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本发明涉及内存测试领域，特别是涉及一种DRAM内存颗粒测试系统及方法。包括以下步骤：在测试基板上电且自检程序通过时，启动测试程序对内存颗粒进行测试；在测试程序未通过时，获取接口模块发出的第一电压调节指令，并根据第一电压调节指令对电源电压进行...
该专利属于深圳市迈迪杰电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市迈迪杰电子科技有限公司授权不得商用。

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