温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请公开了一种集成电路缺陷检测方法及系统，涉及集成电路缺陷检测技术领域，本申请集成电路缺陷检测方法包括集成电路功能测试、集成电路功能分析、表面缺陷数据获取分析、内部缺陷数据获取分析、缺陷预警，通过对各传感器中的集成电路进行功能测试和分析，...
该专利属于西安源易通电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过西安源易通电子科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。