【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及能源管理技术，特别是涉及一种电子半导体厂房能耗异常管理方法。
技术介绍
1、电子半导体厂房在生产过程中对设备运行品质及环境的要求极为严格，大部分工艺长期不间断运行，需配套复杂的系统长期提供动力，保证生产环境的稳定可靠。在这个过程中厂务动力系统会消耗大量的电力、水、冷热量、气体、化学品等多种能源或资源，在日常管理中需应用能源管理体系方法对能源消耗进行节能管理。
2、电子半导体厂房数字化管理快速发展，已摆脱人工抄报重复繁琐的能源数据管理阶段，能够实现各类能源数据的自动收集、存储、统计分析、可视化报表等信息化功能。现有技术常见的能源管理方法主要是采用基于能源类型的分类能耗统计，对单能耗仪表计量或用能分项计量进行能耗分析，通常为统计不同能源类型按建筑、系统或设备划分的用能情况，并统计其各个时段的用能情况，通过各类可视化图表直观了解变化情况判断用能是否正常；同时采用能耗定额分析方法，对单表或分项对象设定用能定额限值做对比，监测对比结果判断当前能耗状态，若超限触发异常报警。根据异常变化或报警信息，指导运维管理人发现用能异常
【技术保护点】
1.一种电子半导体厂房能耗异常管理方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种电子半导体厂房能耗异常管理方法，其特征在于，步骤S1中能源绩效参数测量边界包括组织层面、系统层面和单设备层面；关联变量包括动态变量和静态变量。
3.根据权利要求1所述的一种电子半导体厂房能耗异常管理方法，其特征在于，步骤S2具体为：确定适合纳入综合能源绩效参数制定的关联变量，先建立可直接测量的能源绩效参数，再建立通过模型公式计算获得的综合能源绩效参数；然后，根据系统不同特性及参数类别选定双边或单边的能耗异常管控规则。
4.根据权利要求3所...
【技术特征摘要】
1.一种电子半导体厂房能耗异常管理方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种电子半导体厂房能耗异常管理方法，其特征在于，步骤s1中能源绩效参数测量边界包括组织层面、系统层面和单设备层面；关联变量包括动态变量和静态变量。
3.根据权利要求1所述的一种电子半导体厂房能耗异常管理方法，其特征在于，步骤s2具体为：确定适合纳入综合能源绩效参数制定的关联变量，先建立可直接测量的能源绩效参数，再建立通过模型公式计算获得的综合能源绩效参数；然后，根据系统不同特性及参数类别选定双边或单边的能耗异常管控规则。
4.根据权利要求3所述的一种电子半导体厂房能耗异常管理方法，其特征在于，对于以降低为目标的参数，设定单边上限管控；对于以提高为目标的参数，设定单边下限管控；对于以稳定为目标的参数，设定双...
【专利技术属性】
技术研发人员：高宇，华来珍，田野，顾信革，赵旭东，赵长春，杨子轩，王佚诗，闫齐齐，王彦杰，
申请(专利权)人：中国电子系统工程第二建设有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。