稳定性确定系统、失效芯片的确定系统及其方法技术方案

技术编号:41209984 阅读:16 留言:0更新日期:2024-05-09 23:32
本发明专利技术涉及芯片领域,公开一种稳定性确定系统、失效芯片的确定系统及其方法,所述稳定性确定系统包括:控制装置,用于根据预设时序,向多个芯片中的一个芯片发送频率输出指令以及发送频率测试指令;及频率测量装置,用于根据频率测试指令中的所述一个芯片的标识,对所述一个芯片中的锁相环响应于频率输出指令而多次输出的频率进行测量,以获取多个输出频率,所述控制装置还用于执行:根据所述多个输出频率,确定所述一个芯片中的锁相环的稳定性参数;及根据所述稳定性参数,确定所述一个芯片的锁相环的级别。本发明专利技术可有效地确定芯片的锁相环的级别,并基于芯片的锁相环的级别准确地识别失效芯片,从而在通信模块焊接生产之前可及时剔除失效芯片。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片领域,具体地涉及一种稳定性确定系统、失效芯片的确定系统及其方法


技术介绍

1、锁相环电路在数字通信芯片以及其他各种高频芯片中有广泛的应用。数字通信芯片中使用的正交频分复用(ofdm)调制技术对时钟频率的稳定性有较高要求。但因为生产制造工艺、电源噪声等因素,锁相环电路的输出频率的稳定性也较差。

2、现有的集成电路自动测试设备具有信号采集和分析功能,但其能达到的测试精度较低,不能检测出频率稳定性失效芯片。而且,部分芯片的锁相环的输出频率稳定性变差的现象出现在工作一段时间之后,如果在现有的集成电路自动测试设备上测试会大幅增加测试机的成本。

3、如果在通信模块生产之前不能及时剔除这部分失效芯片,会使整个通信模块报废,从而造成较大的浪费和成本的提升。


技术实现思路

1、本专利技术的目的是提供一种稳定性确定系统、失效芯片的确定系统及其方法,其可有效地确定芯片的锁相环的级别,并基于芯片的锁相环的级别准确地识别失效芯片,从而在通信模块焊接生产之前可及时剔除失效芯片,降低测试成本,减本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种稳定性确定系统,其特征在于,所述稳定性确定系统包括:

2.根据权利要求1所述的稳定性确定系统,其特征在于,所述控制装置还用于执行以下操作:

3.根据权利要求1所述的稳定性确定系统,其特征在于,所述频率测量装置包括:

4.根据权利要求3所述的稳定性确定系统,其特征在于,所述控制装置还用于根据所述预设时序发送查询指令;

5.根据权利要求3所述的稳定性确定系统,其特征在于,所述控制装置还用于存储所述一个芯片的锁相环的级别、所述一个芯片的标识以及测试时间。

6.一种失效芯片的确定系统,其特征在于,所述确定系统包括:

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【技术特征摘要】

1.一种稳定性确定系统,其特征在于,所述稳定性确定系统包括:

2.根据权利要求1所述的稳定性确定系统,其特征在于,所述控制装置还用于执行以下操作:

3.根据权利要求1所述的稳定性确定系统,其特征在于,所述频率测量装置包括:

4.根据权利要求3所述的稳定性确定系统,其特征在于,所述控制装置还用于根据所述预设时序发送查询指令;

5.根据权利要求3所述的稳定性确定系统,其特征在于,所述控制装置还用于存储所述一个芯片的锁相环的级别、所述一个芯片的标识以及测试时间。

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【专利技术属性】
技术研发人员:龙艳赵晓庆甘杰黄其华陈永利侯天朋周志昊
申请(专利权)人:北京智芯微电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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