【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于电流采用，特涉及一种宽温域的ai采样装置及方法。
技术介绍
1、随着电子信息产业的发展，适用于不同工作环境的电子设备层出不穷，现有技术中的直流电压电流采样系统一般都是基于简单的欧姆定律。即电压是直接并联在待测电路的两端，测出工作电压；电流则是通过测量流过确定电阻元件端的电压从而确定对应的电流。
2、传统设计的思路存在一些不足之处:一是不考虑电压电流的突变，如果要采样一个电压电流时刻变化的电器或者电路节点，将可能会产生不稳定的数据，从而造成误差；二是缺少对转换速度的要求，部分a/d转换芯片工作速度较慢，工作效率低下。
技术实现思路
1、针对现有技术的不足，本专利技术的目的在于针对传统的ai采集装置不同的温度域测试不足，提供一种宽温域的ai采样装置及方法。该系统通用性强，适应面广。
2、本专利技术的技术方案是：一种宽温域的ai采样装置，包括电压等比例运放电路、电流采集电路、电流隔离电路、单片机，电流隔离电路输出信号作为电压等比例运放电路的输入信号；电压等比例运放电路输出信号作为单片机采集信号，其特征在于：电流隔离电路包括瞬态抑制二极管、隔离变送器和电阻r14，瞬态抑制二极管并联在输入信号上，输入信号分别接入隔离变送器，隔离变送器输出并联电阻r14，单片机采集外部温度数据，单片机的采样方法为；
3、步骤一、单片机采集每一路adc输出数据；
4、步骤二、首先，去掉每一路adc采集数据中的干扰数据，
5、干扰数据具体过
6、计算每一组数据的平均值，设置干扰数据阈值cg，如误差绝对值大于干扰数据阈值cg，即c11w＞cg，则删除该点，如小于等于则不进行处理，保留该数据；
7、步骤三、统计每一组数据被提出数据的数量，设置两级干扰数据指数c1z、c1m，被剔除数据小于c1z时，则认为存在若干扰，对数据不进行二次处理，数据处理完成；当c1m小于被剔除数据时，将剩余数据按照步骤二重新进行去掉干扰数据操作，然后从步骤二进入步骤四进行滑差计算，当c1z大于等于被剔除数据小于等于c1m之间时，进行步骤四的滑差计算；
8、步骤四、对多每一组剩下的数据进行滑差计算，具体过程为：
9、首先对剩余数据按每小组a个数据进行分组，对数据分组时，前后数据可交叉一个，然后对每小组做相互之间差值，然后求小组均值滑差c1sj，设置滑差系数b，从第二个数据计算滑差总量，如果滑差总量小于等于滑差系数b，则对该具体的数据不进行处理；如滑差总量大于滑差系数b，则对该数进行平均值系数处理。
10、根据如上所述的一种宽温域的ai采样装置，其特征在于：还包括dc/dc降压电路、降压电路采用ldo线性稳压电源。
11、根据如上所述的一种宽温域的ai采样装置，其特征在于：隔离变送器采用t1100l芯片。
12、根据如上所述的一种宽温域的ai采样装置，其特征在于：瞬态抑制二极管为smbj5.0a二极管。
13、根据如上所述的一种宽温域的ai采样装置，其特征在于：电压等比例运放电路采用sgm8554xs14g芯片。
14、根据如上所述的一种宽温域的ai采样装置，其特征在于：单片机为gd32f407vet6芯片，包括rs485通信串口，通过rs485通讯串口，上传ai数据，通过rs485通信串口接收外部温度数据。
15、根据如上所述的一种宽温域的ai采样装置，其特征在于：还包括运行指示模块，对电子数码管进行控制显示。
16、本专利技术还公开了一种宽温域的ai采样方法，其特征在于：包括以下步骤：
17、步骤一、单片机采集每一路adc输出数据，
18、步骤二、首先，去掉每一路adc采集数据中的干扰数据，
19、干扰数据具体过程为，将每一组数据划分c＝(c1，c2……，cn)，n为划分数组的数量，每一组包括f数据，如c1＝(c11，c12……，c1f)；
20、计算每一组数据的平均值，设置干扰数据阈值cg，如误差绝对值大于干扰数据阈值cg，即c11w＞cg，则删除该点，如小于等于则不进行处理，保留该数据；
