【技术实现步骤摘要】
本申请涉及量子材料领域，具体而言，涉及光谱装置。
技术介绍
1、物质在超快激光的激励下，电子体系瞬间进入非平衡态，经过复杂的相互作用，导致体系出现诸多物理效应，如磁光效应、量子相变、高次谐波辐射等。超快时间分辨技术是研究固体材料中各种相互作用时间演变过程，实现非平衡态相变的重要手段。
2、微区角分辨光谱技术用来测量纳米材料的荧光、拉曼、吸收光谱、动量信息等，可以反映低维量子材料的光电响应、结构相变、量子调控等过程，对低维纳米激光器的制备、基于纳米半导体的量子模拟、新型高速传输的量子材料研制等领域起到重要支撑作用。
3、一般时间分辨光谱探测装置只能测量宏观的固体或液体样品，无法测量像二维材料等微纳米尺寸样品；不具备角分辨能力，难以满足纳米材料、低维量子材料的测试需求。一般的角分辨光谱探测装置只能实现稳态光谱测量，载流子的瞬时响应过程被淹没在漫长的积分信号里面，无法实现瞬态、非平衡态测量。另外，该装置不具备时间分辨和偏振探测能力，且样品仅局限于室温，无法实现低温、变温、磁场和电场环境下测量。
技术实现思路
1、本申请旨在提出一种光谱装置，以解决以上所述的至少一种问题。
2、根据本申请的一方面，提出一种光谱装置，包括：第一光路单元，配置为激发样品到非平衡态；第二光路单元，配置为探测所述样品在非平衡态时发出的反射光谱信号的反射光谱信息；测量单元，配置为测量所述反射光谱信息。
3、根据一些实施例，所述光谱装置还包括激光器单元，配置为将激光脉冲分
4、根据一些实施例，所述第一光路单元中的泵浦光和所述第二光路单元中的探测光存在光程差。
5、根据一些实施例，所述第一光路单元或所述第二光路单元包括延迟子单元，配置为生成所述光程差。
6、根据一些实施例，所述反射光谱信息包括反射光谱时间，所述光谱装置还包括计算机单元，所述计算机单元分别和所述测量单元、所述延迟子单元连接，所述计算机单元配置为联动控制所述测量单元和所述延迟线子单元，以测量所述反射光谱时间。
7、根据一些实施例，所述测量单元包括4f测量子单元，配置为将反射光谱信号从实空间转换到动量空间。
8、根据一些实施例，所述反射光谱信息包括反射光谱能量信息和反射光谱动量信息，所述测量单元还包括电荷耦合器件，配置为收集所述反射光谱能量信息和所述反射光谱动量信息。
9、根据一些实施例，所述反射光谱信息还包括反射光谱空间信息，所述4f测量子单元包括共焦子系统，配置为测量所述反射光谱空间信息。
10、根据一些实施例，所述反射光谱信息包括反射光谱偏振信息，所述测量单元还包括线偏振片子单元，配置为测量所述反射光谱偏振信息。
11、根据一些实施例，所述样品放置于真空环境中，且所述样品的温度可调。
12、根据本申请的一些实施例，所述光谱装置可以实现样品瞬态或非平衡态的时间、能量和动量信息，可用于研究低维半导体中激子和光子瞬态相互作用。
13、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本申请。
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1.一种光谱装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的光谱装置，其特征在于，所述光谱装置还包括激光器单元，配置为将激光脉冲分成泵浦光和探测光，并分别将所述泵浦光发送给所述第一光路单元，将所述探测光发送给所述第二光路单元。
3.根据权利要求2所述的光谱装置，其特征在于，所述第一光路单元中的泵浦光和所述第二光路单元中的探测光存在光程差。
4.根据权利要求3所述的光谱装置，其特征在于，所述第一光路单元或所述第二光路单元包括延迟子单元，配置为生成所述光程差。
5.根据权利要求4所述的光谱装置，其特征在于，所述反射光谱信息包括反射光谱时间，所述光谱装置还包括计算机单元，所述计算机单元分别和所述测量单元、所述延迟子单元连接，所述计算机单元配置为联动控制所述测量单元和所述延迟线子单元，以测量所述反射光谱时间。
6.根据权利要求1所述的光谱装置，其特征在于，所述测量单元包括4F测量子单元，配置为将所述反射光谱信号从实空间转换到动量空间。
7.根据权利要求6所述的光谱装置，其特征在于，所述反射光谱信息包括反射光谱能量信
8.根据权利要求6所述的光谱装置，其特征在于，所述反射光谱信息还包括反射光谱空间信息，所述4F测量子单元包括共焦子系统，配置为测量所述反射光谱空间信息。
9.根据权利要求2所述的光谱装置，其特征在于，所述反射光谱信息包括反射光谱偏振信息，所述测量单元还包括线偏振片子单元，配置为测量所述反射光谱偏振信息。
10.根据权利要求2所述的光谱装置，其特征在于，所述样品放置于真空环境中，且所述样品的温度可调。
...【技术特征摘要】
1.一种光谱装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的光谱装置，其特征在于，所述光谱装置还包括激光器单元，配置为将激光脉冲分成泵浦光和探测光，并分别将所述泵浦光发送给所述第一光路单元，将所述探测光发送给所述第二光路单元。
3.根据权利要求2所述的光谱装置，其特征在于，所述第一光路单元中的泵浦光和所述第二光路单元中的探测光存在光程差。
4.根据权利要求3所述的光谱装置，其特征在于，所述第一光路单元或所述第二光路单元包括延迟子单元，配置为生成所述光程差。
5.根据权利要求4所述的光谱装置，其特征在于，所述反射光谱信息包括反射光谱时间，所述光谱装置还包括计算机单元，所述计算机单元分别和所述测量单元、所述延迟子单元连接，所述计算机单元配置为联动控制所述测量单元和所述延迟线子单元，以测量所述反射光谱时间。
【专利技术属性】
技术研发人员：刘海云，张秀，陈俞忠，熊启华，
申请(专利权)人：北京量子信息科学研究院，
类型：发明
国别省市：
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