【技术实现步骤摘要】
本技术涉及检测装置，具体为一种双探针芯片测试装置。
技术介绍
1、在芯片完成焊接后，需要对其进行电压和电流测试，现有常见的操作是人工将芯片取放到测试平台上，定位固定后，开启测试设备，两个手分别手持测试探针接触到芯片上的两个测试点进行测试，测试完成后，需先将探针放置复位，再将芯片取走，准备下一个芯片的测试，整个过程，操作人员需要频繁在芯片取放和探针取放之间切换，劳动强度大，探针需依靠人手来控制接触点，容易出现接触位置偏差等问题，影响测试效率。
技术实现思路
1、为了解决现有测试效率低，操作人员劳动强度大的问题，本技术提供了一种双探针芯片测试装置，其能够快速完成芯片测试，提高效率，降低劳动强度。
2、其技术方案是这样的：一种双探针芯片测试装置，其包括测试平台和测试设备，其特征在于，所述测试平台上设置有定位块和竖向布置的无杆气缸，所述定位块两侧分别设置有真空吸附口，所述无杆气缸上安装有可升降的测试盒，所述测试盒的左侧内壁上安装有固定块、右侧内壁上设置有活动块，所述活动块连接所述测试盒...
【技术保护点】
1.一种双探针芯片测试装置，其包括测试平台和测试设备，其特征在于，所述测试平台上设置有定位块和竖向布置的无杆气缸，所述定位块两侧分别设置有真空吸附口，所述无杆气缸上安装有可升降的测试盒，所述测试盒的左侧内壁上安装有固定块、右侧内壁上设置有活动块，所述活动块连接所述测试盒内壁的测试气缸，所述固定块上插装有第一探针，所述活动块上插装有第二探针，所述第一探针和所述第二探针分别通过导线连接所述测试盒顶部的转接头，所述转接头与所述测试设备电控连接。
2.根据权利要求1所述的一种双探针芯片测试装置，其特征在于，所述测试盒底部开口，所述测试平台上开设有位置对应所述测试盒...
【技术特征摘要】
1.一种双探针芯片测试装置，其包括测试平台和测试设备，其特征在于，所述测试平台上设置有定位块和竖向布置的无杆气缸，所述定位块两侧分别设置有真空吸附口，所述无杆气缸上安装有可升降的测试盒，所述测试盒的左侧内壁上安装有固定块、右侧内壁上设置有活动块，所述活动块连接所述测试盒内壁的测试气缸，所述固定块上插装有第一探针，所述活动块上插装有第二探针，所述第一探针和所述第二探针分别通过导线连接所述测试盒顶部...
【专利技术属性】
技术研发人员：韦国民，吴达，
申请(专利权)人：纽威仕微电子无锡有限公司，
类型：新型
国别省市：
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