【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种高副接触润滑剂膜阻抗测量设备。
技术介绍
1、通常，电机配备有用于支撑转轴的滚动轴承，该轴承需要润滑剂来进行润滑。润滑剂在轴承滚子和滚道之间形成润滑剂膜，且润滑剂与滚子之间为高副接触，因此润滑剂膜的各方面属性对轴承的运转有着重要的影响。
2、在润滑剂膜的众多性能当中，润滑剂膜阻抗测量是解决电机支撑轴承电蚀问题的重要因素，它高度依赖于轴承接触区内的润滑剂膜形成。具体说，当解决电机支撑轴承的电腐蚀问题时，轴承阻抗是轴承抵抗轴电压和随后的腐蚀损坏的重要指标。对于全钢轴承，轴承阻抗由内圈-球和球-外圈之间的润滑剂膜决定，形成等效的并联/串联阻抗分布。这种薄膜阻抗高度依赖于机械运行条件和电负载条件。
3、在目前的方法中，轴承内部的润滑剂膜阻抗是基于理论弹性流体动压润滑方程、润滑剂介电参数和经验拟合常数来计算的。这缺乏实验验证，特别是对于油脂润滑轴承，润滑剂膜结构会受到各种因素的影响。目前虽有些设备能够测量轴承内外圈之间的电容，但对运行中的轴承内部的润滑状况只能进行粗略的评估。有的现有技术能够通过电信号捕获摩擦学测量装置的润滑状态，但无法关联到润滑剂膜厚度。目前还没有这样一种装置可以有效地实现润滑剂膜阻抗测量。
技术实现思路
1、针对上文提到的问题和需求，本公开提出了一种新型的技术方案，其由于采取了如下技术特征而解决了上述问题，并带来其他技术效果。
2、本专利技术提供一种高副接触润滑剂膜阻抗测量设备，包括：转盘，该转盘具有垂直于转盘旋转轴线
3、本专利技术提出了一种能够直接且有效测量高副接触润滑剂膜阻抗的设备，而且还能在不同的电气和机械运行条件下，直接在润滑剂膜与球的接触区内捕获真实的润滑剂膜阻抗。且当与光学薄膜轮廓相结合时，能进一步研究和评价润滑剂膜的综合性能。
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1.一种高副接触润滑剂膜阻抗测量设备，包括：
2.如权利要求1所述的高副接触润滑剂膜阻抗测量设备，其中，
3.如权利要求1所述的高副接触润滑剂膜阻抗测量设备，其中
4.如权利要求2或3所述的高副接触润滑剂膜阻抗测量设备，其中所述转盘(1)设置为镀铬透光玻璃转盘或镀铬透光蓝宝石转盘，以用于同时提取润滑剂膜的厚度信号和电信号。
5.如权利要求1所述的高副接触润滑剂膜阻抗测量设备，其中，所述转盘(1)设置为非透光导电转盘，所述第一导电部分包括与该导电转盘的外周面电接触的第一导电构件。
6.如权利要求1所述的高副接触润滑剂膜阻抗测量设备，还包括：
7.如权利要求6所述的高副接触润滑剂膜阻抗测量设备，其中，所述轴套导电层设置为附接在所述绝缘轴套(72)的外表面上的导电箔(60)，且所述第二导电构设置为与所述导电箔(60)电接触的导电线圈(61)。
8.如权利要求1所述的高副接触润滑剂膜阻抗测量设备，其中，
9.如权利要求6-7中任一项所述的高副接触润滑剂膜阻抗测量设备，还包括杠杆装置，该杠杆装置
10.如权利要求1所述的高副接触润滑剂膜阻抗测量设备，还包括：
...【技术特征摘要】
1.一种高副接触润滑剂膜阻抗测量设备，包括：
2.如权利要求1所述的高副接触润滑剂膜阻抗测量设备，其中，
3.如权利要求1所述的高副接触润滑剂膜阻抗测量设备，其中
4.如权利要求2或3所述的高副接触润滑剂膜阻抗测量设备，其中所述转盘(1)设置为镀铬透光玻璃转盘或镀铬透光蓝宝石转盘，以用于同时提取润滑剂膜的厚度信号和电信号。
5.如权利要求1所述的高副接触润滑剂膜阻抗测量设备，其中，所述转盘(1)设置为非透光导电转盘，所述第一导电部分包括与该导电转盘的外周面电接触的第一导电构件。
...【专利技术属性】
技术研发人员：周宇昕，韩波，潘云飞，陆林新，白清华，栗心明，种贺，刘金杰，
申请(专利权)人：斯凯孚公司，
类型：发明
国别省市：
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