一种土壤测量方法技术

本发明专利技术公开了一种土壤测量方法，包括以下步骤：ａ、利用ＸＲＦ土壤分析仪测量土壤标样，建立并储存如下关系：待测元素的浓度Ｃ与Ｆｅ元素的特征线荧光强度ＩＦｅ、待测元素的特征线荧光强度Ｉ的关系：；ｂ、光源发出的Ｘ射线照射在待测土壤上；ｃ、探测器接收待测土壤发出的Ｘ射线荧光，得到待测土壤的谱数据；ｄ、处理单元分析出所述谱数据中Ｆｅ元素的特征线荧光强度ＩＦｅ及待测元素的特征线荧光强度Ｉ，并利用所述关系，从而得到排除土壤湿度影响的待测元素的浓度Ｃ。本发明专利技术具有操作简便快捷、测量准确性高、应用范围广等优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种土壤检测，尤其涉及一种土壤中元素的测量方法。
技术介绍
近年来，由于人口急剧增长，工业迅猛发展，固体废物不断向土壤表面堆放和倾倒，有害废水不断向土壤中渗透，大气中的有害气体及飘尘也不断随雨水降落在土壤中，导致了严重的土壤重金属污染。土壤重金属污染直接影响土壤生态系统的结构和功能，最后将对生态安全和人们的健康构成威胁。近年来由于工业发展所导致的重金属污染事件越来越多，对当地居民的生产生活产生重要影响，这就迫切需要对一些重点区域进行评估和检 X射线荧光(XRF)技术作为一种无损的多元素分析技术，操作简单、快速，在土壤元素的测量中得到了广泛的应用。 但在利用X射线荧光仪器对土壤元素进行测量时，湿度对测量有着显著的影响，而且湿度越大，对目标元素特征X射线以及散射的影响越大。如，某干燥土壤样品中Pb的浓度为600卯m，该土壤样品经过潮湿后，在湿度为30%时，经过X射线荧光仪器测量得到的Pb的浓度为400ppm，相对误差超过33%。 若要减小测量误差，则在进行土壤元素的测量时，需要对测得的待测元素的浓度进行湿度校正。 目前普遍的做法是对土壤样品进行干燥预处理，具体为将待测土壤本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种土壤测量方法，包括以下步骤：ａ、利用ＸＲＦ土壤分析仪测量土壤标样，建立并储存如下关系：待测元素的浓度Ｃ与Ｆｅ元素的特征线荧光强度Ｉ↓［Ｆｅ］、待测元素的特征线荧光强度Ｉ的关系：Ｃ＝ｆ（Ｉ，Ｉ↓［Ｆ↓［ｅ］］）；ｂ、光源发出的Ｘ射线照射在待测土壤上；ｃ、探测器接收待测土壤发出的Ｘ射线荧光，得到待测土壤的谱数据；ｄ、处理单元分析出所述谱数据中Ｆｅ元素的特征线荧光强度Ｉ↓［Ｆｅ］及待测元素的特征线荧光强度Ｉ，并利用所述关系Ｃ＝ｆ（Ｉ，Ｉ↓［Ｆ↓［ｅ］］），从而得到排除土壤湿度影响的待测元素的浓度Ｃ。

【技术特征摘要】
一种土壤测量方法，包括以下步骤a、利用XRF土壤分析仪测量土壤标样，建立并储存如下关系待测元素的浓度C与Fe元素的特征线荧光强度IFe、待测元素的特征线荧光强度I的关系 <mrow><mi>C</mi><mo>=</mo><mi>f</mi><mrow> <mo>(</mo> <mi>I</mi> <mo>,</mo> <msub><mi>I</mi><msub> <mi>F</mi> <mi>e</mi></msub> </msub> <mo>)</mo></mrow><mo>;</mo> </mrow>b、光源发出的X射线照射在待测土壤上；c、探测器接收待测土壤发出的X射线荧光，得到待测土壤的谱数据；d、处理单元分析出所述谱数据中Fe元素的特征线荧光强度IFe及待测元素的特征线荧光强度I，并利用所述关系 <mrow><mi>C</mi><mo>=</mo><mi>f</mi><mrow> <mo>(</mo> <mi>I</mi> <mo>,</mo> <msub><...

【专利技术属性】
技术研发人员：王宏，夏阿林，郭生良，寿淼均，叶华俊，
申请(专利权)人：聚光科技杭州股份有限公司，
类型：发明
国别省市：86[中国|杭州]