【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及检测分料，更具体地说，涉及一种电子元器件的检测分料方法。
技术介绍
1、电子元器件是电子技术中的重要组成部分，它们用于控制电流、电压和电阻等，从而实现电子设备的各种功能。在现代科技发展迅猛的时代，电子元器件的种类繁多，例如：电阻、电容、电感、电位器、电子管、散热器、半导体分立器件、电声器件和微动开关等等。
2、其中，微动开关是一种常用的电子元器件，用于检测和控制电路的开关动作。微动开关通常由动连接片和静连接片连接组成，其中动连接片和静连接片的尺寸和触点的铆接质量对微动开关的性能和可靠性具有重要影响。
3、传统微动开关的尺寸测量和触点铆接检测方式通常都是依赖于人工操作，人工检测方式是依赖人工逐个微动开关在灯光下通过肉眼检测，再进行合格和不合格分类，这样人工检测的方式不仅劳动强度大，导致生产效率低，而且会存在误判或漏判的现象，从而降低检测精度，大大影响微动开关的后续使用。
4、另外，在微动开关生产领域，虽然存在一些自动化检测设备，然而，这些设备通常使用传统的测量方法，如通过机械测量和电阻测量等得到的参数来检测，检测后也是靠人工分料，从而无法实现快速和自动化检测分料。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于克服现有技术中的缺点与不足，提供一种电子元器件的检测分料方法；该检测分料方法可对电子元器件进行快速和自动化检测分料，大大提高生产效率；同时可保证检测的精度，从而提高电子元器件的生产质量。
2、为了达到上述目的，本专利技术通过
3、在上述方案中，本专利技术的采集工序对依次输送的电子元器件进行自动化图像采集，可一次性完整采集电子元器件图像信息；当检测完毕后，出料工序是直接将电子元器件出料至分料装置，完成自动分料，可对电子元器件进行快速和自动化检测分料，从而大大提高电子元器件的生产效率。另外，由于本专利技术对电子元器件进行多个角度的图像信息采集，因为可保证检测的精度，从而提高电子元器件的生产质量。
4、在检测工序中，所述依次对转台上输送的电子元器件进行多个角度的图像信息采集是指：转台为透明结构，在转台的外围和/或内圆处分别设置若干个用于采集电子元器件图片信息的采集机构，每个采集机构设置有采集工位且对电子元器件的采集面均不同；控制转台将电子元器件依次输送至每个采集工位，每个采集机构对电子元器件进行多个角度的图像信息采集。
5、每个采集机构分别包括采集安装架、摄像头和光源；所述采集安装架设置在机架上，摄像头与采集安装架连接；所述光源与摄像头相对设置，光源与摄像头之间作为采集工位。
6、在检测工序中，所述分别对电子元器件的尺寸和触点的铆接情况进行检测，并判断电子元器件是否合格是指：对每个采集机构采集到的电子元器件图片信息进行的尺寸和触点的铆接情况检测，当其中一个电子元器件图片信息的尺寸超出预设阈值或触点的铆接情况超出预设情况，则判断该电子元器件为不合格产品；否则判断该电子元器件为合格产品。
7、在分料工序中，所述设置与分料装置数量相等的出料机构，控制对应的出料机构对检测后的电子元器件进行出料，并出料至对应的分料装置是指：在转台的内圆处依次设置若干个出料机构，每个出料机构设置有出料工位，每个出料机构与对应的分料装置相对；控制转台将电子元器件依次输送至每个出料工位，对应的出料机构采用吹气的方式对检测后的电子元器件进行出料，并出料至对应的分料装置。
8、所述分料装置为不合格分料装置、合格分料装置和重检分料装置；所述出料机构为设置三个分别与不合格分料装置、合格分料装置和重检分料装置相对的不合格出料机构、合格出料机构和重检出料机构，不合格出料机构、合格出料机构和重检出料机构沿转台的转动方向依次设置；
9、控制不合格出料机构对检测结果为不合格的电子元器件采用吹气的方式进出料至不合格分料装置；
10、控制合格出料机构对检测结果为合格的电子元器件采用吹气的方式进出料至合格分料装置；
