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本技术公开了一种用于碳化硅芯片生产的测试装置，包括有：支架，所述支架的顶部固定安装有置物台，所述置物台的顶部固定连接有框架；测试机构，其设置于置物台的上方，包括有推拉板和安装板；本技术通过设置第一刹车电机、凸轮、弹簧和连接板，通过启动第一刹...
该专利属于圣艾克半导体（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过圣艾克半导体（苏州）有限公司授权不得商用。

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