System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种芯片测试座的自动清洁装置制造方法及图纸_技高网

一种芯片测试座的自动清洁装置制造方法及图纸

技术编号:41200037 阅读:2 留言:0更新日期:2024-05-07 22:27
本发明专利技术涉及芯片测试座清洁结构技术领域,具体为一种芯片测试座的自动清洁装置,包括测试平台,测试平台上固定有多个均布的芯片测试座,测试平台的上侧设置有定位清洁板,定位清洁板的表面开设有多个均布的贯穿孔,定位清洁板的侧壁开设有条形孔,条形孔的内腔贯穿有胶带,定位清洁板的上侧设置有压板,压板的底部对应贯穿孔处固定有压块。本发明专利技术适用于多种场景,如液晶面板表面除尘清洁、芯片表面除尘清洁、探针金手指表面除尘等等,解决了人工清洁效率低、人工清洁易损伤拇指、机台等待时间较长、产能损失较大的问题。本发明专利技术自动完成胶带清洁动作,无需人工操作,不仅大大提高了清洁效率,同时也提高了产能输出。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片测试座清洁结构,具体为一种芯片测试座的自动清洁装置


技术介绍

1、目前,现有的芯片测试座清洁方式均为手动清洁,即操作员使用胶带用拇指或者使用手动工具按压胶带至芯片测试座上表面进行粘贴清洁,手动清洁不仅会耗费大量的人力操作时间,而且清洁效率也非常低,同时,机台等待时间也较长,严重影响和降低了机台的产能,另外,拇指按压的手动清洁方式,长时间的按压作业极易损伤操作员拇指;

2、为此,提供了一种芯片测试座的自动清洁装置,实现了芯片测试座的自动清洁,极大的提高了清洁效率,同时也缩短了机台等待时间,提高了机台的产能。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种芯片测试座的自动清洁装置,解决了
技术介绍
中所提出的问题。

2、为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种芯片测试座的自动清洁装置,包括测试平台,所述测试平台上固定有多个均布的芯片测试座,所述测试平台的上侧设置有定位清洁板,所述定位清洁板的表面开设有多个均布的贯穿孔,所述定位清洁板的侧壁开设有条形孔,所述条形孔的内腔贯穿有胶带,所述定位清洁板的上侧设置有压板,所述压板的底部对应贯穿孔处固定有压块。

3、通过采用上述技术方案,当压块垂直往下移动时,压块会插入贯穿孔,从而压块最先接触到的是定位清洁板中部的胶带,并带动胶带也垂直往下移动,向下移动的胶带会贴合于芯片测试座表面,从而能够粘附其表面的杂质以及灰尘,然后压块复位,从而定位弹簧柱被释放,从而定位弹簧柱会带动定位清洁板复位,从而胶带也随之抬升复位。

4、作为本专利技术的一种优选实施方式,所述胶带的两端分别绕接于释放辊和收卷辊上,所述释放辊和收卷辊均转动安装于对应的框体内壁,所述框体的一侧壁固定有伺服电机,两个所述伺服电机均贯穿于框体且分别与释放辊和收卷辊的对应端头固定连接。

5、通过采用上述技术方案,在实际使用时,当利用胶带对芯片测试座清洁后,启动两个伺服电机使得释放辊释放胶带,另一个伺服电机带动收卷辊对使用后的胶带收卷,从而实现自动跟换胶带,方便再次进行清洁使用。

6、作为本专利技术的一种优选实施方式,所述定位弹簧柱具体由伸缩杆以及套在伸缩杆上的弹簧组成。

7、通过采用上述技术方案,使得能够在受压的情况下弹簧受力而伸缩并且在不受压的情况自动复位。

8、作为本专利技术的一种优选实施方式,所述压块的外径尺寸小于贯穿孔的内径尺寸。

9、通过采用上述技术方案,保证压块下降进入贯穿孔不受阻,避免磨损。

10、作为本专利技术的一种优选实施方式,每一个所述贯穿孔和每一个所述芯片测试座对应设置。

11、通过采用上述技术方案,保证压块下降插在贯穿孔内带动胶带对芯片测试座清洁准确。

12、作为本专利技术的一种优选实施方式,所述压块底部的外径尺寸大于芯片测试座的顶部外径尺寸。

13、通过采用上述技术方案,从而保证带动胶带下降贴合于芯片测试座进行清洁时清洁全面。

14、与现有技术相比,本专利技术的有益效果如下:

15、本申请技术方案的一种芯片测试座的自动清洁装置,通过压板下降从而带动压块下降,进而能够带动压块插入贯穿孔内使得对胶带施压,从而将胶带下压使得胶带贴合于芯片测试座表面,利用胶带将芯片测试座上的灰尘以及杂质粘附,然后再启动两个伺服电机使得进行一侧释放胶带,另一侧对使用后的胶带收卷,从而实现了快速清洁,无需人为干预,不仅提高了芯片测试座的清洁效率,同时也减少了机台的清洁等待时间,大大的提高了机台产能。

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【技术保护点】

1.一种芯片测试座的自动清洁装置,包括测试平台(1),其特征在于:所述测试平台(1)上固定有多个均布的芯片测试座(11),所述测试平台(1)的上侧设置有定位清洁板(2),所述定位清洁板(2)的表面开设有多个均布的贯穿孔(22),所述定位清洁板(2)的侧壁开设有条形孔(23),所述条形孔(23)的内腔贯穿有胶带(3),所述定位清洁板(2)的上侧设置有压板(4),所述压板(4)的底部对应贯穿孔(22)处固定有压块(41)。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试座的自动清洁装置,其特征在于:所述胶带(3)的两端分别绕接于释放辊(31)和收卷辊(32)上,所述释放辊(31)和收卷辊(32)均转动安装于对应的框体(33)内壁,所述框体(33)的一侧壁固定有伺服电机(34),两个所述伺服电机(34)均贯穿于框体(33)且分别与释放辊(31)和收卷辊(32)的对应端头固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试座的自动清洁装置,其特征在于:所述定位弹簧柱(21)具体由伸缩杆以及套在伸缩杆上的弹簧组成。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试座的自动清洁装置,其特征在于:所述压块(41)的外径尺寸小于贯穿孔(22)的内径尺寸。

5.根据权利要求1所述的一种芯片测试座的自动清洁装置,其特征在于:每一个所述贯穿孔(22)和每一个所述芯片测试座(11)对应设置。

6.根据权利要求1所述的一种芯片测试座的自动清洁装置,其特征在于:所述压块(41)底部的外径尺寸大于芯片测试座(11)的顶部外径尺寸。

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【技术特征摘要】

1.一种芯片测试座的自动清洁装置,包括测试平台(1),其特征在于:所述测试平台(1)上固定有多个均布的芯片测试座(11),所述测试平台(1)的上侧设置有定位清洁板(2),所述定位清洁板(2)的表面开设有多个均布的贯穿孔(22),所述定位清洁板(2)的侧壁开设有条形孔(23),所述条形孔(23)的内腔贯穿有胶带(3),所述定位清洁板(2)的上侧设置有压板(4),所述压板(4)的底部对应贯穿孔(22)处固定有压块(41)。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试座的自动清洁装置,其特征在于:所述胶带(3)的两端分别绕接于释放辊(31)和收卷辊(32)上,所述释放辊(31)和收卷辊(32)均转动安装于对应的框体(33)内壁,所述框体(33)的一侧壁固定有伺服电机(3...

【专利技术属性】
技术研发人员:覃卫之
申请(专利权)人:沛顿科技深圳有限公司
类型:发明
国别省市:

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