模块、外观检测模块、可靠性检测模块、数据处理模块与信息发送模块；
2.根据权利要求1所述的一种用于微波组件检测的产品质量分析系统，其特征在于：所述进行尺寸检测获取到产品尺寸检测信息的具体过程如下：将微波组件产品输送到预设位置，通过影像采集设备从正上方采集微波组件产品的影像信息，获取到微波组件产品实时影像信息，之后进行特征点采集，将实时影像信息中的几何中心点标记为点a1，将四个最外侧边角点标记为点a2、a3、a4和a5；
3.根据权利要求1所述的一种用于微波组件检测的产品质量分析系统，其特征在于：所述第一分析信息包括一级尺寸分析、二级尺寸分析与三级尺寸分析；
4.根据权利要求3所述的一种用于微波组件检测的产品质量分析系统，其特征在于：所述实时参数信息的具体处理过程如下：提取出采集到的产品尺寸检测信息，之后从产品尺寸检测信息中提取出线段l1、l2、l3和l4，测量出线段l1的长度m1,线段l2的长度m2、线段l3的长度m3和线段l4的长度m4；
5.根据权利要求1所述的一种用于微波组件检测的产品质量分析系统，其特征在于：所述第二分析信息包括一级性能、二级性能与三级性能；所述第二分析信息的具体处理过程如下：提取出采集到的产品性能检测信息，产品...
【专利技术属性】
技术研发人员：王爽，
申请(专利权)人：北京中讯四方科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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