一种新型片材平面视觉检测和厚度检测系统技术方案

本发明专利技术提供了一种新型片材平面视觉检测和厚度检测系统及其系统，包括：支撑框架平台；配置与支撑框架平台一侧表面的多个导向辊，用于料带移动；厚度检测机构，安装于支撑框架平台上，与导向辊同侧表面设置；厚度检测机构中的两个距离传感设备分别配置于料带的两侧表面，以检测料带表面涂布材料的厚度；表面检测机构，安装于支撑框架平台上，与导向辊同侧表面设置；表面检测机构中包括成像设备和光源设备，配置于料带表面，以检测料带表面涂布材料的表面质量。有效解决现有光学激光测厚仪与光学成像设备独立设置、互不通讯，整体产线较长等技术问题。等技术问题。等技术问题。

【技术实现步骤摘要】
一种新型片材平面视觉检测和厚度检测系统


[0001]本专利技术涉及检测
，尤其涉及一种新型片材平面视觉检测和厚度检测系统。

技术介绍

[0002]片材平面视觉检测仪和厚度检测仪是无辐射危害、高精度的板/带/箔材料生产线自动厚度测量和表面质量监控的仪器，其中，激光在线测厚技术建立在上世纪末兴起的光电CCD/CMOS芯片元件测量技术的基础上，实现了材料厚度测微精度跨越式的提升；无辐射危害的光学测量方法替代传统工业中有危害射线类测厚仪，因此在环境安全和测量精度两方面基础性意义卓著。可以实现材料厚度检测，在整体产线中校验OK\NG和标识不良，生产过程中将对测量系统前段的辊压机进行制成参数修正、以及测量系统后端不良区域进行协助标识，此套光学测量系统在板/带/箔材料生产过程中对产品质量进行精准把控以实现闭环调整等。
[0003]但是，目前的产线测量技术存在以下缺陷和不足：1)光学激光测厚仪与光学成像设备分别独立、互不通讯；2)实际产线中，两套设备距离较远，整体产线较长，占地面积较大；3)供应商设备与厂商技术员调试繁琐，且设备与设备之间无通讯需本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种新型片材平面视觉检测和厚度检测系统，其特征在于，用于检测料带表面涂布材料的厚度及表面质量，所述系统包括：支撑框架平台；配置与所述支撑框架平台一侧表面的多个导向辊，用于料带移动；厚度检测机构，安装于所述支撑框架平台上，与导向辊同侧表面设置；所述厚度检测机构中的两个距离传感设备分别配置于料带的两侧表面，以检测料带表面涂布材料的厚度；表面检测机构，安装于所述支撑框架平台上，与导向辊同侧表面设置；所述表面检测机构中包括成像设备和光源设备，配置于料带表面，以检测料带表面涂布材料的表面质量。2.如权利要求1所述的新型片材平面视觉检测和厚度检测系统，其特征在于，所述厚度检测机构中的两个距离传感设备的探测方向垂直于表面涂布材料的方向设置。3.如权利要求2所述的新型片材平面视觉检测和厚度检测系统，其特征在于，所述支撑框架平台包括第一支撑部和第二支撑部，其中，所述第一支撑部上固定有第一导向辊，第二支撑部上固定有第二导向辊，所述第一导向辊和第二导向辊于同一水平面上设置，带动料带在第一导向辊和第二导向辊之间沿水平方向移动；所述第一支撑部和第二支撑部中间还配置有第三支撑部，所述第三支撑部的纵向方向上配置有第一距离传感设备和...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁伟，叶超，李军，
申请(专利权)人：常州奥瑞克精密测量系统有限公司，
类型：发明
国别省市：