21、步骤三、统计每一组数据被提出数据的数量，设置两级干扰数据指数c1z、c1m，被剔除数据小于c1z时，则认为存在若干扰，对数据不进行二次处理，数据处理完成；当c1m小于被剔除数据时，将剩余数据按照步骤二重新进行去掉干扰数据操作，然后从步骤二进入步骤四进行滑差计算，当c1z大于等于被剔除数据小于等于c1m之间时，进行步骤四的滑差计算；
22、步骤四、对多每一组剩下的数据进行滑差计算，具体过程为：
23、首先对剩余数据按每小组a个数据进行分组，对数据分组时，前后数据可交叉一个，然后对每小组做相互之间差值，然后求小组均值滑差c1sj，设置滑差系数b，从第二个数据计算滑差总量，如果滑差总量小于等于滑差系数b，则对该具体的数据不进行处理；如滑差总量大于滑差系数b，则对该数进行平均值系数处理。
24、根据如上所述的一种宽温域的ai采样方法，其特征在于：步骤四中的平均值系数处理为：处理数据的前后数据加被处理数据除以3获得新的数据。
25、根据如上所述的一种宽温域的ai采样方法，其特征在于：步骤四中的平均值系数处理为：采用被处理数据占比更大的平均值处理方式。
26、本专利技术的有益效果是：通过硬件的采样电路及软件的新算法的应用，确保正在运行的电压和电流处于正常的范围之内的高精度电压电流采样系统。
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1.一种宽温域的AI采样装置，包括电压等比例运放电路、电流采集电路、电流隔离电路、单片机，电流隔离电路输出信号作为电压等比例运放电路的输入信号；电压等比例运放电路输出信号作为单片机采集信号，其特征在于：电流隔离电路包括瞬态抑制二极管、隔离变送器和电阻R14，瞬态抑制二极管并联在输入信号上，输入信号分别接入隔离变送器，隔离变送器输出并联电阻R14，单片机采集外部温度数据，单片机的采样方法为；
2.根据权利要求1所述的一种宽温域的AI采样装置，其特征在于：还包括DC/DC降压电路、降压电路采用LDO线性稳压电源。
3.根据权利要求1所述的一种宽温域的AI采样装置，其特征在于：隔离变送器采用T1100L芯片。
4.根据权利要求1所述的一种宽温域的AI采样装置，其特征在于：瞬态抑制二极管为SMBJ5.0A二极管。
5.根据权利要求1所述的一种宽温域的AI采样装置，其特征在于：电压等比例运放电路采用SGM8554XS14G芯片。
6.根据权利要求1所述的一种宽温域的AI采样装置，其特征在于：单片机为GD32F407VET6芯片，包
7.根据权利要求1所述的一种宽温域的AI采样装置，其特征在于：还包括运行指示模块，对电子数码管进行控制显示。
8.一种宽温域的AI采样方法，其特征在于：包括以下步骤：
9.根据权利要求8所述的一种宽温域的AI采样方法，其特征在于：步骤四中的平均值系数处理为：处理数据的前后数据加被处理数据除以3获得新的数据。
10.根据权利要求8所述的一种宽温域的AI采样方法，其特征在于：步骤四中的平均值系数处理为：采用被处理数据占比更大的平均值处理方式。
...【技术特征摘要】
1.一种宽温域的ai采样装置，包括电压等比例运放电路、电流采集电路、电流隔离电路、单片机，电流隔离电路输出信号作为电压等比例运放电路的输入信号；电压等比例运放电路输出信号作为单片机采集信号，其特征在于：电流隔离电路包括瞬态抑制二极管、隔离变送器和电阻r14，瞬态抑制二极管并联在输入信号上，输入信号分别接入隔离变送器，隔离变送器输出并联电阻r14，单片机采集外部温度数据，单片机的采样方法为；
2.根据权利要求1所述的一种宽温域的ai采样装置，其特征在于：还包括dc/dc降压电路、降压电路采用ldo线性稳压电源。
3.根据权利要求1所述的一种宽温域的ai采样装置，其特征在于：隔离变送器采用t1100l芯片。
4.根据权利要求1所述的一种宽温域的ai采样装置，其特征在于：瞬态抑制二极管为smbj5.0a二极管。
5.根据权利要求1所述的一种宽...
【专利技术属性】
技术研发人员：骆福勇，
申请(专利权)人：武汉市圣祥电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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