铜箔取样装置制造方法及图纸

技术编号:41014671 阅读:38 留言:0更新日期:2024-04-18 21:57
本申请涉及铜箔制造技术领域,提供了一种铜箔取样装置,包括卷绕机构和检测机构;卷绕机构能够在外力作用下绕自身轴线转动;卷绕机构构造有用于卷收铜箔的卷绕面;检测机构能够发出与卷绕机构轴线平行或趋于平行的检测光线。该铜箔取样装置利用检测机构发出的检测光线作为基准,如果铜箔在卷绕的过程中出现褶皱,铜箔与检测光线之间的间距会发生变化,从而即可提醒操作人员需要调整铜箔卷绕,以满足铜箔的平整卷绕,对后续铜箔的测试性能起到保障。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及铜箔制造,特别是涉及一种铜箔取样装置


技术介绍

1、在铜箔制造过程中,需要将电解铜箔卷绕收纳,且需要对其进行性能测试。相关技术中,从铜箔母卷(即卷绕收纳后的电解铜箔)取样并人工收卷至圆辊上。由于人工取样收卷的不可控性,很容易在缠绕过程中致使铜箔倾斜发生褶皱,从而影响测试性能。


技术实现思路

1、基于此,有必要提供一种铜箔取样装置,在对铜箔取样过程中能够确保铜箔不会轻易发生倾斜而出现褶皱,从而提高对铜箔的测试性能。

2、一种铜箔取样装置,包括卷绕机构和检测机构;所述卷绕机构能够在外力作用下绕自身轴线转动;所述卷绕机构构造有用于卷收铜箔的卷绕面;所述检测机构能够发出与所述卷绕机构轴线平行或趋于平行的检测光线。

3、上述的铜箔取样装置,铜箔的一端相对卷绕机构固定,而后通过驱动卷绕机构转动,以将从铜箔母卷上取样并缠绕至卷绕机构的卷绕面上。在这个取样过程中,利用检测机构发出的检测光线作为基准,如果铜箔在卷绕的过程中出现褶皱,铜箔与检测光线之间的间距会发生变化,甚至会影响到检测光线的分本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种铜箔取样装置,其特征在于,所述铜箔取样装置(100)包括:

2.根据权利要求1所述的铜箔取样装置,其特征在于,所述检测机构(30)具有用于发出所述检测光线的出光孔;

3.根据权利要求2所述的铜箔取样装置,其特征在于,沿所述卷绕机构(20)的径向,所述出光孔的轴线与所述卷绕面(201)之间具有收卷间隙,所述收卷间隙的尺寸在2mm-4mm之间。

4.根据权利要求1所述的铜箔取样装置,其特征在于,所述卷绕机构(20)构造有贯穿至所述卷绕面(201)的固定间隙(202),且所述固定间隙(202)沿所述卷绕机构(20)的轴向延伸。p>

5.根据权...

【技术特征摘要】

1.一种铜箔取样装置,其特征在于,所述铜箔取样装置(100)包括:

2.根据权利要求1所述的铜箔取样装置,其特征在于,所述检测机构(30)具有用于发出所述检测光线的出光孔;

3.根据权利要求2所述的铜箔取样装置,其特征在于,沿所述卷绕机构(20)的径向,所述出光孔的轴线与所述卷绕面(201)之间具有收卷间隙,所述收卷间隙的尺寸在2mm-4mm之间。

4.根据权利要求1所述的铜箔取样装置,其特征在于,所述卷绕机构(20)构造有贯穿至所述卷绕面(201)的固定间隙(202),且所述固定间隙(202)沿所述卷绕机构(20)的轴向延伸。

5.根据权利要求4所述的铜箔取样装置,其特征在于,所述卷绕机构(20)包括固定夹(25)和卷筒(21);

6.根据权利要求5所述的铜箔取样装置,其特征在于,所述卷绕机构(20)还包括传感器,所述传感器安装于所述卷筒(21),所述传感器用于检测所述固定间隙(202)内的铜箔;

7.根据权利要求5所述的铜箔取样装置,其特征在于,所述卷绕机构(20)还包括磁吸组件(22);

8.根据权利要求7所述的铜箔取样装置,其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员:李艳杨欢朱各桂杨文达岳彭飞
申请(专利权)人:甘肃海亮新能源材料有限公司
类型:新型
国别省市:

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