【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片测试，具体为一种芯片测试装置。
技术介绍
1、芯片(chip)在制备完成后，通常会根据客户的不同需要制备出具有不同封装结构(package)的芯片。封装结构会考虑到芯片的尺寸、电源的分配、可应用性以及成本。不同的封装结构使芯片最终的结构也不同。在芯片封装完成之后，通常会对芯片进行相应的性能测试。
2、现有技术中，在对芯片进行检测前，需要工人对芯片的触点进行擦拭，将芯片触点的灰尘擦除，以减小灰尘会对测试造成影响，保证测试的精确度，工人需要对每个芯片进行擦拭，工人的劳动强度较高。
3、本技术的目的在于提供一种芯片测试装置，以解决上述
技术介绍
中提到的问题。
技术实现思路
1、为实现上述目的，本技术提供一种芯片测试装置，包括底座，所述底座上端中心位置设有固定台，所述固定台的中间设置有放置腔，所述放置腔的内部设置有固定结构，所述底座上端环绕对称设有四个支撑柱，四个所述支撑柱上端设有顶板，所述顶板下端设有第一电动伸缩杆，所述第一电动伸缩杆输出轴下端设有升降板，所述升降板的下表面设置有检测板，前侧两个支撑柱之间设有第一安装壳体，后侧两个支撑柱之间设有第二安装壳体，所述第一安装壳体内设有螺杆，所述螺杆的一端与电机的输出轴相连，所述第二安装壳体内设有导向杆，所述螺杆外壁螺纹连接螺套，所述导向杆外壁滑动安装导向套，所述第一安装壳体和第二安装壳体相互靠近的一端分别贯穿设有滑槽，所述螺套和导向套靠近滑槽的一端分别设有连接块，两个所述连接块贯穿滑槽分别连接安装块，两个所
2、优选的，所述放置腔深度与芯片厚度相等。
3、优选的，所述粘尘滚筒下端与放置腔上端面在同一水平线上。
4、优选的，所述固定结构包括的两个第二电动伸缩杆和两个夹板，所述放置腔内的左右两侧壁分别固定安装有第二电动伸缩杆，两个所述第二电动伸缩杆输出轴相互靠近的一端分别设有夹板。
5、优选的，所述螺杆远离电机的一端与第一安装壳体内壁转动连接。
6、优选的，所述检测板正好位于放置腔正上方。
7、优选的，所述放置腔前后两端分别贯穿设有通槽。
8、优选的，所述顶板下端左右对称分别设有导向柱，所述顶板上左右对称分别贯穿设有导向孔，两个所述导向孔内壁分别滑动安装在导向柱外壁。
9、与现有技术相比，本技术的有益效果为：
10、本技术通过电机使螺杆转动，通过螺杆转动使螺套带动粘尘滚筒进行横向移动，从而使粘尘滚筒上的粘尘纸在待测芯片上端进行移动，粘尘滚筒上的粘尘纸将待测芯片触点上的灰尘粘在粘尘纸上，使得可以快速的对待测芯片进行除尘，保证了测量的精确度，降低了工人的劳动强度。
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1.一种芯片测试装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)上端中心位置设有固定台(2)，所述固定台(2)的中间设置有放置腔(3)，所述放置腔(3)的内部设置有固定结构(4)，所述底座(1)上端环绕对称设有四个支撑柱(5)，四个所述支撑柱(5)上端设有顶板(6)，所述顶板(6)下端设有第一电动伸缩杆(7)，所述第一电动伸缩杆(7)输出轴下端设有升降板(8)，所述升降板(8)的下表面设置有检测板(9)，前侧两个支撑柱(5)之间设有第一安装壳体(10)，后侧两个支撑柱(5)之间设有第二安装壳体(11)，所述第一安装壳体(10)内设有螺杆(12)，所述螺杆(12)的一端与电机(13)的输出轴相连，所述第二安装壳体(11)内设有导向杆(14)，所述螺杆(12)外壁螺纹连接螺套(15)，所述导向杆(14)外壁滑动安装导向套(16)，所述第一安装壳体(10)和第二安装壳体(11)相互靠近的一端分别贯穿设有滑槽(17)，所述螺套(15)和导向套(16)靠近滑槽(17)的一端分别设有连接块(18)，两个所述连接块(18)贯穿滑槽(17)分别连接安装块(19)，两个所述安装块(19)之间转动连
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述放置腔(3)深度与芯片厚度相等。
3.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述粘尘滚筒(21)下端与放置腔(3)上端面在同一水平线上。
4.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述固定结构(4)包括的两个第二电动伸缩杆(41)和两个夹板(42)，所述放置腔(3)内的左右两侧壁分别固定安装有第二电动伸缩杆(41)，两个所述第二电动伸缩杆(41)输出轴相互靠近的一端分别设有夹板(42)。
5.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述螺杆(12)远离电机(13)的一端与第一安装壳体(10)内壁转动连接。
6.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述检测板(9)正好位于放置腔(3)正上方。
7.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述放置腔(3)前后两端分别贯穿设有通槽(22)。
8.根据权利要求1所述的一种芯片测试装置，其特征在于：所述顶板(6)下端左右对称分别设有导向柱(23)，所述顶板(6)上左右对称分别贯穿设有导向孔(24)，两个所述导向孔(24)内壁分别滑动安装在导向柱(23)外壁。
...【技术特征摘要】
1.一种芯片测试装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)上端中心位置设有固定台(2)，所述固定台(2)的中间设置有放置腔(3)，所述放置腔(3)的内部设置有固定结构(4)，所述底座(1)上端环绕对称设有四个支撑柱(5)，四个所述支撑柱(5)上端设有顶板(6)，所述顶板(6)下端设有第一电动伸缩杆(7)，所述第一电动伸缩杆(7)输出轴下端设有升降板(8)，所述升降板(8)的下表面设置有检测板(9)，前侧两个支撑柱(5)之间设有第一安装壳体(10)，后侧两个支撑柱(5)之间设有第二安装壳体(11)，所述第一安装壳体(10)内设有螺杆(12)，所述螺杆(12)的一端与电机(13)的输出轴相连，所述第二安装壳体(11)内设有导向杆(14)，所述螺杆(12)外壁螺纹连接螺套(15)，所述导向杆(14)外壁滑动安装导向套(16)，所述第一安装壳体(10)和第二安装壳体(11)相互靠近的一端分别贯穿设有滑槽(17)，所述螺套(15)和导向套(16)靠近滑槽(17)的一端分别设有连接块(18)，两个所述连接块(18)贯穿滑槽(17)分别连接安装块(19)，两个所述安装块(19)之间转动连接转轴(20)，所述转轴(20)的外壁上固定套设有粘尘滚筒(21)。
2.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员：陆明，花苗，
申请(专利权)人：江苏瑞元半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：
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