【技术实现步骤摘要】
本申请涉及集成电路缺陷检测，具体涉及一种集成电路缺陷检测方法及系统。
技术介绍
1、随着科技的发展，对于传感器中集成电路的缺陷检查不仅仅依赖于人工。在同类型集成电路缺陷检测技术中，做好传感器的集成电路的功能分析、表面缺陷分析和内部各设计点的分析是集成电路缺陷检测技术的关键和核心，对集成电路缺陷检测的可行性进行分析十分的重要。
2、目前集成电路缺陷检测的可行性进行分析主要是通过集成电路的表面缺陷和内部缺陷对集成电路缺陷检测的可行性进行分析，很显然这种分析方式存在以下几个问题：
3、1、当前对各传感器内的集成电路的分析主要是通过集成电路的表面缺陷和内部缺陷对集成电路缺陷检测的可行性进行分析，并没有对各传感器进行功能测试并获取各测试数据和各功能数据，进而对各传感器内的集成电路进行分析，从而无法更加准确地了解到当前各传感器内的集成电路的实际情况，同时也无法保障各传感器内的集成电路的可行性分析过程的全面性和真实性，进而无法保障分析结果的参考性和准确性，并且也无法给各传感器内的集成电路缺陷检测技术的更新和升级提供可靠的依据。
4、2本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种集成电路缺陷检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种集成电路缺陷检测方法，其特征在于，所述对各传感器的集成电路进行各功能测试，并采集各传感器的集成电路的各功能测试的功能数据，具体测试和采集过程如下：
3.根据权利要求2所述的一种集成电路缺陷检测方法，其特征在于，所述分析得出各传感器的集成电路的功能评估系数，具体分析过程如下：
4.根据权利要求3所述的一种集成电路缺陷检测方法，其特征在于，所述判断各传感器的集成电路的功能是否出现异常，具体判断过程如下：
5.根据权利要求4所述的一种集成电路缺陷检测...
【技术特征摘要】
1.一种集成电路缺陷检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种集成电路缺陷检测方法，其特征在于，所述对各传感器的集成电路进行各功能测试，并采集各传感器的集成电路的各功能测试的功能数据，具体测试和采集过程如下：
3.根据权利要求2所述的一种集成电路缺陷检测方法，其特征在于，所述分析得出各传感器的集成电路的功能评估系数，具体分析过程如下：
4.根据权利要求3所述的一种集成电路缺陷检测方法，其特征在于，所述判断各传感器的集成电路的功能是否出现异常，具体判断过程如下：
5.根据权利要求4所述的一种集成电路缺陷检测方法，其特征在于，所述分析得出各异常传感...
【专利技术属性】
技术研发人员：尚秋鸽，李永林，孟家琦，王建国，
申请(专利权)人：西安源易通电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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