多传感器的标定装置和方法、非接触厚度测量设备和方法制造方法及图纸

技术编号:41185506 阅读:15 留言:0更新日期:2024-05-07 22:18
本发明专利技术提供一种多传感器的标定装置和方法、非接触厚度测量设备和方法,标定装置包括:支撑平台;厚度测量单元设置于支撑平台的一端,厚度测量单元包括O型支撑架和多组位移传感器,其中,多组位移传感器沿单一方向依次固定设置于O型支撑架上;标定单元包括C型支撑架、运动机构和一组标定传感器,C型支撑架与运动机构固定连接,运动机构用于保持C型支撑架沿多组位移传感器的设置方向运动,标定传感器固定于C型支撑架的一端,标定传感器的测量行程中心与每组位移传感器的测量行程中心处于同一水平面。本发明专利技术能够对多组位移传感器进行过程实时标定,保证了位移传感器的测量精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及非接触厚度测量,具体涉及一种多传感器的标定装置、一种多传感器的标定方法、一种非接触厚度测量设备和一种非接触厚度测量方法。


技术介绍

1、传统厚度测量设备的位移传感器需要通过来回扫描的方式测量被测物体不同位置的厚度,由于位移传感器在厚度测量的过程中会不停运动,难以实现过程标定,导致测量得到的厚度与被测物体的实际厚度存在偏差,测量精度较低,而且受机械和运动控制影响扫描速度难以提升、漏检率高;在对被测物体进行厚度测量的过程中,位移传感器的扫描方向大都与被测物体的运动方向不同,实际测量轨迹难以预测,输出的测量数据无法与被测物体准确锚定,厚度数据与被测物体存在位置偏差、定位精度低。


技术实现思路

1、本专利技术为解决上述技术问题,提供了一种多传感器的标定装置和方法、非接触厚度测量设备和方法,能够对多组位移传感器进行过程实时标定,保证了位移传感器的测量精度,有效地解决了传统厚度测量设备过程抽检数据量少,扫描速度提升困难漏检率高,厚度数据与被测物体存在位置偏差、定位精度低的问题。

<p>2、本专利技术采本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种多传感器的标定装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的多传感器的标定装置,其特征在于,还包括:

3.根据权利要求2所述的多传感器的标定装置,其特征在于,所述标定单元还包括量块,所述量块基于固定支撑架固定在所述支撑平台上,所述量块用于对所述标定传感器进行校准。

4.根据权利要求1所述的多传感器的标定装置,其特征在于,所述运动机构包括导轨和丝杆,所述导轨和所述丝杆的设置方向与所述多组位移传感器设置方向相同,所述C型支撑架与所述导轨的导轨滑块固定连接。

5.根据权利要求1-4任一项所述的多传感器的标定装置,其特征在于,还包括:<...

【技术特征摘要】

1.一种多传感器的标定装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的多传感器的标定装置,其特征在于,还包括:

3.根据权利要求2所述的多传感器的标定装置,其特征在于,所述标定单元还包括量块,所述量块基于固定支撑架固定在所述支撑平台上,所述量块用于对所述标定传感器进行校准。

4.根据权利要求1所述的多传感器的标定装置,其特征在于,所述运动机构包括导轨和丝杆,所述导轨和所述丝杆的设置方向与所述多组位移传感器设置方向相同,所述c型支撑架与所述导轨的导轨滑块固定连接。

5.根据权利要求1-4任一项所述的多传感器的标定装置,其特征在于,还包括:

6.一种基于权利要求1-5中任一项所述的多传感器的标定装置的多传感器的标定方法,其特征在于,包括以下步骤:

7.根据权利要求6所述的多传感器的标定方法,其特征在于,所述标定装置还包括第一辊筒,所述第一辊筒设置于所述o型支撑架的两侧,所述第一辊筒的上切面与每组位移传感器的测量行程中心处于同一水平面,以支撑所述被测物体,所述标定单元还包括...

【专利技术属性】
技术研发人员:叶超李军连军
申请(专利权)人:常州奥瑞克精密测量系统有限公司
类型:发明
国别省市:

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