【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于红外光学计量与光电检测，涉及一种红外辐射计光机结构，尤其涉及一种应用于高低温环境(-60℃～80℃)下的红外辐射计光机结构。
技术介绍
1、随着红外技术的发展，对红外传感器及其测试测量设备的质量要求也越来越高。尤其是弹载、机载红外传感器往往要求在很大的温度范围内工作。在高低温环境下，对红外热像仪进行mrtd、netd测试时，要求保证消热差红外差分辐射准直系统提供的辐射温差准确、稳定。我国现有的校准辐射温差的方法为：采用扫描辐射计对辐射准直系统中黑体的辐射温差准确性进行校准。但是这套方法只在实验室内常温环境下有效，而在高低温环境下失效。原因是校准设备在不同的温度条件下，由于光学材料和机械材料的热效应，使光机系统的一些参数发生相应的变化，进而使系统的最佳像面发生偏离，并且降低成像质量，图像模糊不清，对比度下降。因此借助原有校准设备无法满足军用测试仪器量值溯源需求。
2、消除热差的光机系统在设计过程中，采用一定的消热差技术消除温度效应的影响，使红外光机系统能够在一个较大的温度范围内保持良好的成像质量。但是现有红外辐射...
【技术保护点】
1.一种用于高低温环境下的红外辐射计光机结构，其特征在于，高低温环境的温度范围为：-60℃～80℃，所述光机结构包括光窗(1)、离轴抛物镜(2)、主支撑结构(3)、抛物镜座(4)、衍射透镜(5)、透镜镜筒(6)、斩波器(7)、参考黑体(8)、光学滤光器(9)、探测器(10)、探测器信号处理系统(11)；离轴抛物镜(2)通过抛物镜座(4)固定在主支撑结构(3)上，衍射透镜(5)安装在透镜镜筒(6)内，透镜镜筒(6)固定在主支撑结构(3)上，斩波器(7)放在离轴抛物镜(2)与探测器(10)之间，靠近探测器(10)侧，与垂直于光轴的子午方向成45°角，与垂直于光轴的弧矢方向...
【技术特征摘要】
1.一种用于高低温环境下的红外辐射计光机结构，其特征在于，高低温环境的温度范围为：-60℃～80℃，所述光机结构包括光窗(1)、离轴抛物镜(2)、主支撑结构(3)、抛物镜座(4)、衍射透镜(5)、透镜镜筒(6)、斩波器(7)、参考黑体(8)、光学滤光器(9)、探测器(10)、探测器信号处理系统(11)；离轴抛物镜(2)通过抛物镜座(4)固定在主支撑结构(3)上，衍射透镜(5)安装在透镜镜筒(6)内，透镜镜筒(6)固定在主支撑结构(3)上，斩波器(7)放在离轴抛物镜(2)与探测器(10)之间，靠近探测器(10)侧，与垂直于光轴的子午方向成45°角，与垂直于光轴的弧矢方向成20°角，内置参考黑体(8)垂直光轴与探测器(10)对称放置，斩波器(7)固定在主支撑结构(3)的底板上，光轴通过光学滤光器(9)的中心，探测器(10)固定在主支撑结构(3)的底板上，其光敏面的中心位于离轴抛物镜(2)的焦点处，探测器(10)的输出信号传入到探测器信号处理系统(11)。
2.如权利要求1所述的用于高低温环境下的红外辐射计光机结构，其特征在于，被测设备的准直红外辐射光束经光窗(1)透射后到达离轴抛物镜(2)，经离轴抛物镜(2)反射会聚后到达衍射透镜(5)，经衍射透镜(5)进一步会聚后到达斩波器(7)，当斩波器(7)叶片之间的空隙位于光路时，会聚的红外辐射光束经光学滤光器(9)滤光后聚焦在探测器(10)的光敏面上。当斩波器(7)的叶片实体部分位于光路时，参考黑体(8)发出的红外辐射由斩波器(7)反射到光学滤光器(9)，该红外辐射再经光学滤光器(9)滤光后，最终聚焦在探测器(10)的光敏面上。探测器(10)分别将两路红外成像转换成电信号送入到探测器信号处理系统(11)，探测器信号处理系统(11)将被测设备的红外辐射信号和参考黑体的辐射信号进行差值运算，得出所需辐射量值关系的二维图像。
3.如权利要求2所述的用于高低温环境下的红外辐射计光机结构，其特征在于，所述多光谱窗口(1)用于透过中波和长波波段的红外辐射，材料为多光谱zns。
4.如权利要求3所...
【专利技术属性】
技术研发人员：何玉兰，吴李鹏，芦峰，韩占锁，王兵，郭羽，王楠茜，王学新，李辉，张旭，杨毓鑫，
申请(专利权)人：西安应用光学研究所，
类型：发明
国别省市：
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