11、控制重检出料机构持续吹气，对输送至该出料工位的电子元器件出料至重检分料装置，实现对漏检的电子元器件、漏出料的电子元器件或缺少图片信息的电子元器件进行处理；所述重检分料装置的电子元器件输送至上料工序开始处，重新开始上料工序。
12、每个出料机构包括吹气阀和吹气阀安装架；所述吹气阀安装架与吹气阀连接；所述吹气阀与对应的分料装置对接，吹气阀与分料装置之间作为出料工位。
13、在理料工序和检测工序之间还包括进料检测工序；该进料检测工序是指设置光纤进料装置，光纤进料装置设置有进料工位；控制转台将电子元器件依次输送至进料工位，光纤进料装置对转台上排列输送的电子元器件进行计数并确定该电子元器件的进料角度；进料角度为该电子元器件在进料工位时转台位置时转台的转动角度。
14、每个采集工位以及不合格出料机构和合格出料机构的出料工位均预设有工位角度；工位角度为该工位与进料工位的夹角；
15、当转台将电子元器件输送至每个采集工位时，判断电子元器件的当前角度与进料角度的差值是否超出工位角度的阈值，当在阈值范围内，则控制该采集工位的采集机构对电子元器件进行图像信息采集；否则该采集机构反馈缺少图片信息；
16、当转台将电子元器件输送至合格出料机构的出料工位或不合格出料机构的出料工位时，判断电子元器件的当前角度与进料角度的差值是否超出工位角度的阈值，当在阈值范围内，则控制合格出料机构或不合格出料机构对电子元器件进行出料；否则该电子元器件被重检出料机构出料至重检分料装置；
17、当前角度为该电子元器件在当前工位对应转台的转动角度。
18、在理料工序中，所述对转动转台上输送的电子元器件进行理料排列和导流，排列好的电子元器件通过转台进入检测工序是指：设置理料装置，理料装置设置有理料工位，理料工位位于转台上方；
19、所述理料装置包括理料安装杆、理料调节板和两块导流板；所述理料安装杆设置在与理料调节板连接；所述两块导流板与理料调节板可调节连接，两块导流板之间为理料工位；
20、两块导流板对转台上的电子元器件进行理料和导流，使得电子元器件排列有序进入检测工序。
21、本专利技术方法采用多个采集机构对电子元器件进行自动化多角度图像采集并检测，根据检测结果，对不合格的产本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种电子元器件的检测分料方法，其特征在于：设置用于输送电子元器件的可转动的转台和若干个分料装置；包括依次进行的上料工序、理料工序、检测工序和分料工序；其中，上料工序是指将电子元器件分别逐个运送至转台；理料工序是指对转动转台上输送的电子元器件进行理料排列和导流，排列好的电子元器件通过转台进入检测工序；检测工序是指依次对转台上输送的电子元器件进行多个角度的图像信息采集，分别对电子元器件的尺寸和触点的铆接情况进行检测，并判断电子元器件是否合格；分料工序是指设置与分料装置数量相等的出料机构，控制对应的出料机构对检测后的电子元器件进行出料，并出料至对应的分料装置。
2.根据权利要求1所述的电器元件的检测分料方法，其特征在于：在检测工序中，所述依次对转台上输送的电子元器件进行多个角度的图像信息采集是指：转台为透明结构，在转台的外围和/或内圆处分别设置若干个用于采集电子元器件图片信息的采集机构，每个采集机构设置有采集工位且对电子元器件的采集面均不同；控制转台将电子元器件依次输送至每个采集工位，每个采集机构对电子元器件进行多个角度的图像信息采集。
3.根据权利要求2所
4.根据权利要求2所述的电器元件的检测分料方法，其特征在于：在检测工序中，所述分别对电子元器件的尺寸和触点的铆接情况进行检测，并判断电子元器件是否合格是指：对每个采集机构采集到的电子元器件图片信息进行的尺寸和触点的铆接情况检测，当其中一个电子元器件图片信息的尺寸超出预设阈值或触点的铆接情况超出预设情况，则判断该电子元器件为不合格产品；否则判断该电子元器件为合格产品。
