【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本技术涉及摄像元件、摄像装置和制造方法,并且更具体地,涉及例如能够在制造期间抑制埋入不良的发生的摄像元件、摄像装置和制造法。
技术介绍
1、摄像元件需要小型化且多像素化。因此,像素的微细化不断取得进展。然而,当伴随着像素的微细化而导致灵敏度降低时,就要求通过补偿因开口率(aperture ratio)的缩小而引起的灵敏度降低,以此提高灵敏度。为了提高摄像元件中的各像素的灵敏度,提出了一种在形成于各像素之间的沟槽的侧壁上形成p型扩散层和n型扩散层以产生强电场区域且保持电荷的技术。
2、专利文献1提出了一种用于防止电荷钉扎的减弱、白点的出现和暗电流的产生的结构。
3、[引用文献列表]
4、[专利文献]
5、[专利文献1]:日本专利特开第2018-148116号
技术实现思路
1、[要解决的技术问题]
2、由于摄像元件的微细化不断取得进展,形成于各像素之间的沟槽本身也被微细化。随着沟槽的微细化,沟槽的线宽(开口部:opening)变得更
...【技术保护点】
1.摄像元件,包括:
2.根据权利要求1所述的摄像元件,其中,
3.根据权利要求1所述的摄像元件,其中,
4.根据权利要求1所述的摄像元件,其中,
5.根据权利要求1所述的摄像元件,其中,
6.摄像装置,包括:
7.用于制造摄像元件的制造方法,
8.根据权利要求7所述的制造方法,其中,
9.根据权利要求7所述的制造方法,其中,
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.摄像元件,包括:
2.根据权利要求1所述的摄像元件,其中,
3.根据权利要求1所述的摄像元件,其中,
4.根据权利要求1所述的摄像元件,其中,
5.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员:深谷天,藤井宣年,斋藤卓,
申请(专利权)人:索尼半导体解决方案公司,
类型:发明
国别省市:
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