基于模板匹配的硅片表面缺陷检测方法及系统技术方案

技术编号:41216501 阅读:19 留言:0更新日期:2024-05-09 23:38
本发明专利技术公开了一种基于模板匹配的硅片表面缺陷检测方法及系统,包括,采集良品硅片图像,进行自动全局阈值分割及矩形分割获取感兴趣区域;将滤波后图像进行金字塔操作,创建对应的形状轮廓,构建差异模型;利用标准硅片的训练图像对差异模型进行训练,对差异模型中的检查模板进行配准;获取待检测硅片图像提取感兴趣区域,将待检测硅片图像的感兴趣区域导入差异模型,利用检查模板进行匹配,根据匹配结果提取匹配差异。本发明专利技术利用图像金字塔增强模板匹配过程,通过多尺度匹配实现更稳健、更准确的匹配,提供缺陷的精确定位,从而提高特征检测或缺陷识别的可靠性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及太阳能光伏电池制造,更具体的,涉及一种基于模板匹配的硅片表面缺陷检测方法及系统


技术介绍

1、硅片生产是太阳能光伏电池生产当中的重要环节。硅片在生产过程当中,由于制造工艺,材料,生产设备等因素影响,往往存在色差、隐裂、崩边缺角、极小缺口等缺陷。此类缺陷会导致后续太阳能光伏电池的产品质量不达标。为保证硅片生产的良品率,需要对以上缺陷进行检测筛除。

2、传统的检测方法采用人眼方式进行检测,在准确率和效率方面都较低,存在错检,漏检的情况。而且人工操作硅片易对硅片造成污染。因此,如何通过模板匹配方式及时准确的甄别检测硅片崩边缺角等缺陷,帮助改进硅片生产流程,提高产品质量及生产效率是亟需解决的问题之一。


技术实现思路

1、为了解决上述技术问题,本专利技术提出了一种基于多维特征的复杂装备故障诊断方法及系统,以解决现有人工硅片缺陷检测方式效率低的问题。

2、本专利技术第一方面提供了一种基于模板匹配的硅片表面缺陷检测方法,包括:

3、采集良品硅片图像,将所述良品硅片图像进行本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于模板匹配的硅片表面缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种基于模板匹配的硅片表面缺陷检测方法,其特征在于,将所述良品硅片图像进行自动全局阈值分割及矩形分割,具体为:

3.根据权利要求1所述的一种基于模板匹配的硅片表面缺陷检测方法,其特征在于,对所述感兴趣区域进行均值滤波,并将滤波后图像进行金字塔操作,创建对应的形状轮廓,构建差异模型,具体为:

4.根据权利要求1所述的一种基于模板匹配的硅片表面缺陷检测方法,其特征在于,利用标准硅片的训练图像对所述差异模型进行训练,对差异模型中的检查模板进行配准,优化对应的检查模...

【技术特征摘要】

1.一种基于模板匹配的硅片表面缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种基于模板匹配的硅片表面缺陷检测方法,其特征在于,将所述良品硅片图像进行自动全局阈值分割及矩形分割,具体为:

3.根据权利要求1所述的一种基于模板匹配的硅片表面缺陷检测方法,其特征在于,对所述感兴趣区域进行均值滤波,并将滤波后图像进行金字塔操作,创建对应的形状轮廓,构建差异模型,具体为:

4.根据权利要求1所述的一种基于模板匹配的硅片表面缺陷检测方法,其特征在于,利用标准硅片的训练图像对所述差异模型进行训练,对差异模型中的检查模板进行配准,优化对应的检查模板,具体为:

5.根据权利要求4所述的一种基于模板匹配的硅片表面缺陷检测方法,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡明雪吴光栋邓耀华刘夏丽
申请(专利权)人:广东工业大学
类型:发明
国别省市:

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