5.根据权利要求2所述的电器元件的检测分料方法，其特征在于：在分料工序中，所述设置与分料装置数量相等的出料机构，控制对应的出料机构对检测后的电子元器件进行出料，并出料至对应的分料装置是指：在转台的内圆处依次设置若干个出料机构，每个出料机构设置有出料工位，每个出料机构与对应的分料装置相对；控制转台将电子元器件依次输送至每个出料工位，对应的出料机构采用吹气的方式对检测后的电子元器件进行出料，并出料至对应的分料装置。
6.根据权利要求5所述的电器元件的检测分料方法，其特征在于：所述分料装置为不合格分料装置、合格分料装置和重检分料装置；所述出料机构为设置三个分别与不合格分料装置、合格分料装置和重检分料装置相对的不合格出料机构、合格出料机构和重检出料机构，不合格出料机构、合格出料机构和重检出料机构沿转台的转动方向依次设置；
7.根据权利要求5所述的电器元件的检测分料方法，其特征在于：每个出料机构包括吹气阀和吹气阀安装架；所述吹气阀安装架与吹气阀连接；所述吹气阀与对应的分料装置对接，吹气阀与分料装置之间作为出料工位。
8.根据权利要求6所述的电器元件的检测分料方法，其特征在于：在理料工序和检测工序之间还包括进料检测工序；该进料检测工序是指设置光纤进料装置，光纤进料装置设置有进料工位；控制转台将电子元器件依次输送至进料工位，光纤进料装置对转台上排列输送的电子元器件进行计数并确定该电子元器件的进料角度；进料角度为该电子元器件在转台位置时转台的转动角度。
9.根据权利要求8所述的电器元件的检测分料方法，其特征在于：每个采集工位以及不合格出料机构和合格出料机构的出料工位均预设有工位角度；工位角度为该工位与进料工位的夹角；
10.根据权利要求1所述的电器元件的检测分料方法，其特征在于：在理料工序中，所述对转动转台上输送的电子元器件进行理料排列和导流，排列好的电子元器件通过转台进入检测工序是指：设置理料装置，理料装置设置有理料工位，理料工位位于转台上方；
...【技术特征摘要】
1.一种电子元器件的检测分料方法，其特征在于：设置用于输送电子元器件的可转动的转台和若干个分料装置；包括依次进行的上料工序、理料工序、检测工序和分料工序；其中，上料工序是指将电子元器件分别逐个运送至转台；理料工序是指对转动转台上输送的电子元器件进行理料排列和导流，排列好的电子元器件通过转台进入检测工序；检测工序是指依次对转台上输送的电子元器件进行多个角度的图像信息采集，分别对电子元器件的尺寸和触点的铆接情况进行检测，并判断电子元器件是否合格；分料工序是指设置与分料装置数量相等的出料机构，控制对应的出料机构对检测后的电子元器件进行出料，并出料至对应的分料装置。
2.根据权利要求1所述的电器元件的检测分料方法，其特征在于：在检测工序中，所述依次对转台上输送的电子元器件进行多个角度的图像信息采集是指：转台为透明结构，在转台的外围和/或内圆处分别设置若干个用于采集电子元器件图片信息的采集机构，每个采集机构设置有采集工位且对电子元器件的采集面均不同；控制转台将电子元器件依次输送至每个采集工位，每个采集机构对电子元器件进行多个角度的图像信息采集。
3.根据权利要求2所述的电器元件的检测分料方法，其特征在于：每个采集机构分别包括采集安装架、摄像头和光源；所述采集安装架设置在机架上，摄像头与采集安装架连接；所述光源与摄像头相对设置，光源与摄像头之间作为采集工位。
4.根据权利要求2所述的电器元件的检测分料方法，其特征在于：在检测工序中，所述分别对电子元器件的尺寸和触点的铆接情况进行检测，并判断电子元器件是否合格是指：对每个采集机构采集到的电子元器件图片信息进行的尺寸和触点的铆接情况检测，当其中一个电子元器件图片信息的尺寸超出预设阈值或触点的铆接情况超出预设情况，则判断该电子元器件为不合格产品；否则判断该电子元器件为合格产品。
5.根据权利要求2所述的电器元件的检测分料方法，其特征在于：在分料工...
【专利技术属性】
技术研发人员：庞羿俊，周海玲，
申请(专利权)人：广东敏卓机电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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