【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及内存测试领域，特别是涉及一种dram内存颗粒测试系统及方法。
技术介绍
1、内存是计算机的重要组成部分，作为临时数据存储介质存放着计算机正在运行的程序以及所需的数据，可以与中央处理器直接交换数据，dram是最常见的内存，下面以dram内存颗粒为例进行说明。
2、如果内存发生故障，会导致程序不能正常运行甚至宕机。dram内存颗粒是内存的基本单元，若要确保内存的可靠性，需要首先确保dram内存颗粒的可靠性，这就需要对dram内存颗粒进行测试。
3、目前，对于dram内存颗粒测试都是通过专用的测试机台进行，但是这种测试机台的价格非常昂贵，从而导致dram内存颗粒的测试成本过高。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种dram内存颗粒测试系统及方法，无需专用测试机台即可对内存颗粒进行测试，节省了大量成本，且测试过程快捷方便。
2、本专利技术提供了一种dram内存颗粒测试方法，所述方法包括：
3、在测试基板上电且自检程...
【技术保护点】
1.一种DRAM内存颗粒测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的DRAM内存颗粒测试方法，其特征在于，所述内存颗粒具有三个电源电压，所述根据所述第一电压调节指令对电源电压进行先调高再调低，包括：
3.根据权利要求2所述的DRAM内存颗粒测试方法，其特征在于，所述根据所述第一电压调节指令对电源电压进行先调高再调低，还包括：
4.根据权利要求1所述的DRAM内存颗粒测试方法，其特征在于，所述测试基板具有两个内存通道，所述方法还包括：
5.根据权利要求4所述的DRAM内存颗粒测试方法，其特征在于，所述对两...
【技术特征摘要】
1.一种dram内存颗粒测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的dram内存颗粒测试方法，其特征在于，所述内存颗粒具有三个电源电压，所述根据所述第一电压调节指令对电源电压进行先调高再调低，包括：
3.根据权利要求2所述的dram内存颗粒测试方法，其特征在于，所述根据所述第一电压调节指令对电源电压进行先调高再调低，还包括：
4.根据权利要求1所述的dram内存颗粒测试方法，其特征在于，所述测试基板具有两个内存通道，所述方法还包括：
5.根据权利要求4所述的dram内存颗粒测试方法，其特征在于，所述对两个内存通道进行故障定位，并确定最下级的8位故障位，包括：
6.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员：劳春路，
申请(专利权)人：深圳市迈迪杰电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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