一种用于碳化硅芯片生产的测试装置制造方法及图纸

本技术公开了一种用于碳化硅芯片生产的测试装置，包括有：支架，所述支架的顶部固定安装有置物台，所述置物台的顶部固定连接有框架；测试机构，其设置于置物台的上方，包括有推拉板和安装板；本技术通过设置第一刹车电机、凸轮、弹簧和连接板，通过启动第一刹车电机，可以使得转轴带动凸轮发生转动，凸轮转动的同时由于弹簧的弹力恢复作用，将会拉动横板向下运动，从而使得竖杆带动连接板向下运动，进而解除了对安装板的固定效果，从而能够将探针本体拆下，最终实现了便于拆卸探针本体的效果，从而便于工作人员快速更换探针本体，能够提升整体测试工作效率。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及芯片测试设备，更具体地说，本技术涉及一种用于碳化硅芯片生产的测试装置。

技术介绍

1、碳化硅芯片主要应用领域有led固体照明和高频率器件，具有高出传统硅数倍的禁带、漂移速度、击穿电压、热导率、耐高温等优良特性，工作人员经常会使用测试装置在碳化硅芯片在生产完成后对其进行质量测试，以保证芯片的合格率，虽然现有的测试装置能够实现对芯片的快速检测，然而在实际使用时，由于现有测试装置的探针在频繁的测试后会老化，影响测试精度，因此工作人员经常需要对其进行拆卸更换，但是现有测试装置的探针一般是通过多颗螺钉连接在测试装置上的，从而使得工作人员在更换探针时需要花费大量时间拆卸安装螺钉，进而导致整体测试工作效率下降，因此需要对其进行改进。

技术实现思路

1、为了克服现有技术的不足，本技术提供了一种用于碳化硅芯片生产的测试装置，具有便于更换探针的优点。

2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种用于碳化硅芯片生产的测试装置，包括：

3、支架，所述支架的顶部固定安装有置物台，所述置物台的顶部固本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于碳化硅芯片生产的测试装置，其特征在于：包括

2.根据权利要求1所述的一种用于碳化硅芯片生产的测试装置，其特征在于：包括有：

3.根据权利要求1所述的一种用于碳化硅芯片生产的测试装置，其特征在于：还包括有：

4.根据权利要求1所述的一种用于碳化硅芯片生产的测试装置，其特征在于：所述置物台(2)底部的前端固定安装有第二刹车电机(19)，所述第二刹车电机(19)输出轴的另一端固定套接有丝杠(20)，所述丝杠(20)外表面的中部螺纹套接有移动块(21)。

5.根据权利要求4所述的一种用于碳化硅芯片生产的测试装置，其特征在于：所述移动块(...

【技术特征摘要】

1.一种用于碳化硅芯片生产的测试装置，其特征在于：包括

2.根据权利要求1所述的一种用于碳化硅芯片生产的测试装置，其特征在于：包括有：

3.根据权利要求1所述的一种用于碳化硅芯片生产的测试装置，其特征在于：还包括有：

4.根据权利要求1所述的一种用于碳化硅芯片生产的测试装置，其特征在于：所述置物台(2)底部的前端固定安装有第二刹车电机(19)，所述第二刹车电机(19)输出轴的另一端固定套接有丝杠(20)，所述丝杠(20)外表面的中部螺纹套接有移动块(21)。

5.根据权利要求4...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱燕，
申请(专利权)人：圣艾克半导体苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：