本发明专利技术在NDIR的光学式气体传感器装置中，实现小型化、低功耗化、长寿命化。光学式气体传感器装置(100)具备：基板(6)；光源(2)，其安装在基板(6)的平面上，发光面朝向与基板(6)的平面相同的方向，从发光面放射红外线；光学滤波器(3)，其使红外线中的、与检测对象的气体(G)的吸收波长对应的波长的红外线透过并向检测对象的气体(G)射出；受光部(4)，其对经由检测对象的气体(G)入射的红外线进行检测；罩(1)，其以覆盖光源(2)和受光部(4)的方式设置在基板(6)上，且设置为通过了光学滤波器(3)的红外线被其内表面反射，至少反射光的一部分到达受光部(4)；以及气体导入端口(11)，其将检测对象的气体(G)导入罩(1)的内部。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种光学式气体传感器装置。
技术介绍
1、以往，已知有基于非分散红外线吸收方式(ndir：non dispersive infrared)的气体传感器。ndir的气体传感器是利用多个气体吸收各自固有的红外线波长的性质，在向检测对象的气体放射红外线时，检测哪个波长被吸收了多少，从而测量检测对象的气体中的浓度的传感器。
2、例如，已知一种气体传感器，其具备红外线的发光部和受光部、以及配置在发光部和受光部的光路上的反射部，检测位于发光部、反射部和受光部之间的被检测气体的浓度(参照专利文献1)。
3、另外，已知有一种红外线气体分析仪，其具备：红外线光源以及光导电型红外线检测传感器；被供给试样气体的测定单元；封入有惰性气体的基准单元；以及具备特定的气体用的光学滤波器的滤波器旋转式斩波器，将来自红外线光源的红外线经由测定单元的试样气体以及基准单元的惰性气体，通过滤波器旋转式斩波器进行滤波，并通过光导电型红外线检测传感器进行检测，由此检测试样气体的测定对象成分气体浓度(参照专利文献2)。
4、现有技术文献
5、专利文献
6、专利文献1：日本专利第6626281号公报
7、专利文献2：日本特开平8-75642号公报
技术实现思路
1、专利技术所要解决的课题
2、已知一种作为ndir的光学式气体传感器装置的上述以往的气体传感器、红外线气体分析仪的结构，但存在小型化、低功耗化、长寿命化的要求。
>3、本专利技术的课题在于，在ndir的光学式气体传感器装置中，实现小型化、低功耗化、长寿命化。4、用于解决课题的方案
5、为了解决上述课题，本专利技术的光学式气体传感器装置，具备：
6、基板；
7、光源，其安装在所述基板的平面上，且发光面朝向与所述基板的所述平面相同的方向，并从所述发光面放射红外线；
8、滤波器，其使所述红外线中的与检测对象的气体的吸收波长对应的波长的红外线透过并向该检测对象的气体射出；
9、受光部，其检测经由所述检测对象的气体入射的红外线；
10、罩，其以覆盖所述光源和所述受光部的方式设置在所述基板上，且设置为通过了所述滤波器的所述红外线被该罩的内表面反射，至少反射光的一部分到达所述受光部；以及
11、气体导入部，其将所述检测对象的气体导入至所述罩的内部。
12、专利技术效果
13、根据本专利技术，能够在ndir的光学式气体传感器装置中，实现小型化、低功耗化、长寿命化。
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【技术保护点】
1.一种光学式气体传感器装置，其特征在于，具备：
2.根据权利要求1所述的光学式气体传感器装置，其特征在于，
3.根据权利要求1或2所述的光学式气体传感器装置，其特征在于，
4.根据权利要求3所述的光学式气体传感器装置，其特征在于，
5.根据权利要求1至4中任一项所述的光学式气体传感器装置，其特征在于，
6.根据权利要求1至5中任一项所述的光学式气体传感器装置，其特征在于，
7.根据权利要求1至6中任一项所述的光学式气体传感器装置，其特征在于，
8.根据权利要求1至7中任一项所述的光学式气体传感器装置，其特征在于，
9.根据权利要求1至8中任一项所述的光学式气体传感器装置，其特征在于，
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种光学式气体传感器装置，其特征在于，具备：
2.根据权利要求1所述的光学式气体传感器装置，其特征在于，
3.根据权利要求1或2所述的光学式气体传感器装置，其特征在于，
4.根据权利要求3所述的光学式气体传感器装置，其特征在于，
5.根据权利要求1至4中任一项所述的光学式气体传感器装置，其特...
【专利技术属性】
技术研发人员：中村明，
申请(专利权)人：三美电机株式会社，
类型：发明
国别省市：
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