【技术实现步骤摘要】
本技术涉及微处理器测试，具体涉及一种测试mcu上下电的设备。
技术介绍
1、在mcu应用中，如果mcu前端供电系统中有超级电容，当移除外部供电后，由于后端负载的存在，超级电容的电压会随着时间逐渐降低，当降低一定的电压后，再重新上电，此时mcu可能无法正常工作。这种情况的发生将导致产品产生重大缺陷，流落到客户端的产品也可能会面临众多客诉风险。
2、目前可以通过数字电源编程的方式来实现，并通过示波器进行检测，然后查看mcu是否能够正常启动。虽然该方案实现了mcu上下电测试，但需要使用可以编程的数字电源和示波器，对测试仪器要求较高，且操作复杂，不适合多个mcu的自动测试。
技术实现思路
1、本技术主要是为了解决现有的mcu上下电测试技术对测试仪器要求高且操作复杂的问题，提供了一种测试mcu上下电的设备，对被测mcu进行上下电情况模拟测试，验证被测mcu经过掉电再上电后是否会引起不良现象，本装置简单高效，可以快速对mcu进行上下电验证，完全自动化测试，无需人工参与，大大缩短mcu的排查测试时间以及人员人力的支出。
2、为了实现上述目的，本技术采用以下技术方案。
3、一种测试mcu上下电的设备，包括设备mcu，所述设备mcu连接有输入单元、输出单元和电源模拟单元，所述电源模拟单元包括第一电源模拟模块和第二电源模拟模块，所述第一电源模拟模块和所述第二电源模拟模块分别连接切换开关后与被测mcu连接，所述被测mcu通过io口与所述设备mcu连接。本技术提供了一种
4、作为优选，所述第一电源模拟模块包括设备mcu的dac模拟输出和电压跟随电路，所述设备mcu的dac模拟输出连接至所述电压跟随电路的输入端，电压跟随电路的输出端连接至所述切换开关的第一输入端。本技术电源模拟单元采用两种模拟方案，其中一种是电压跟随模拟，采用mcu dac模拟输出加电压跟随电路对被测mcu进行上下电情况模拟。
5、作为优选，所述第二电源模拟模块包括继电器和超级电容，所述继电器的第一输入端通过io口与所述设备mcu连接，所述超级电容的输出端连接至继电器的第二输入端，继电器的输出端连接至所述切换开关的第二输入端。本技术电源模拟单元采用两种模拟方案，其中一种是超级电容模拟，采用继电器加超级电容对被测mcu进行上下电情况模拟。
6、作为优选，所述切换开关的输出端连接至所述被测mcu的输入端。
7、作为优选，所述切换开关为跳线帽，通过所述跳线帽切换使用第一电源模拟模块或第二电源模拟模块。本技术电源模拟单元使用两种模拟方案，使用时可通过切换开关/跳线帽进行切换。
8、作为优选，所述被测mcu的输出端通过io口向所述设备mcu提供反馈信号，以指示被测mcu是否正常启动，实现被测mcu上下电自动化测试，简单高效，无需人工参与，大大缩短mcu的排查测试时间以及人员人力的支出。
9、作为优选，所述被测mcu的电源通过所述电源模拟单元提供。
10、作为优选，所述输入单元为按键，通过按键操作进行功能切换，具体包括本设备启动/关闭切换和两种模拟方案切换。
11、作为优选，所述输出单元包括lcd显示模块和led状态指示模块。
12、作为优选，所述设备mcu通过usb转串口外接上位机。
13、因此，本技术的优点是：
14、（1）本装置简单高效，可以快速对mcu进行上下电验证，完全自动化测试，无需人工参与，大大缩短mcu的排查测试时间以及人员人力的支出；
15、（2）无需使用可以编程的数字电源和示波器，对测试仪器要求低，且操作简单，适合多个mcu自动测试，解决了现有技术对测试仪器要求高、操作复杂、不适合多个mcu自动测试的问题。
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1.一种测试MCU上下电的设备，其特征在于，包括设备MCU，所述设备MCU连接有输入单元、输出单元和电源模拟单元，所述电源模拟单元包括第一电源模拟模块和第二电源模拟模块，所述第一电源模拟模块和所述第二电源模拟模块分别连接切换开关后与被测MCU连接，所述被测MCU通过IO口与所述设备MCU连接。
2.根据权利要求1所述的一种测试MCU上下电的设备，其特征在于，所述第一电源模拟模块包括设备MCU的DAC模拟输出和电压跟随电路，所述设备MCU的DAC模拟输出连接至所述电压跟随电路的输入端，电压跟随电路的输出端连接至所述切换开关的第一输入端。
3.根据权利要求1所述的一种测试MCU上下电的设备，其特征在于，所述第二电源模拟模块包括继电器和超级电容，所述继电器的第一输入端通过IO口与所述设备MCU连接，所述超级电容的输出端连接至继电器的第二输入端，继电器的输出端连接至所述切换开关的第二输入端。
4.根据权利要求1所述的一种测试MCU上下电的设备，其特征在于，所述切换开关的输出端连接至所述被测MCU的输入端。
5.根据权利要求1或4所述的一种测
6.根据权利要求1或4所述的一种测试MCU上下电的设备，其特征在于，所述被测MCU的输出端通过IO口向所述设备MCU提供反馈信号，以指示被测MCU是否正常启动。
7.根据权利要求1所述的一种测试MCU上下电的设备，其特征在于，所述被测MCU的电源通过所述电源模拟单元提供。
8.根据权利要求1所述的一种测试MCU上下电的设备，其特征在于，所述输入单元为按键，通过按键操作进行功能切换。
9.根据权利要求1或8所述的一种测试MCU上下电的设备，其特征在于，所述输出单元包括LCD显示模块和LED状态指示模块。
10.根据权利要求1或2或3或4所述的一种测试MCU上下电的设备，其特征在于，所述设备MCU通过USB转串口外接上位机。
...【技术特征摘要】
1.一种测试mcu上下电的设备，其特征在于，包括设备mcu，所述设备mcu连接有输入单元、输出单元和电源模拟单元，所述电源模拟单元包括第一电源模拟模块和第二电源模拟模块，所述第一电源模拟模块和所述第二电源模拟模块分别连接切换开关后与被测mcu连接，所述被测mcu通过io口与所述设备mcu连接。
2.根据权利要求1所述的一种测试mcu上下电的设备，其特征在于，所述第一电源模拟模块包括设备mcu的dac模拟输出和电压跟随电路，所述设备mcu的dac模拟输出连接至所述电压跟随电路的输入端，电压跟随电路的输出端连接至所述切换开关的第一输入端。
3.根据权利要求1所述的一种测试mcu上下电的设备，其特征在于，所述第二电源模拟模块包括继电器和超级电容，所述继电器的第一输入端通过io口与所述设备mcu连接，所述超级电容的输出端连接至继电器的第二输入端，继电器的输出端连接至所述切换开关的第二输入端。
4.根据权利要求1所述的一种测试mcu上下电的设备，其特征在于，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：丁剑林，陈叶，王时淼，邱飚，叶飞，
申请(专利权)人：浙江先芯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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