【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及石油勘探开发，尤其涉及一种水平井阵列电阻率测井资料层厚校正方法。
技术介绍
1、阵列电阻率测井是非常规油气藏的关键测井方法，但是包括页岩油、致密砂岩等在内的非常规油气藏通常层厚较小，在水平井钻井时由于深探测模式信号探测范围较大，受上下围岩影响严重，导致出现深、浅探测模式信号分离的现象，大大降低了储层评价精度，制约了复杂油气藏的高效开发。
2、因此，针对上述问题，亟需研究一种水平井阵列电阻率测井资料层厚校正方法，来解决水平井中阵列电阻率测井曲线相互分离的问题。
技术实现思路
1、为解决上述问题，本专利技术公开了一种水平井阵列电阻率测井资料层厚校正方法，该方法基于阵列电阻率测井信号层厚校正系数库，大幅提升了薄储层电阻率提取精度，为该类储层流体识别提供了准确的电性信息，以期为薄储层电阻率信息精准提取提供思路。
2、为实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：
3、一种水平井阵列电阻率测井资料层厚校正方法，包括如下步骤：
4、s1.输入水平井段阵列电阻率测井实测资料、水平井段对应的邻井段实测资料以及阵列电阻率测井仪器具体参数；
5、s2.选取水平井段中某个测井点，结合邻井段实测资料，判断其所在层位并获取邻层初始电阻率分布；
6、s3.建立水平井阵列电阻率测井层厚校正模型，获取第i个探测模式信号的层厚校正系数库；
7、s4.计算水平井阵列电阻率测井纵向几何因子，对当前测井点附近地层进行等效处理，
8、s5.利用步骤s3和s4，计算当前测井点附近围岩等效电阻率，并对第i个探测模式信号进行层厚校正；
9、s6.循环执行步骤s3~s5，对当前测井点仪器所有的探测模式信号进行层厚校正；
10、s7.对水平井段阵列电阻率测井实测资料所有测井点循环采用步骤s2~s6，实现整个水平井段阵列电阻率测井实测资料的层厚校正。
11、优选地，步骤s3具体包括：
12、s3.1.根据水平井中阵列电阻率测井仪器实际工作过程，建立井斜角85°情况下的三层水平层状地层模型，所述模型上下层围岩为无限厚地层且电阻率均为r0；中间地层厚度为h，电阻率为r1，中间层与上下层围岩电阻率对比度为c=r1/r0；
13、s3.2.假设阵列电阻率测井仪器共有n个探测模式，建立m*p组不同中间地层厚度hj,j=1,2,…,m以及不同电阻率对比度ck,k=1,2,…,p的三层水平层状地层模型，利用阵列电阻率测井正演方法分别计算获得m*p组模型的第1个探测模式和第i个探测模式的信号，i=2,…,n；
14、s3.3.选取步骤s3.2中某一组三层水平层状地层模型以及该模型对应的第1个探测模式的信号ra,1和第i个探测模式的信号ra,i，获取当前模型中间层的中点处到上界面的距离l，以0.05 m为采样间隔对l均匀的选取l/0.05个采样点，分别获取l/0.05个采样点处的第i个探测模式信号层厚校正系数tcfk=ra,1,k/ra,i,k,k=1,…,l/0.05；
15、s3.4.对步骤s3.2中建立的m*p组三层水平层状地层模型重复采用步骤s3.3处理，分别获取m*p组模型第i个探测模式信号在不同采样点处的层厚校正系数，采用最小二乘曲线拟合方法，对不同采样点建立第i个探测模式信号的层厚校正系数库。
16、优选地，步骤s4具体包括：
17、s4.1.建立井斜角为85°情况下v组不同电阻率对比度的水平层状单界面模型，模型上侧地层电阻率为，下侧地层电阻率为,s=1,2,…,v，这v组模型均有x个垂直测井点，利用阵列电阻率测井正演算法，计算获取v组模型分别对应的n个探测模式信号；
18、s4.2.选取步骤s4.1中第s组模型的第i个探测模式信号，利用基于纵向几何因子的信号计算公式，获取当前模型不同纵向位置ze(e=1,…,x)处的第i个探测模式信号的纵向几何因子 g i( z e)，式中ra,i(ze)表示在纵向位置ze处第i个探测模式信号值，对v组模型循环采用当前步骤处理，分别获取v组模型不同纵向位置ze(e=1,…,x)处第i个探测模式信号的纵向几何因子；
19、s4.3.选取步骤s4.2获取的v组模型第i个探测模式信号的纵向几何因子，以v组电阻率对比度和x个垂直测井点为变量，利用多项式拟合算法建立第i个探测模式信号纵向几何因子库；
20、s4.4.选取水平井段当前测井点上侧垂直深度10 m和下侧垂直深度10 m内的地层建立多层模型，所述模型设有u层，共有u-1个层界面，当前测井点在第t层，1≤t≤u，利用步骤s2获取各层界面位置za,a=1,…,u-1和各层电阻率信息rz,b,b=1,…,u，输入至步骤s4.3中获取的第i个探测模式信号纵向几何因子库中，得到各层界面处第i个探测模式信号的纵向几何因子gz,i(za,rz,a/rz,a+1)；
21、s4.5.利用基于纵向几何因子的视电阻率计算公式，获得当前测井点第i个探测模式信号上侧所有地层等效后的电阻率为：
22、 ；
23、同理，获得当前测井点第i个探测模式信号下侧所有地层等效后的电阻率为：
24、；
25、如果t=1,2，则只需要对t层下侧所有地层进行等效；如果t=u-1,u，则只需要对t层上侧所有地层进行等效，经过等效处理后，多层模型简化为三层模型。
26、本专利技术的有益效果是，本专利技术提出了一种水平井阵列电阻率测井资料层厚校正方法，通过构建水平井阵列电阻率层厚校正模型结合多项式拟合算法，建立了阵列电阻率测井不同探测模式信号的层厚校正系数库，有效解决了薄储层水平井阵列电阻率测井曲线分离的问题，可实现阵列电阻率测井曲线的逐点校正，提升了薄储层评价精度。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种水平井阵列电阻率测井资料层厚校正方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.如权利要求1所述的一种水平井阵列电阻率测井资料层厚校正方法，其特征在于，步骤s3具体包括：
3.如权利要求1所述的一种水平井阵列电阻率测井资料层厚校正方法，其特征在于，步骤s4具体包括：
【技术特征摘要】
1.一种水平井阵列电阻率测井资料层厚校正方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.如权利要求1所述的一种水平井阵列电阻率测井资料层厚校正...
【专利技术属性】
技术研发人员：乔平，王磊，袁习勇，曹富华，郭卫萍，范宜仁，
申请(专利权)人：中国石油大学华东，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。