光子集成电路芯片、光耦合的方法以及测试方法技术

技术编号:41207925 阅读:18 留言:0更新日期:2024-05-09 23:29
本申请公开了光子集成电路芯片、光耦合的方法以及测试方法,其中,光子集成电路芯片包括光子计算单元;光学链路,所述光学链路包括依次连接的第一光输入结构、波导、第一光输出结构,所述第一光输入结构被配置为向所述光学链路输入光,所述第一光输出结构被配置为经由所述波导从所述光学链路输出光;参考结构,所述参考结构包括第二光输入结构、第二光输出结构以及分光器件,所述分光器件具有一个输入端口和两个输出端口,所述分光器件被配置为将输入到所述输入端口的光分配至所述两个输出端口。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及半导体,具体涉及一种光子集成电路芯片、光耦合的方法以及测试方法


技术介绍

1、光子集成电路芯片通常会光纤阵列进行耦合对准,以对光子集成电路芯片输入或输出光信号。

2、在光子计算中,在光子域完成至少一部分计算,根据获得的输出信号而获知计算的数学结果。本专利技术人发现,在实际的光子计算系统中,如何有效地将光纤耦合至对应的光子计算单元至关重要。


技术实现思路

1、本申请实施例提供一种光子集成电路芯片、光耦合的方法以及测试方法,以用于实现有效地将来自光纤的光耦合至对应的光子计算单元。

2、根据本申请的一方面,本申请一实施例提供了一种光子集成电路芯片,包括:

3、光子计算单元;

4、光学链路,所述光学链路包括依次连接的第一光输入结构、波导、第一光输出结构,所述第一光输入结构被配置为向所述光学链路输入光,所述第一光输出结构被配置为经由所述波导从所述光学链路输出光;

5、参考结构,所述参考结构包括第二光输入结构、第二光输出结构以及分光器件,所述分光器件本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光子集成电路芯片,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的光子集成电路芯片,其特征在于,还包括与所述光子计算单元光连接的目标光输入结构,所述目标光输入结构被配置为向所述光子计算单元输入光。

3.根据权利要求2所述的光子集成电路芯片,其特征在于,

4.根据权利要求2所述的光子集成电路芯片,其特征在于,

5.根据权利要求2所述的光子集成电路芯片,其特征在于,

6.一种光耦合的方法,用于对权利要求1至5中任一项所述的光子集成电路芯片进行光耦合,其特征在于,所述方法包括:

7.根据权利要求6所述的光耦合的方法,其...

【技术特征摘要】

1.一种光子集成电路芯片,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的光子集成电路芯片,其特征在于,还包括与所述光子计算单元光连接的目标光输入结构,所述目标光输入结构被配置为向所述光子计算单元输入光。

3.根据权利要求2所述的光子集成电路芯片,其特征在于,

4.根据权利要求2所述的光子集成电路芯片,其特征在于,

5.根据权利要求2所述的光子集成电路芯片,其特征在于,

6.一种光耦合的方法,用于对权利要求1至5中任一项所述的光子集成电路芯片进行光耦合,其特征在于,所述方法包括:

7.根据权利要求6所述的光耦合的方法,其特征在于,

【专利技术属性】
技术研发人员:孟怀宇沈亦晨张尚露
申请(专利权)人:上海曦智科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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