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本技术涉及检测装置技术领域，具体为一种双探针芯片测试装置，其能够快速完成芯片测试，提高效率，降低劳动强度，其包括测试平台和测试设备，所述测试平台上设置有定位块和竖向布置的无杆气缸，所述定位块两侧分别设置有真空吸附口，所述无杆气缸上安装有可升...
该专利属于纽威仕微电子（无锡）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过纽威仕微电子（无锡）有限公司授权不得商用。

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