【技术实现步骤摘要】
本技术涉及寿命测试，具体是一种寿命测试设备。
技术介绍
1、半导体器件是导电性介于良导电体与绝缘体之间，利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件，可用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量转换，半导体器件的半导体材料是硅、锗或砷化镓，可用作整流器、振荡器、发光器、放大器、测光器等器材，为了与集成电路相区别，有时也称为分立器件。绝大部分二端器件(即晶体二极管)的基本结构是一个pn结，在对半导体器件进行使用前需要对其寿命进行测试。
2、为了硅基产品寿命测试验证使用，利用硅光电二极管感应光感电流模拟产品亮度变化，并可通过多通道程控电源同时验证多片产品寿命；如何实现多通道产品的测试，成为我们所要解决的技术问题，为此，我们提出一种寿命测试设备。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种寿命测试设备，以解决现有技术中的问题。
2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种寿命测试设备，包括机壳，所述机壳内设置有测试通道组件，所述机壳位于测试通道组件上方依次安装有数据集系统和工控机；所述测试通道组件由多个单元测试通道组成，每个所述单元测试通道内均设置有多个抽屉式通道。
3、优选的，所述单元测试通道共设置有八个，八个所述单元测试通道通过螺栓等间距固定在机壳上。
4、优选的，每个所述单元测试通道均设置有八个抽屉式通道，八个所述抽屉式通道呈两层四列分布。
5、优选的，所述抽屉式通道包括抽屉、pcb板和压接治具，所述抽屉上固定
6、优选的，所述机壳底端的四个拐角处均安装有滚轮和可调支撑脚。
7、与现有技术相比，本技术的有益效果是：
8、1、测试通道组件由多个单元测试通道组成，每个单元测试通道内均设置有多个抽屉式通道，可同时固定多个产品，对其进行测试；
9、2、抽屉式通道包括抽屉、pcb板和压接治具，抽屉上固定有pcb板，pcb板上方设置有压接治具；可根据不同的产品，旋选择不同的压接治具。
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1.一种寿命测试设备，包括机壳(1)，其特征在于：所述机壳(1)内设置有测试通道组件(4)，所述机壳(1)位于测试通道组件(4)上方依次安装有数据集系统(2)和工控机(3)；
2.根据权利要求1所述的一种寿命测试设备，其特征在于：所述单元测试通道(41)共设置有八个，八个所述单元测试通道(41)通过螺栓等间距固定在机壳(1)上。
3.根据权利要求1或2所述的一种寿命测试设备，其特征在于：每个所述单元测试通道(41)均设置有八个抽屉式通道(42)，八个所述抽屉式通道(42)呈两层四列分布。
4.根据权利要求1所述的一种寿命测试设备，其特征在于：所述抽屉式通道(42)包括抽屉(421)、PCB板(422)和压接治具(423)，所述抽屉(421)上固定有PCB板(422)，PCB板(422)上方设置有压接治具(423)。
5.根据权利要求1所述的一种寿命测试设备，其特征在于：所述机壳(1)底端的四个拐角处均安装有滚轮和可调支撑脚。
【技术特征摘要】
1.一种寿命测试设备，包括机壳(1)，其特征在于：所述机壳(1)内设置有测试通道组件(4)，所述机壳(1)位于测试通道组件(4)上方依次安装有数据集系统(2)和工控机(3)；
2.根据权利要求1所述的一种寿命测试设备，其特征在于：所述单元测试通道(41)共设置有八个，八个所述单元测试通道(41)通过螺栓等间距固定在机壳(1)上。
3.根据权利要求1或2所述的一种寿命测试设备，其特征在于：每个所述单元测试通道(41)...
【专利技术属性】
技术研发人员：尹俊，汪高明，
申请(专利权)人：旭点智能装备苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：
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